-
公开(公告)号：CN112036110B
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202010899992.1
申请日：2020-08-31
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F30/367 , G01T1/02
Abstract: 本发明涉及一种模块级电路瞬时剂量率效应仿真测试方法，1)针对器件级电路建立基本单元NMOS管和PMOS管的物理模型；2)建立瞬时光电流模型；3)在每个NMOS管和PMOS管并联瞬时光电流模型得到获得基本单元NMOS管和PMOS管的瞬时剂量率效应的SPICE微模型；4)在SPICE仿真软件中输入模块级电路的电路配置文件和电路网表文件，在SPICE中得到模块级电路连接模型，并将所述SPICE微模型代入到模块级电路连接模型中建立模块级电路瞬时剂量率效应模型；5)对步骤4)得到的模块级电路瞬时剂量率效应模型在不同剂量率下模拟模块级电路产生的瞬时剂量率效应，监测是否获得模块级电路瞬时剂量率效应翻转阈值，若是，则完成仿真测试；若否则调整参数直至获得瞬时剂量率翻转阈值。
-
公开(公告)号：CN116242496A
公开(公告)日：2023-06-09
申请号：CN202310218456.4
申请日：2023-03-01
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种新型的精度可调的温度传感器电路，上电完成后，感温电路开始工作，产生与温度相关的电压VREF和VT，跟随器电路保证电压V1的温度特性与VT一致，实现电平移位。比较器电路在时钟控制下比较VREF和V2的电压值，输出对应的高低信号，此信号经过锁存器锁定后，产生串行信号VA，串行信号VA经过串并转换电路产生10位控制信号反馈到电压控制网络以调整V2的输出值，通过逐次逼近调整，直到VREF和V2基本一致，系统达到稳定，最后通过数字信号VOUT[9:0]读出温度值。采用此架构功耗低，芯片面积小，省略了常规的ADC电路，易于集成，具备较高的测量精度以及较小的芯片面积和功耗，非常适用大规模混合集成电路进行温度监控。
-
公开(公告)号：CN107085178B
公开(公告)日：2020-01-14
申请号：CN201710104221.7
申请日：2017-02-24
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Inventor： 赵元富 , 于春青 , 蔡一茂 , 范隆 , 郑宏超 , 陈茂鑫 , 岳素格 , 王亮 , 李建成 , 王煌伟 , 杜守刚 , 李哲 , 毕潇 , 姜柯 , 赵旭 , 穆里隆 , 关龙舟 , 李继华 , 简贵胄 , 初飞 , 喻贤坤 , 庄伟 , 刘亚丽 , 祝长民 , 王思聪 , 李月
IPC: G01R31/311 , G01J11/00
Abstract: 一种获取器件功能模块单粒子本征错误截面的方法，首先对器件功能模块进行划分，然后直接利用脉冲激光试验获取结构规则功能模块的本征错误截面，编制测试程序，获取每种测试程序下器件的应用错误截面以及各个功能模块的占空因子，根据各种测试程序下器件的应用错误截面公式进行方程组联立求解，得到各个结构不规则功能模块的本征错误截面。本发明方法能够获取集成电路中所有功能模块的本征错误截面，以直观反应每个功能模块的单粒子敏感性。
-
公开(公告)号：CN106712765A
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201611029545.0
申请日：2016-11-14
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: H03K19/0185
CPC classification number: H03K19/018521
Abstract: 本发明涉及一种基于CMOS工艺的PECL发送器接口电路。该接口电路主要由两个互补的输出支路构成，每个支路含有一个开关管控制的电流漏和一个常通电流漏，两个支路共用一个偏置电路。所述常通电流漏用于产生输出低电平电流；所述开关电流漏与常通电流漏一起产生输出高电平电流；所述偏置电路用于与开关控制电流漏和常通电流漏形成电流镜结构，提供其所需电流。本发明能够能准确产生符合PECL电平标准的输出高低电平，具有结构简单、实现方便、与主流CMOS工艺兼容等优点。
-
公开(公告)号：CN104009758B
公开(公告)日：2017-04-12
申请号：CN201410188432.X
申请日：2014-05-06
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明涉及数字模拟转换电路单粒子瞬态效应检测装置及其检测方法，本发明明确了不同类别单粒子瞬态效应需要捕获的特征参数，及其统计分析方法，开发相应的检测试验装置，可以连续不间断检测和捕获发生的单粒子瞬态效应及其特征参数，实时发回记录结果，并自动实现按效应类别的统计分析；该检测装置实现了单粒子瞬态效应信号的连续自动检测、捕获和数据分析，解决了目前单粒子瞬态效应试验装置人工记录导致试验暂停造成的人为误差，以及后续统计分析效率低下的问题，大大提高了试验结果的准确性，提高了测试效率并节约了人工成本，可以有效地考核评估器件抗单粒子瞬态效应能力。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103888099B
