芯片测试装置和芯片测试方法

    公开(公告)号:CN112100015A

    公开(公告)日:2020-12-18

    申请号:CN202011301399.9

    申请日:2020-11-19

    Abstract: 本发明提供一种芯片测试装置和一种芯片测试方法,属于芯片测试领域。所述测试装置包括:测试设备库;底层函数库,封装有与所述测试设备库对应的接口函数库和数据处理函数库;关键字库,封装有用于调用的关键字;业务应用层,用于存储、执行和编写测试功能模块,所述业务应用层通过所述测试功能模块调用所述关键字库所形成的测试逻辑,组合和调用所述接口函数库和所述数据处理函数库中的算法驱动所述测试设备库对应的设备产生相应的测试信号,实现对所述芯片的测试。本发明通过测试装置完成对芯片的自动化测试,加快了芯片的测试开发进度。

    存储器负载均衡的方法、装置和设备

    公开(公告)号:CN114281242B

    公开(公告)日:2024-05-10

    申请号:CN202111350400.1

    申请日:2021-11-15

    Abstract: 本发明实施例提供一种存储器负载均衡的方法、装置和设备,属于芯片存储领域。方法包括:根据每个存储区域的存储情况、擦除次数及地址,分别建立已用的树形排序结构和空闲的树形排序结构;当有数据需要被写入时,从已用的树形排序结构中查找出擦除次数最少的存储区域,获取对应的第一关键值;从空闲的树形排序结构中查找出擦除次数最少的存储区域,获取对应的第二关键值;以及比较第一关键值和第二关键值,判断第一关键值对应的存储区域内的数据是否需要均衡到第二关键值对应的存储区域。该方法可以均衡存储器的负载,对于不经常修改的冷数据区域也参与到轮转过程,在实际使用中能达到设计目标的擦写次数从而保证了存储器的有效寿命。

    芯片以及数据处理装置、方法

    公开(公告)号:CN114281243A

    公开(公告)日:2022-04-05

    申请号:CN202111363827.5

    申请日:2021-11-17

    Abstract: 本发明公开了一种芯片以及数据处理装置、方法,装置包括:用于存储应用数据的第一存储器,用于存储程序数据的第二存储器;与第一存储器连接的第一存储控制器,与第二存储器连接的第二存储控制器;DMA控制器,用于在接收到第一指令时,接收通信数据;CPU处理器,用于在接收到第二指令时,控制第一存储控制器启动应用数据擦写,并在启动应用数据擦写或者DMA控制器接收通信数据结束后,控制第二存储控制器读取第二存储器中的程序数据,以及在同时存在应用数据擦写和通信数据时,先利用读取到的程序数据处理通信数据,待通信数据处理完成后,等待应用数据擦写完成。该数据处理装置,可提升存储器擦写寿命和数据处理效率。

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