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公开(公告)号:CN114880719A
公开(公告)日:2022-08-09
申请号:CN202210375745.0
申请日:2022-04-11
Applicant: 华中科技大学 , 北京智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本申请提供一种基于FPGA的安全检测传感器系统,包括PLL锁相环和延时链电路,所述PLL锁相环与所述延时链电路连接,所述PLL锁相环用于为所述延时链电路提供基础工作时钟CLK_IN;所述延时链电路用于将工作时钟CLK_IN传播至下一级单元,并检查工作时钟CLK_IN在传播过程中是否存在安全隐患,如果提前或者延后出现了时钟违例,则说明存在安全隐患。本申请能检测芯片工作环境温度,对电路进行安全检测,同时整个系统基于FPGA中的数字基本单元设计,便于工艺移植,并且电路规模小,成本较低。
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公开(公告)号:CN114880719B
公开(公告)日:2024-10-29
申请号:CN202210375745.0
申请日:2022-04-11
Applicant: 华中科技大学 , 北京智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本申请提供一种基于FPGA的安全检测传感器系统,包括PLL锁相环和延时链电路,所述PLL锁相环与所述延时链电路连接,所述PLL锁相环用于为所述延时链电路提供基础工作时钟CLK_IN;所述延时链电路用于将工作时钟CLK_IN传播至下一级单元,并检查工作时钟CLK_IN在传播过程中是否存在安全隐患,如果提前或者延后出现了时钟违例,则说明存在安全隐患。本申请能检测芯片工作环境温度,对电路进行安全检测,同时整个系统基于FPGA中的数字基本单元设计,便于工艺移植,并且电路规模小,成本较低。
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公开(公告)号:CN114491519B
公开(公告)日:2022-06-21
申请号:CN202210337125.8
申请日:2022-04-01
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 华中科技大学
Abstract: 本发明实施例提供一种检测信号的电路、方法及芯片,所述电路至少包括:延时单元及输出单元;所述延时单元包括第一链路和第二链路,所述第一链路的延时大于第二链路的延时,所述第一链路用于在待测信号经过时输出状态信号,所述第二链路用于在所述待测信号经过时输出采样脉冲;所述输出单元用于通过所述采样脉冲对所述状态信号进行采样得到采样信号。所述检测信号的电路成本低,无需时钟,能有效的感知外界环境变化,保证采集信号稳定有效。
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公开(公告)号:CN115130151B
公开(公告)日:2024-10-29
申请号:CN202210630871.6
申请日:2022-06-06
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种安全检测电路以及安全检测方法,安全检测电路包括:延时链,接收时钟信号,并基于所述时钟信号的上升沿信号输出延时信号,所述延时信号的总延时表征环境状态;输出单元,连接所述延时链,所述输出单元基于采样信号将所述延时信号进行锁存,并输出状态值;其中,所述状态值表征是否产生报警信号,所述采样信号基于所述时钟信号的下降沿产生。该安全检测电路能综合外界环境对需要保护的目标电路带来的影响,在输出状态值小于阈值时可对外界输出报警信号。
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公开(公告)号:CN115130151A
公开(公告)日:2022-09-30
申请号:CN202210630871.6
申请日:2022-06-06
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种安全检测电路以及安全检测方法,安全检测电路包括:延时链,接收时钟信号,并基于所述时钟信号的上升沿信号输出延时信号,所述延时信号的总延时表征环境状态;输出单元,连接所述延时链,所述输出单元基于采样信号将所述延时信号进行锁存,并输出状态值;其中,所述状态值表征是否产生报警信号,所述采样信号基于所述时钟信号的下降沿产生。该安全检测电路能综合外界环境对需要保护的目标电路带来的影响,在输出状态值小于阈值时可对外界输出报警信号。
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公开(公告)号:CN114491519A
公开(公告)日:2022-05-13
申请号:CN202210337125.8
申请日:2022-04-01
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 华中科技大学
Abstract: 本发明实施例提供一种检测信号的电路、方法及芯片,所述电路至少包括:延时单元及输出单元;所述延时单元包括第一链路和第二链路,所述第一链路的延时大于第二链路的延时,所述第一链路用于在待测信号经过时输出状态信号,所述第二链路用于在所述待测信号经过时输出采样脉冲;所述输出单元用于通过所述采样脉冲对所述状态信号进行采样得到采样信号。所述检测信号的电路成本低,无需时钟,能有效的感知外界环境变化,保证采集信号稳定有效。
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