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公开(公告)号：CN101581556B
公开(公告)日：2012-10-24
申请号：CN200810106438.2
申请日：2008-05-13
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种复合图形靶板的瞄具零位走动数字化测量装置，包括：光源、复合图形靶板、反射镜、主反射镜、卡具、像分析器、计算机、温控模块、机壳。此装置使用光源照明复合图形靶板分别生成多波段复合对准目标，依次通过反射镜、主反射镜后在被测瞄具上成像，通过直接采集由瞄具输出的目标图像，或在瞄具目镜出瞳处经像分析器采集瞄具分划板上的图像，输入计算机后，由测量软件进行数字图像处理，计算测试结果。本发明可用于红外、可见、微光瞄具零位走动的高精度检测，具有精度高、客观性、实时性好的优点。
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公开(公告)号：CN102705782A
公开(公告)日：2012-10-03
申请号：CN201210137124.5
申请日：2012-05-04
IPC: F21V9/10
Abstract: 本发明涉及一种大色域范围的连续调色装置，属于光学精密测量技术领域。包括第一均匀面光源，第二均匀面光源，基色调色系统，补色调色系统和混色器；其中第一均匀面光源包括第一光源和第一小积分球；第二均匀面光源包括第二光源和第二小积分球；混色器由大积分球形成；基色调色系统包括前法兰盘A、基色滤色片底板、三个挡光板和后法兰盘A；补色调色系统包括前法兰盘B、补色滤色片底板、三个挡光板和后法兰盘B；挡光板可沿通光口径的径向移动，选择不同的挡光板组合，通过移动挡光板组合，改变各色光的光通量，调节六种色光进入混色器的光通量比例，从而改变混色器出射光的三刺激值，控制出射光的颜色范围，并可实现较大的光源输出功率。
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公开(公告)号：CN101813458B
公开(公告)日：2011-07-27
申请号：CN201010121835.4
申请日：2010-03-11
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种差动共焦内调焦法镜组光轴及间隙测量方法与装置。该方法首先利用内调焦物镜结合自准直法对被测镜组的光轴进行精确调整，然后利用差动共焦定焦原理对被测镜组各表面实现高精度定位，并获得各定位点处差动共焦光锥的数值孔径角，最后利用光线追迹递推公式依次计算被测镜组各间隙。同时在测量光路中引入环形光瞳，形成空心的测量光锥，削减了像差对测量结果的影响。本发明将差动共焦技术与内调焦技术相融合，具有测量精度高、速度快、系统结构简单、工作距离长、测量过程中无需拆卸被测镜组等优点，可用于镜组光轴及间隙的非接触高精度测量。
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公开(公告)号：CN101865412A
公开(公告)日：2010-10-20
申请号：CN201010194538.2
申请日：2010-06-08
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明提供了一种用于产生颜色连续可调的均匀面光源的装置，属于光学精密测量技术领域。均匀面光源出射的光入射到连续调色系统，由滤色片底板将入射光分为三束三原色光，红光挡光板、绿光挡光板和蓝光挡光板分别可对相应的一种色光进行遮挡，通过改变三束光的通光面积比例，调节三种色光的光通量比例，从而改变连续调色系统出射光的颜色三刺激值；三种色光经混色系统混合后在第II积分球的出光口输出特定颜色的均匀面光源。本发明提出一种可以独立调节三种色光的连续调色系统，实现出射光颜色的精确调节，具有可以连续调节颜色、输出功率大的优点，可以用于颜色分辨力的测量。
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公开(公告)号：CN101315466B
公开(公告)日：2010-07-28
申请号：CN200810115600.7
申请日：2008-06-25
Applicant: 北京理工大学
IPC: G02B27/58
Abstract: 本发明属于高分辨光学成像技术领域，涉及光瞳滤波合成孔径光学超分辨成像方法。该方法采用光瞳滤波技术和合成孔径光学成像技术，对被测物品进行成像检测，其通过合成孔径成像技术增大成像系统的视场、实现大口径或大工作距测量，通过超分辨光瞳滤波器提高子孔径成像系统的分辨率，最终实现大口径光学系统的超分辨成像检测。该方法可改善等效全口径成像系统的分辨力，减少光学系统子孔径的个数和子孔径间的间距，从而减小系统的体积、降低其复杂性。该方法可用于高分辨力、大视场角、大工作距和大口径光学成像场合，特别适用于空间遥感、对地观测、大工作距显微成像等技术领域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101532908A
公开(公告)日：2009-09-16
申请号：CN200910082128.6
