公开(公告)号：CN103808791A

公开(公告)日：2014-05-21

申请号：CN201210445440.9

申请日：2012-11-09

Applicant: 北京有色金属研究总院

Inventor： 墨淑敏 ,  张志刚

IPC: G01N27/64 ,  G01N1/44

Abstract: 本发明涉及一种测定氮化硅材料中铁含量的方法，用微波消解进行样品前处理，并用电感耦合等离子体质谱仪测定氮化硅中铁杂质含量，包括称取氮化硅样品，加入HNO3和HF，采用微波消解处理氮化硅样品，得到样品溶液，加入Sc内标溶液，稀释得到待测溶液；随样做空白试验；用单晶硅打底，并且在每个标准溶液中加入等量的Sc内标溶液，配制铁的系列标准溶液；选定电感耦合等离子体质谱仪的工作条件，按照浓度由低到高对系列标准溶液进行分析，得到铁工作曲线；然后对空白溶液及氮化硅的待测溶液进行分析，带入工作曲线求得空白溶液中Fe浓度值及待测溶液中Fe浓度值；通过计算得到待测样品中铁的质量百分数。本方法准确度高，重现性好。

公开(公告)号：CN202886171U

公开(公告)日：2013-04-17

申请号：CN201220577735.7

申请日：2012-11-05

Applicant: 北京有色金属研究总院

Inventor： 墨淑敏 ,  孙泽明 ,  刘英 ,  张志刚 ,  李继东 ,  潘元海 ,  王长华

IPC: G01N1/40

Abstract: 本实用新型公开了一种富集硫中微痕量杂质的装置，包括一上开口的圆柱形玻璃容器，在上开口处封有上盖；其特征在于：在玻璃容器内置有盛装硫产品及富集载体的敞口容器；玻璃容器的底部开有侧向燃烧口。在玻璃容器底部内壁上开有平凹槽；该平凹槽设在玻璃容器底部内壁上的中间区域。玻璃容器的上盖为磨口盖。其是专门为富集硫中杂质而设计的装置，使用方便且效果好。