一种瓦片式分层架构的相控阵天线

    公开(公告)号:CN112271448A

    公开(公告)日:2021-01-26

    申请号:CN202011026820.X

    申请日:2020-09-25

    Abstract: 本发明涉及一种瓦片式分层架构的相控阵天线。该天线采用采用瓦片式分层结构,将多个通道相同功能的芯片或电路集成在数个平行放置的结构层上(相对于阵面,芯片是平铺结构),然后垂直互联。瓦片式相控阵从上至下分依次为射频与辐射层、热控层、馈网层、控制与配电层、结构层。各层之间依据具体的互联需求(例如微波信号互联、控制信号互联、热控互联)选用最适合的垂直连接方式。瓦片式分层架构的相控阵天线可以充分利用天线孔径、大幅度减小天线纵向高度,因而更易于实现轻薄化、低剖面和高密度集成。

    一种CCD器件位移效应试验验证方法

    公开(公告)号:CN107870082A

    公开(公告)日:2018-04-03

    申请号:CN201710892699.0

    申请日:2017-09-27

    CPC classification number: G01M11/00

    Abstract: 本发明提供一种CCD器件位移效应试验验证方法,涉及卫星寿命与可靠性分析技术领域,步骤为:(1)配置试验过程中的测试条件和测试性能指标;(2)根据卫星在轨运行环境信息,确定试验过程中的辐照条件;(3)根据CCD器件在轨成像时的组成结构,确定参试CCD器件的工作模式;(4)当不存在辐照时,获取在步骤(3)确定的工作模式下CCD器件的初始性能测试指标;(5)根据步骤(1)配置的CCD器件工作温度、步骤(2)中确定的辐照条件以及步骤(3)中确定的工作模式进行试验,得到不同辐照剂量下分别对应的测试性能指标;(6)得到位移效应与测试性能指标之间的影响关系。

    一种光学遥感卫星图像定位精度确定方法

    公开(公告)号:CN103954297A

    公开(公告)日:2014-07-30

    申请号:CN201410138676.7

    申请日:2014-04-08

    CPC classification number: G01C25/00

    Abstract: 一种光学遥感卫星图像定位精度确定方法,将图像定位精度影响因素分为时间统一误差、轨道确定误差、姿态确定误差及成像指向误差四大类,根据我国遥感卫星设计及研制现状,对误差项进行由系统到分系统的逐级分解。分解后的各误差项与卫星设计各环节相互对应,从而实现将卫星图像定位精度的各影响因素量化为卫星设计指标。通过对图像定位精度影像因素的分析、指标分解及量化,在卫星设计方案阶段按我国遥感卫星研制现状,给出误差分配、误差影响程度建议及定位精度指标计算方法,完成卫星定位精度的预估,从而指导卫星图像定位精度设计。

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