申请日：2009-04-16
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种离散成像器件统计调制传递函数激光散斑测量方法和装置，属于光电成像器件成像质量测试技术领域。本发明的测量装置由激光器、激光扩束镜、随机散射体、孔径光阑、偏振片、待测量离散成像器件和带有图像采集卡的计算机组成。测量方法是将散斑投射到离散成像器件靶面上做为输入，离散成像器件采取散斑图即为输出，通过输入和输出的功率谱对比，得到离散成像器件的统计调制传递函数；输入的功率谱密度由散射体出射平面的孔径光阑的大小和离散探测器阵列的位置决定，探测到的功率谱密度经过数据处理可以得到。本发明不需要成像镜头可以直接测量离散成像器件的统计调制传递函数，具有其他方法不具备的优点。
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公开(公告)号：CN100508628C
公开(公告)日：2009-07-01
申请号：CN200710119819.X
申请日：2007-07-31
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明提出了一种CCD摄像机信噪比数字化测试方法。其基本原理是通过摄像机对高均匀照明的净白目标成像，则成像信号中的波动反映了摄像机的噪声。通过图像采集卡将视频信号量化为数字图像，用特别设计的数字高通滤波器分离出噪声信号，计算噪声信号的均方根值作为噪声强度。因图像采集卡对原始视频信号带入了量化噪声，将量化噪声加以修正即可以估计原始视频信号中的噪声大小，从而计算出信噪比。本发明实现了一种基于数字图像采集的电视摄像机信噪比快速、客观测试方法，其测试结果与用视频分析仪测量结果一致性良好，因而可以作为摄像机信噪比测试的一种替代方法。
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公开(公告)号：CN100470189C
公开(公告)日：2009-03-18
申请号：CN200710100222.0
申请日：2007-06-06
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B9/02
Abstract: 本发明公开了一种高精度的利用相互正交的两个双频激光干涉仪的光学角规测试标定仪，包括主控计算机1、双频激光干涉仪A3及其按光路方向依次放置的分光镜2、静止反射镜4和移动反射镜7，与双频激光干涉仪A3光路相互垂直放置的双频激光干涉仪B13，依次按双频激光干涉仪B13光路放置的长基线分光镜11、长基线反射镜6、光程补偿平行玻璃板5和被测光学角规9，还包括可使被测光学角规9沿主截面方向的移动的精密平移台8、装调光学角规主截面时的微小转动精密角位移台10以及步进电机控制箱12。本发明具有如下显著优点：通过该发明装置测量光学角规偏向角在2″-10″的测量范围内，测量精度可达到0.02″，极大提高了光学角规偏向角的测角精度。采用相互正交的双频激光干涉仪测角，减少了光学材料折射率和干涉条纹判读等其他因素对测角精度的影响。
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公开(公告)号：CN101231343A
公开(公告)日：2008-07-30
申请号：CN200810057899.5
申请日：2008-02-20
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种基于液晶调制的激光测距机瞄准与接收轴平行性测量装置，包括：离轴抛物面反射镜、液晶空间光调制器、积分球、可见光源、光纤a、激光延时模块、光纤b、耦合器；所述液晶空间光调制器置于离轴抛物面反射镜的焦面上；所述液晶空间光调制器、积分球、光纤a、激光延时模块、光纤b、耦合器依次放置在焦面后，耦合器与激光发射器连接；所述可见光源与积分球连接。此检测装置利用液晶进行光电调制生成面目标进行光电扫描，测量成功率高，其可用于激光测距机瞄准轴与接收轴平行性在室内、室外环境下的快速检测，具有精度高和可便携的优点。
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公开(公告)号：CN1916582A
公开(公告)日：2007-02-21
申请号：CN200610128631.7
申请日：2006-09-04
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明提供了一种CCD摄像机分辨率客观评测方法，该方法包括以下步骤：获得一个分组多条纹图案靶板图像；将具有不同条纹宽度的条纹区域进行分离；抽取每个条纹区域中的一行的灰度值；分别将对应各条纹区域的所述灰度致信号转换至频域，其中，在保证采样后不同分辨率条纹的空间频率是对应物方空间频率间隔的整数倍的情况下，确定采样频率；从相应的频谱图中分别获得对应各条纹区域的摩尔条纹的幅值，以及特征频率幅值；最后对比各条纹区域的特征频率幅值与摩尔条纹频率幅值的关系，这种方法有效地解决了以往对于高频段变频光栅中出现摩尔条纹，从而影响判别的问题。本发明还提供了一种CCD摄像机分辨率测定系统。
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