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公开(公告)号：CN118981806A
公开(公告)日：2024-11-19
申请号：CN202410892501.9
申请日：2024-07-04
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本说明书实施方式提供了一种软件栈的数据处理方法、装置、计算机设备和存储介质。应用于配置有软件栈的虚拟机，软件栈存储有值数据和对应的第一类型数据，第一类型数据用于描述值数据的数据类型，值数据是在入栈字节码执行的情况下入栈的，第一类型数据是在入栈字节码执行的情况下，根据入栈字节码的数据类型进行确定并入栈的；方法包括：在出栈字节码执行的情况下，从软件栈中获取第一类型数据；若第一类型数据与出栈字节码对应的第二类型数据相同，将第一类型数据在软件栈中对应的值数据出栈；其中，第二类型数据是根据出栈字节码的数据类型进行确定的，如此，可以对虚拟机中软件栈的数据进行防护，降低数据泄露的概率。
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公开(公告)号：CN112130061B
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202011347884.X
申请日：2020-11-26
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
Abstract: 本发明提供一种芯片同步测试装置及芯片同步测试方法，属于芯片测试领域。所述芯片同步测试装置包括：通讯测试电路，包括多个通讯线路端口，用于多个芯片的同步测试；高密连接器电路，用于所述通讯测试电路与待测芯片设备的连接；USB选择电路，用于根据待测芯片的通讯接口类型接通对应的芯片测试接口；所述USB选择电路包括一个用于区分不同通讯接口类型芯片测试通路的1:3协议芯片。本发明通过设置多种接口类型芯片测试电路，实现芯片测试类型多样性，每种类型的通讯测试线路均包括多个端口扩展芯片，将测试通路扩展为多个，实现多个芯片的同步测试。解决了现有技术无法同步测试多个芯片的问题。
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公开(公告)号：CN115113019A
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN202210553120.9
申请日：2022-05-20
Applicant: 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本发明实施例提供一种芯片动态功耗测试系统及方法，属于芯片评价技术领域。所述系统包括：测试设备，用于作为测试芯片的工作电源，以及控制所述测试芯片执行预设测试算法；示波器，所述示波器的第一端口通过电流探头与测试芯片的电源通道连接，第二端口与所述测试芯片的I/O管脚连接，所述示波器用于采集所述测试芯片执行所述预设测试算法过程中的功耗信息；所述电流探头，用于采集所述测试芯片执行预设测试算法过程中的电流信号。本发明方案搭建了一套简单、易用、易实现的、可自动化获取安全芯片算法动态功耗结果的测试环境。
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公开(公告)号：CN112130061A
公开(公告)日：2020-12-25
申请号：CN202011347884.X
申请日：2020-11-26
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供一种芯片同步测试装置及芯片同步测试方法，属于芯片测试领域。所述芯片同步测试装置包括：通讯测试电路，包括多个通讯线路端口，用于多个芯片的同步测试；高密连接器电路，用于所述通讯测试电路与待测芯片设备的连接；USB选择电路，用于根据待测芯片的通讯接口类型接通对应的芯片测试接口；所述USB选择电路包括一个用于区分不同通讯接口类型芯片测试通路的1:3协议芯片。本发明通过设置多种接口类型芯片测试电路，实现芯片测试类型多样性，每种类型的通讯测试线路均包括多个端口扩展芯片，将测试通路扩展为多个，实现多个芯片的同步测试。解决了现有技术无法同步测试多个芯片的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112100013A
公开(公告)日：2020-12-18
申请号：CN202011290441.1
申请日：2020-11-18
