一种粗精视场光轴平行性调整方法

    公开(公告)号:CN105630000B

    公开(公告)日:2019-02-26

    申请号:CN201410617423.8

    申请日:2014-11-05

    Abstract: 本发明属于工程测量技术领域,具体涉及一种粗精视场光轴平行性调整方法,目的是解决现有调整方法局限性大的问题。该方法包括安装设备和粗精视场光轴平行性调整两个步骤。本发明采用通过在不同距离处放置靶屏,在屏上承接两光轴目标点,获取目标点的相对位置关系,调整光轴平行性。调整精度估算,若光轴相对位置在50m至97m调整过程中偏离不大于10mm,此时调整误差为100m范围内20mm,则在1km范围内两光轴的偏移量能够控制在200mm,而实验中靶屏接收面积为500mm,能够满足1km距离聚焦瞄准要求。

    一种小型红外目标模拟装置

    公开(公告)号:CN106403713A

    公开(公告)日:2017-02-15

    申请号:CN201510463000.X

    申请日:2015-07-31

    Abstract: 本发明属于红外导引头测试领域,具体涉及一种实现红外目标模拟器小型化,达到模拟特定红外目标的目的小型红外目标模拟装置,包括光学准直系统、电动靶标及黑体,其中,所述光学准直系统包括:镜筒(1)、镜安装组件(2)、镜盖(3)、次镜安装组件(4)、电动靶轮(5)、连接板(6)、离轴抛物面反射镜(7)及平面反射镜(8),所述镜安装组件(2)设于镜筒内部的左侧,镜安装组件(2)的左侧设有镜盖(3),所述离轴抛物面反射镜设于镜安装组件的右侧,次镜安装组件设于镜筒的右侧壁上,平面反射镜安装于次镜安装组件上,镜筒的镜身上设有连接板,平面反射镜上方位于镜筒筒壁外侧设有电动靶轮,电动靶轮的上方设有黑体。

    一种基于椭圆边缘灰度多项式拐点的圆形靶点提取方法

    公开(公告)号:CN115908583A

    公开(公告)日:2023-04-04

    申请号:CN202211429867.X

    申请日:2022-11-15

    Abstract: 本发明公开了一种基于椭圆边缘灰度多项式拐点的圆形靶点提取方法,包括:对待识别图像进行边缘检测和椭圆拟合,得到椭圆A;沿着椭圆A边缘,逐点沿着垂线方向进行采样,得到展平图像;取出每一列像素的灰度值,进行3次多项式拟合,得到灰度多项式;其中,灰度多项式的拐点即为对应列像素的亚像素分界点;将求出的所有列的灰度多项式的拐点映射到椭圆A上,得到椭圆A的亚像素边缘,并基于椭圆A的亚像素边缘重新进行椭圆拟合,得到椭圆B;将椭圆B的中心点作为待识别图像中的圆形靶点输出。本发明旨在实现对圆形靶点的精确定位,使得像素精度优于0.15个像素,从而实现高精度的测量或标定。

    一种经纬仪检定装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108663066A

    公开(公告)日:2018-10-16

    申请号:CN201611084157.2

    申请日:2017-03-30

    Abstract: 一种新型的经纬仪检定装置,包括光源1、目镜测微装置2、分光棱镜3、3m分划板4、小反射镜5、大反射镜6、物镜8,各部件均固定在壳体14上,光源1上端有准直分划板13,光源1的上方为目镜测微装置2,目镜测微装置2上安装分光棱镜3,3m分划板4安装在分光棱镜3的前端,在光源1、目镜测微装置2的右方为小反射镜5和大反射镜6,小反射镜5和大反射镜6平行放置,在壳体14的右侧面中部安装物镜8,而在壳体14右侧面的上部与下部分别安装高平行光管7、低平行光管9;水平通过物镜8的光线为准直光,高平行光管7和准直光、低平行光管9和准直光之间的夹角均固定为18°。

