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公开(公告)号:CN108807692B
公开(公告)日:2019-12-20
申请号:CN201810557570.9
申请日:2018-06-01
Applicant: 华中科技大学 , 深圳华中科技大学研究院
Abstract: 本发明公开了一种抑制钙钛矿探测器暗电流的方法,该方法是通过向钙钛矿材料中掺杂痕量的高价阳离子,该高价阳离子的价态高于钙钛矿ABX3结构中的B位元素的价态,这些高价阳离子与钙钛矿材料中所含的B位元素两者的原子比不高于10‑5:1,从而降低钙钛矿材料的载流子浓度,并降低以该钙钛矿材料作为活性材料的探测器的暗电流。本发明通过控制掺杂元素的种类,尤其通过对掺杂元素浓度的调控,向钙钛矿活性层材料中掺杂痕量的高价阳离子,能够有效解决现有技术钙钛矿探测器中存在的暗电流高和灵敏度低的问题,并解决灵敏度、工作偏压、稳定性和环境污染等指标不能兼顾的问题,获得高性能、稳定的半导体探测器。
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公开(公告)号:CN108807692A
公开(公告)日:2018-11-13
申请号:CN201810557570.9
申请日:2018-06-01
Applicant: 华中科技大学 , 深圳华中科技大学研究院
Abstract: 本发明公开了一种抑制钙钛矿探测器暗电流的方法,该方法是通过向钙钛矿材料中掺杂痕量的高价阳离子,该高价阳离子的价态高于钙钛矿ABX3结构中的B位元素的价态,这些高价阳离子与钙钛矿材料中所含的B位元素两者的原子比不高于10‑5:1,从而降低钙钛矿材料的载流子浓度,并降低以该钙钛矿材料作为活性材料的探测器的暗电流。本发明通过控制掺杂元素的种类,尤其通过对掺杂元素浓度的调控,向钙钛矿活性层材料中掺杂痕量的高价阳离子,能够有效解决现有技术钙钛矿探测器中存在的暗电流高和灵敏度低的问题,并解决灵敏度、工作偏压、稳定性和环境污染等指标不能兼顾的问题,获得高性能、稳定的半导体探测器。
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公开(公告)号:CN116141086A
公开(公告)日:2023-05-23
申请号:CN202310185936.5
申请日:2023-02-28
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明提供了一种激光诱导石墨化促进金刚石抛光的装置及方法,属于金刚石抛光领域,该装置包括激光器以及从上至下依次设置的传动轴、玻璃、金属抛光盘和旋转载物台,其中:激光器用于发射激光;传动轴中间开孔,该传动轴下方开槽用于固定玻璃;玻璃的下方开槽用于固定金刚石;金属抛光盘固定在旋转载物台的上方,并与金刚石待抛光面以预设压力接触,用于对金刚石进行抛光。本发明利用激光依次穿过玻璃和金刚石后聚焦到金属抛光盘上以对其进行烧蚀,并诱导金刚石待抛光面石墨化,同时利用金属抛光盘的摩擦作用去除石墨化的金刚石以实现抛光,进而使得激光诱导石墨化与摩擦抛光同时进行,有效提高抛光效率,实现金刚石的高效率低损伤超光滑抛光。
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公开(公告)号:CN116121878A
公开(公告)日:2023-05-16
申请号:CN202310163273.7
申请日:2023-02-22
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明属于超精密加工领域,并公开了一种均匀化烧蚀单晶金刚石的方法,方法的具体步骤包括:在清洁后的单晶金刚石表面离子镀特定厚度的金属薄膜;利用纳秒脉冲激光对金属薄膜进行烧蚀,当金属薄膜被完全烧蚀后,继续烧蚀,直至所述单晶金刚石上生成石墨层。本发明能够通过在金刚石表面镀金属薄膜,使用合适能量的纳秒脉冲激光烧蚀单晶金刚石,以在单晶金刚石表面形成均匀的石墨层,从而实现对单晶金刚石的均匀化激光烧蚀。
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公开(公告)号:CN112103396A
公开(公告)日:2020-12-18
申请号:CN202011052262.4
申请日:2020-09-29
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明属于电致发光领域,公开了一种电致蓝光薄膜器件及其制备方法,其发光层材料的组分满足A2(BEuX3)n‑1EuX4,其中,A为长链或含有苯环的有机阳离子或其组合;B为有机阳离子、碱金属离子中的一种或多种离子任意比例的组合;Eu为二价铕离子;X为Cl、Br、I中的一种或多种卤素离子任意比例的组合;n取大于1的任意值。本发明通过对发光层材料及其薄膜制备工艺进行改进,采用含有二价铕离子的有机‑无机杂化结构作为发光层材料,相应得到的p‑n结型电致蓝光薄膜器件,通过施加低场直流电可实现蓝光发射,其蓝光峰位标准(440nm‑470nm),光谱稳定性好,半峰宽窄,辐射效率高;并且,器件结构简单,工艺简便,设备投入低,兼容现有的集成电路工艺,可实现全彩化显示。
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公开(公告)号:CN110044929B
公开(公告)日:2020-05-19
