公开(公告)号：CN105607046A

公开(公告)日：2016-05-25

申请号：CN201510976035.3

申请日：2015-12-22

Applicant: 北京无线电计量测试研究所

Inventor： 吴翔 ,  何鑫 ,  寇鹏 ,  安迎和 ,  任涛 ,  张斌 ,  孙平月 ,  冯晓宁 ,  王爽 ,  林燕文

IPC: G01S7/40

CPC classification number: G01S7/40

Abstract: 本申请公开了一种大型紧缩场扫描架及测试系统。该扫描架包括：底座、俯仰模块、标准节、主极化模块、直线模块、天线部件和动态调整模块。由于扫描架由多个可以根据实际需要拆装的多个部件构成，因此解决了现有技术中，根据紧缩场定制的扫描架，导致基于该扫描架的紧缩场测试系统的可移植性差，难以适应不同测试环境的问题。

公开(公告)号：CN105607046B

公开(公告)日：2018-03-06

申请号：CN201510976035.3

申请日：2015-12-22

Applicant: 北京无线电计量测试研究所

Inventor： 吴翔 ,  何鑫 ,  寇鹏 ,  安迎和 ,  任涛 ,  张斌 ,  孙平月 ,  冯晓宁 ,  王爽 ,  林燕文

IPC: G01S7/40

Abstract: 本申请公开了一种大型紧缩场扫描架及测试系统。该扫描架包括：底座、俯仰模块、标准节、主极化模块、直线模块、天线部件和动态调整模块。由于扫描架由多个可以根据实际需要拆装的多个部件构成，因此解决了现有技术中，根据紧缩场定制的扫描架，导致基于该扫描架的紧缩场测试系统的可移植性差，难以适应不同测试环境的问题。