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明实施方式涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种安全芯片SPI接口测试方法、装置及系统。所述方法包括：所述安全芯片的SPI接口与测试设备的对应接口相连，接收输入的第一测试指令，所述第一测试指令包括打开函数、收发函数或关闭函数；通过API函数库解析所述第一测试指令，生成所述测试设备能够执行的且与所述第一测试指令功能对应的第二测试指令；获取所述测试设备响应于所述第二测试指令，对所述SPI接口进行操作并返回的操作结果；基于所述操作结果确定所述安全芯片的SPI接口是否正常。同时还提供了对应的装置和系统。本发明提供的实施方式，能够提升安全芯片SPI接口的测试效率。
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公开(公告)号：CN114297114B
公开(公告)日：2024-01-23
申请号：CN202111393315.3
申请日：2021-11-23
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
Abstract: 本发明公开了一种加密卡及其数据交互方法、装置及计算机可读存储介质，其中加密卡数据交互方法应用于加密卡中的任意密码芯片，加密卡包括多个密码芯片，每个密码芯片均通过PCIE开关芯片与其它密码芯片以及上位机进行通信，方法包括以下步骤：接收上位机发送的第一数据同步指令，第一数据同步指令包括待同步数据；根据同步密钥和待同步数据生成第一交互同步指令；将第一交互同步指令发送至其它密码芯片，以使其它密码芯片根据同步密钥对第一交互同步指令进行解密得到待同步数据。由此，可以实现加密卡中多密码芯片之间直接进行数据同步交互，从而提高加密卡的数据处理速度。
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公开(公告)号：CN115792549A
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202211328896.7
申请日：2022-10-27
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本发明涉及芯片领域，公开了一种热阻的测试系统与测试方法，所述测试系统包括：可控恒温箱，用于提供多个功耗模式下的安全芯片工作的环境温度；温度采集模块，用于调控所述可控恒温箱提供的环境温度，并采集所述多个功耗模式下的所述安全芯片的温度告警模块发出告警时的多个最低环境温度；示波器，用于采集所述多个最低环境温度下的所述安全芯片的多个实际功耗；以及热阻确定模块，用于根据所述多个最低环境温度和所述多个实际功耗，确定所述安全芯片的平均热阻。本发明可利用多个功耗模式下的安全芯片内部的温度告警模块告警时的环境温度值及相应的芯片实际功耗，简单且有效地确定安全芯片的平均热阻，并且，该测试系统的成本较低。
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公开(公告)号：CN114281243B
公开(公告)日：2025-03-14
申请号：CN202111363827.5
申请日：2021-11-17
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
Abstract: 本发明公开了一种芯片以及数据处理装置、方法，装置包括：用于存储应用数据的第一存储器，用于存储程序数据的第二存储器；与第一存储器连接的第一存储控制器，与第二存储器连接的第二存储控制器；DMA控制器，用于在接收到第一指令时，接收通信数据；CPU处理器，用于在接收到第二指令时，控制第一存储控制器启动应用数据擦写，并在启动应用数据擦写或者DMA控制器接收通信数据结束后，控制第二存储控制器读取第二存储器中的程序数据，以及在同时存在应用数据擦写和通信数据时，先利用读取到的程序数据处理通信数据，待通信数据处理完成后，等待应用数据擦写完成。该数据处理装置，可提升存储器擦写寿命和数据处理效率。
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公开(公告)号：CN116010184A
公开(公告)日：2023-04-25
申请号：CN202310153238.7
申请日：2023-02-13
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明公开了一种测试方法、系统、设备、测试程序的处理方法及芯片。其中，芯片的只读存储器中存储有固件调试指令；测试方法包括：执行固件调试指令中的写指令，以预设数据格式的测试程序数据块为固定数据单元，存储芯片FT测试程序数据至芯片的闪存存储阵列；其中，芯片FT测试程序数据是编译针对FT测试需求编写的芯片FT测试程序代码而得到的；测试程序数据块是根据闪存存储阵列的存储单元容量对芯片FT测试程序数据顺序划分而得到的，且与存储单元容量大小匹配；接收测试指令，基于芯片FT测试程序数据对芯片进行测试能够将芯片FT测试程序数据按照固定数据单元写入芯片的闪存存储阵列中，提高了芯片对芯片FT测试数据的下载速度。
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