申请号:CN201910329425.X
申请日:2019-04-23
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N21/958 , G01N21/01
Abstract: 本发明公开了一种基于暗场照明的曲面玻璃次表面缺陷检测装置,包括照明模块、图像采集模块和图像处理模块;照明模块包括激光光源、偏振分光镜、第一平面反射镜、第一拦光光阑、第二平面反射镜、第二拦光光阑、45°半透半反镜、扩束镜和第三平面反射镜;图像采集模块包括共主光轴依次设置的显微物镜、聚焦透镜和CCD;图像处理模块与图像采集模块相连;激光入射到偏振分光镜,经过偏振分光镜后得到两束偏振方向相互垂直的偏振光P波和S波,分别对待测件进行两路暗场照明得到包含待测件缺陷的散射光。本发明利用偏振分光镜得到两路照明光,一路照明光用来大致定位缺陷,另一路照明光用来精确定位缺陷,提高了检测装置的对比度,也简化了操作。
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公开(公告)号:CN110044931A
公开(公告)日:2019-07-23
申请号:CN201910330947.1
申请日:2019-04-23
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N21/958 , G01N21/01
Abstract: 本发明公开了一种曲面玻璃表面和内部缺陷的检测装置,属于曲面玻璃缺陷检测领域,其包括LED光源、起偏器、成像镜头和偏振相机,其中,起偏器设置在LED光源出射端,用于将通过自身的LED光起偏为偏振方向可调的线偏振光,工作时,线偏振光自身为平行光束,线偏振光位于待检测曲面玻璃侧面,且线偏振光平行于曲面玻璃的平面部分,偏振相机设置在曲面玻璃平面部分的垂直线上,用于采集从待检测曲面玻璃出射的携带后曲面玻璃缺陷信息的出射光,所述成像镜头设置在偏振相机上,用于与偏振相机协同工作而成像。本发明装置检测精确,效率高,成本低,能同时检测曲面玻璃内部和表面的缺陷。
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公开(公告)号:CN110044927A
公开(公告)日:2019-07-23
申请号:CN201910328209.3
申请日:2019-04-23
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N21/958 , G01N21/01
Abstract: 本发明公开了一种空间编码光场对曲面玻璃表面缺陷的检测方法,包括:根据选择的编码元数目以及第一窗口大小,生成具有窗口特性的一维伪随机序列;采用对角线法构建二维伪随机矩阵M;根据待测样品视场的特征点分布确定M'阵列大小;通过上下拼接以及对角拼接的方法将M阵列转换为M'阵列;通过对各不同编码元对应不同的几何图案,将M'阵列转换为M'阵列编码;将M'阵列编码转换为物体表面的编码图像,实现对曲面玻璃的缺陷检测;本发明通过将矩阵M转换为M'阵列,减少M'阵列行数与列数间的差距,提高了编码图像的分辨率;本发明采用上下拼接和对角拼接的方式,不仅能保证拼接的效率,同时在对待测样品的缺陷识别时准确度有所提高。
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公开(公告)号:CN110033407A
公开(公告)日:2019-07-19
申请号:CN201910248721.7
申请日:2019-03-29
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种盾构隧道表面图像标定方法、拼接方法及拼接系统,属于隧道检测领域。包括:保证每个相机的光轴与隧道表面垂直,每个相机的视场角至少为θ=(α-δ(n-1))/n;在隧道表面的每个视场范围重叠区域贴标定纸,使得每个重叠区域包括若干候选待标定马鞍点;每个相机同时采集一张隧道表面图像;找出同时拍摄到且质量最佳的候选待标定马鞍点,作为相邻相机的待标定马鞍点;计算每张隧道表面图像的每个待标定马鞍点坐标信息。本发明选择视场重叠区域的马鞍点作为标定点,只需拍摄一张高质量的图像,易于操作,且适用于隧道环境。通过扭曲图像和平面图像的映射关系,将隧道的曲平面展开成平面,实现在同一坐标系下的拼接,成本较低,时间短,更符合视觉效果。
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公开(公告)号:CN119057678A
公开(公告)日:2024-12-03
申请号:CN202411403673.1
申请日:2024-10-09
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明属于材料加工技术领域,具体公开了一种紫外线辅助高效抛光金刚石的加工方法,包括:将待抛光金刚石样品相对于可运动的抛光材料表面进行定位;在内部压力值为0.2~1.5torr、具有氧化性气氛且施加紫外光照射的密闭环境中,使待抛光金刚石样品与可运动的抛光材料的表面接触,使抛光材料表面旋转或者同时使待抛光金刚石样品和抛光材料表面旋转,进行抛光。待抛光金刚石样品表面在低压、紫外线、氧化性自由基、机械摩擦等多重作用下,可实现金刚石的高效无损抛光。此外,本发明提供了一种金刚石的抛光装置。
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