公开(公告)号：CN109581186B

公开(公告)日：2021-06-08

申请号：CN201811378257.5

申请日：2018-11-19

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 于春青 ,  王福庆 ,  陶慧斌 ,  李建成 ,  岳素格 ,  初飞 ,  郑宏超 ,  毕潇 ,  赵旭 ,  李哲 ,  彭惠薪 ,  杜守刚 ,  穆里隆 ,  董方磊 ,  徐雷霈

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明公开了一种视觉信息处理电路的单粒子效应测试方法、装置、系统及电子设备，属于器件测试技术领域。所述方法包括辐照时，控制视觉信息处理电路的各功能模块依次运行，且在控制下一功能模块运行前，先判断当前功能模块功能是否正常；若是，则将当前功能模块的实际处理结果存储到存储模块中，并控制下一功能模块运行；若否，则记录一次功能错误，并返回初始步骤重新开始运行各功能模块；当各功能模块均运行完成后，将各功能模块的实际处理结果与标准处理结果比对，确定各功能模块的单粒子翻转错误数；根据功能错误数和单粒子翻转错误数，确定视觉信息处理电路的单粒子错误截面和错误率。本发明可提供各功能模块的单粒子翻转敏感性，覆盖全面。

公开(公告)号：CN109581186A

公开(公告)日：2019-04-05

申请号：CN201811378257.5

申请日：2018-11-19

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 于春青 ,  王福庆 ,  陶慧斌 ,  李建成 ,  岳素格 ,  初飞 ,  郑宏超 ,  毕潇 ,  赵旭 ,  李哲 ,  彭惠薪 ,  杜守刚 ,  穆里隆 ,  董方磊 ,  徐雷霈

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明公开了一种视觉信息处理电路的单粒子效应测试方法、装置、系统及电子设备，属于器件测试技术领域。所述方法包括辐照时，控制视觉信息处理电路的各功能模块依次运行，且在控制下一功能模块运行前，先判断当前功能模块功能是否正常；若是，则将当前功能模块的实际处理结果存储到存储模块中，并控制下一功能模块运行；若否，则记录一次功能错误，并返回初始步骤重新开始运行各功能模块；当各功能模块均运行完成后，将各功能模块的实际处理结果与标准处理结果比对，确定各功能模块的单粒子翻转错误数；根据功能错误数和单粒子翻转错误数，确定视觉信息处理电路的单粒子错误截面和错误率。本发明可提供各功能模块的单粒子翻转敏感性，覆盖全面。