公开(公告)日：2016-07-06
申请号：CN201310577100.6
申请日：2013-11-18
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: H03H11/04
Abstract: 本发明涉及一种抗单粒子瞬态冗余滤波器电路，由延迟单元、双输入反相器和冗余单元组成，其中延迟单元采用反相器链或电阻电容等结构，实现对输入信号的延迟；双输入反相器单元可根据输入两路信号的异同性做出相应输出；冗余单元有两种不同的实现方式，第一种为反相器结构，其输入为延迟单元输出；第二种为与主路相同的电路结构，其输入为输入信号以及延迟单元的输出，提供不受主路干扰的冗余信号；本发明冗余滤波器电路可以彻底消除发生于输入信号上的脉冲宽度小于缓冲器内部设定的延迟时间的单粒子瞬态脉冲以及发生于冗余滤波器内部的单粒子脉冲瞬态脉冲，有效的保护例如时钟、复位、数据等关键信号，具有良好的单粒子瞬态免疫功能，以较小的电路开销实现抑制单粒子瞬态脉冲产生和传播。
-
公开(公告)号：CN105634478A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201510980908.8
申请日：2015-12-23
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: H03L7/093
CPC classification number: H03L7/093
Abstract: 本发明公开了一种抗单粒子加固的时钟和数据恢复电路，包括采样器、鉴相器、数字滤波器、逻辑判决电路、编码器、多数判决器、相位插值器以及多相时钟生成电路。本发明采用逻辑判决电路，在时钟和数据恢复电路锁定的情况下，能够有效抑制单粒子效应造成的鉴相器鉴相错误和滤波器滤波错误传递至后续的编码器电路中，保证了传输给编码器的信号的正确性，通过编码器的冗余结构抑制单粒子效应造成的编码错误，从而有效避免锁定的时钟和数据恢复电路发生意外调节，极大地降低单粒子效应对相位锁定状态的影响，提高了电路的可靠性。
-
公开(公告)号：CN105634445A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201511001125.7
申请日：2015-12-28
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
CPC classification number: H03K3/0315 , H03K4/08
Abstract: 一种应用于开关电源的频率可配置的振荡器电路，该振荡器电路用于产生开关电源电路所需的时钟控制信号和斜坡信号，是一种片上电路，包括工作模式识别电路、延迟电路、同步模块、充电电流控制电路、内部振荡器。通过改变外部配置，该振荡器能够自动产生相应的控制信号，使振荡器工作在三种不同的工作模式，包括固定输出频率、可调输出频率、外部时钟同步频率。本发明振荡器电路配置方式简单、可靠度高，适用于多种需要可配置振荡器的场合，从而满足不同的应用要求。
-
公开(公告)号：CN105574270A
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201510945564.7
申请日：2015-12-16
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5072
Abstract: 本发明公开了一种抗单粒子加固电路单元布局布线方法，首先按照单粒子敏感节点的分离要求，对抗单粒子加固电路进行原理图模块拆分，对各个底层原理图模块进行版图设计，然后在保证敏感节点之间分离距离满足抗单粒子加固要求的前提下进行布局，单元布局完成之后基于敏感节点分离的布局版图和通过检查的各模块的连线关系进行版图布线，经版图设计规则验证、版图与原理图一致性验证后，完成抗单粒子加固电路单元的布局布线。本发明解决了抗单粒子加固电路在版图实现过程中的困难，提高了抗单粒子加固单元电路版图设计的可靠性和效率。
-
公开(公告)号：CN105445640A
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：CN201510825255.6
申请日：2015-11-24
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G01R31/265
CPC classification number: G01R31/2656
Abstract: 基于脉冲激光设备的不同测试指令集的单粒子敏感性判定方法，考虑器件不同测试指令集之间的差异性以及应用环境的多样性，通过在不同测试指令集下进行脉冲激光单粒子试验，可以得到不同测试指令集之间的单粒子敏感系数，然后只需要在重离子加速器下进行某一测试指令集的单粒子辐照试验，通过计算就可以判定其他测试指令集下的单粒子辐照试验结果。这一方法解决了重离子机时紧张等不足，利用脉冲激光的机时灵活，操作简便，获取数据方便的优点，能够较好的解决单粒子敏感性判定中遇到的难题。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
96
records
(took 0.07 seconds)