    复合制导系统初始姿态现场校准系统及方法

    公开(公告)号:CN104880200B

    公开(公告)日:2017-12-22

    申请号:CN201410200305.7

    申请日:2014-05-13

    Abstract: 本发明涉及初始姿态角度差计量校准技术领域,具体公开了一种复合制导系统初始姿态现场校准系统及方法。该系统中第一光路系统的准直分划板A经过第一光路系统照射在捷联惯组基准棱体后,反射至线阵CCD器件A上;第二光路系统中的准直分划板B1和准直分划板B2经过第二光路系统照射在捷联惯组基准棱体后,分别反射至线阵CCD器件B1线阵CCD器件B2上;第三光路系统的准直分划板C经过第三光路系统照射在星敏感器基准棱体后,反射至线阵CCD器件C上;第四光路系统的准直分划板D1以及准直分划板D2经过第四光路系统后,分别反射至线阵CCD器件D1和线阵CCD器件D2上。该系统中的光电测角本身测量精度高,四条自准直光路集于一体,结构简单,操作便捷。

    一种粗精视场光轴平行性调整方法

    公开(公告)号:CN105630000A

    公开(公告)日:2016-06-01

    申请号:CN201410617423.8

    申请日:2014-11-05

    Abstract: 本发明属于工程测量技术领域,具体涉及一种粗精视场光轴平行性调整方法,目的是解决现有调整方法局限性大的问题。该方法包括安装设备和粗精视场光轴平行性调整两个步骤。本发明采用通过在不同距离处放置靶屏,在屏上承接两光轴目标点,获取目标点的相对位置关系,调整光轴平行性。调整精度估算,若光轴相对位置在50m至97m调整过程中偏离不大于10mm,此时调整误差为100m范围内20mm,则在1km范围内两光轴的偏移量能够控制在200mm,而实验中靶屏接收面积为500mm,能够满足1km距离聚焦瞄准要求。

    一种自准直光束平行度控制方法

    公开(公告)号:CN109341596A

    公开(公告)日:2019-02-15

    申请号:CN201811249130.3

    申请日:2018-10-25

    Abstract: 本发明涉及一种自准直光束平行度控制方法,应用于光电自准直仪的调试系统中,对光束的平行度进行严格的控制。根据光电自准直仪的口径,做两个圆形遮挡片,一号遮挡片中间开圆孔,二号遮挡片在偏移中心处开一个和一号遮挡片一样大小的圆孔;在调试光电敏感器时,在光管的前面放平面反射镜或反射棱镜,尺寸覆盖光管出口孔径,调节光电敏感器的前后位置,将二号遮挡片套上并将圆孔旋转到光管出口上下左右不同位置时,光电敏感器显示的示数变化在2″以内,将一号遮挡片套在光管上,检查放置一号遮挡片的示数和二号遮挡片示数的变化,控制在1″以内,固定光电敏感器位置,光电敏感器调试完成。本发明可以提高角度测量的精度。

    复合制导系统初始姿态现场校准系统及方法

    公开(公告)号:CN104880200A

    公开(公告)日:2015-09-02

    申请号:CN201410200305.7

    申请日:2014-05-13

    CPC classification number: G01C25/005

    Abstract: 本发明涉及初始姿态角度差计量校准技术领域,具体公开了一种复合制导系统初始姿态现场校准系统及方法。该系统中第一光路系统的准直分划板A经过第一光路系统照射在捷联惯组基准棱体后,反射至线阵CCD器件A上;第二光路系统中的准直分划板B1和准直分划板B2经过第二光路系统照射在捷联惯组基准棱体后,分别反射至线阵CCD器件B1线阵CCD器件B2上;第三光路系统的准直分划板C经过第三光路系统照射在星敏感器基准棱体后,反射至线阵CCD器件C上;第四光路系统的准直分划板D1以及准直分划板D2经过第四光路系统后,分别反射至线阵CCD器件D1和线阵CCD器件D2上。该系统中的光电测角本身测量精度高,四条自准直光路集于一体,结构简单,操作便捷。

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