一种验证方法、装置、电子设备及可读存储介质

    公开(公告)号:CN118133735B

    公开(公告)日:2024-07-26

    申请号:CN202410543745.6

    申请日:2024-04-30

    Abstract: 本发明实施例提供一种验证方法、装置、电子设备及可读存储介质,该方法包括:对待测设计的芯片代码进行修改,以将待测设计的各个数据接口传输的数据接入所述待测设计的顶层模块;根据修改后的芯片代码,将待测设计烧录至可编程逻辑芯片的可编程逻辑区域;在验证平台中生成动态链接库;在待测设计每执行一条指令之后,采集待测设计的第一状态值,并调用动态链接库,以控制动态链接库执行一条指令并输出第二状态值;在第一状态值与第二状态值不匹配的情况下,确定待测设计运行出错。本发明实施例增加了待测设计的细节可见性,能够在待测设计运行出错时及时报错,保证了验证的有效性,有利于对待测设计及时进行调试和检查。

    断言等效硬件库的构建方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN116663467B

    公开(公告)日:2023-11-10

    申请号:CN202310934158.5

    申请日:2023-07-27

    Abstract: 本发明实施例提供一种断言等效硬件库的构建方法、装置、电子设备及存储介质,涉及计算机技术领域。该方法包括:确定待处理的断言算子的输入信号与输出信号之间的逻辑关系;所述断言算子为所述断言语句中实现基础断言功能的算子;根据所述逻辑关系确定所述断言算子对应的逻辑器件和所述逻辑器件之间的连接方式;按照所述连接方式连接所述断言算子对应的各个逻辑器件,得到所述断言算子对应的基础电路模块;将所述断言算子对应的基础电路模块添加至断言等效硬件库中。本发明实施例可以提升断言语句的电路综合效率,进而实现基于断言的硬件验证。

    一种电路验证方法、装置、电子设备及可读存储介质

    公开(公告)号:CN116663463B

    公开(公告)日:2023-11-10

    申请号:CN202310934163.6

    申请日:2023-07-27

    Abstract: 本发明实施例提供一种电路验证方法、装置、电子设备及可读存储介质,该方法包括:获取设计文件,所述设计文件包括被测设计和断言语句;所述断言语句用于验证所述被测设计是否满足测试条件;将所述断言语句转化为断言电路,所述断言电路为寄存器转换级电路;基于所述被测设计和所述断言电路,生成目标网表;根据所述目标网表将所述被测设计和所述断言电路配置到集成电路芯片中;运行所述集成电路芯片,并监测所述被测设计的断言结果;在所述被测设计的断言覆盖率满足预设条件的情况下,确定所述被测设计通过验证。本发明实施例可以利用断言电路来揭示被测设计内部状态和潜在问题,解决了FPGA仿真缺乏设计细节的低级可见性的问题。

    断言验证方法、断言验证平台、电子设备及可读存储介质

    公开(公告)号:CN116663462B

    公开(公告)日:2023-11-17

    申请号:CN202310934159.X

    申请日:2023-07-27

    Abstract: 本发明实施例提供一种断言验证方法、断言验证平台、电子设备及可读存储介质,涉及计算机技术领域。其中的断言验证方法应用于断言验证平台,所述断言验证平台包括可编程逻辑芯片,所述可编程逻辑芯片中配置有被测设计、覆盖率监视器和硬件化断言测试集;所述方法包括:利用所述硬件化断言测试集对所述被测设计进行断言验证,并通过所述覆盖率监视器确定所述被测设计的断言覆盖率;在所述被测设计的断言覆盖率满足预设条件的情况下,确定所述被测设计通过验证。在本发明实施例提供的断言验证平台中,不可综合的断言语句被转化为等效硬件化断言测试集,实现了用硬件对被测设计进行调试加速。

    一种电路综合方法、装置、电子设备及可读存储介质

    公开(公告)号:CN116702663A

    公开(公告)日:2023-09-05

    申请号:CN202310937005.6

    申请日:2023-07-27

    Abstract: 本发明实施例提供一种电路综合方法、装置、电子设备及可读存储介质,该方法包括:对待综合的断言语句进行解析,识别所述断言语句对应的关键字和验证方式;将所述断言语句中的关键字例化为基础电路模块;根据所述验证方式确定所述基础电路模块对应的连接方式;按照所述连接方式对所述基础电路模块进行连接,得到所述断言语句对应的断言电路。本发明实施例可以将不可综合的断言语句转换为等效的可综合的断言电路,以便在硬件中实现基于断言的验证。

    断言等效硬件库的构建方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN116663467A

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN202310934158.5

    申请日:2023-07-27

    Abstract: 本发明实施例提供一种断言等效硬件库的构建方法、装置、电子设备及存储介质,涉及计算机技术领域。该方法包括:确定待处理的断言算子的输入信号与输出信号之间的逻辑关系;所述断言算子为所述断言语句中实现基础断言功能的算子;根据所述逻辑关系确定所述断言算子对应的逻辑器件和所述逻辑器件之间的连接方式;按照所述连接方式连接所述断言算子对应的各个逻辑器件,得到所述断言算子对应的基础电路模块;将所述断言算子对应的基础电路模块添加至断言等效硬件库中。本发明实施例可以提升断言语句的电路综合效率,进而实现基于断言的硬件验证。

    一种验证方法、装置、电子设备及可读存储介质

    公开(公告)号:CN118133735A

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN202410543745.6

    申请日:2024-04-30

    Abstract: 本发明实施例提供一种验证方法、装置、电子设备及可读存储介质,该方法包括:对待测设计的芯片代码进行修改,以将待测设计的各个数据接口传输的数据接入所述待测设计的顶层模块;根据修改后的芯片代码,将待测设计烧录至可编程逻辑芯片的可编程逻辑区域;在验证平台中生成动态链接库;在待测设计每执行一条指令之后,采集待测设计的第一状态值,并调用动态链接库,以控制动态链接库执行一条指令并输出第二状态值;在第一状态值与第二状态值不匹配的情况下,确定待测设计运行出错。本发明实施例增加了待测设计的细节可见性,能够在待测设计运行出错时及时报错,保证了验证的有效性,有利于对待测设计及时进行调试和检查。

    一种验证方法、装置、电子设备及可读存储介质

    公开(公告)号:CN117113908B

    公开(公告)日:2024-02-02

    申请号:CN202311345112.6

    申请日:2023-10-17

    Abstract: 本发明实施例提供一种验证方法、装置、电子设备及可读存储介质,涉及计算机技术领域,该方法包括:将软件设计下载到可编程逻辑芯片的处理系统中,将所述软件设计对应的硬件设计烧录到所述可编程逻辑芯片的可编程逻辑区域中;在所述可编程逻辑芯片中同步运行所述硬件设计和所述软件设计,并监测所述硬件设计的第一运行数据和所述软件设计的第二运行数据;在所述第一运行数据和所述第二运行数据不匹配的情况下,对所述可编程逻辑芯片进行硬件快照,以保存所述可编程逻辑芯片的状态信息;将所述状态信息导入到仿真软件中进行仿真,以对所述硬件设计进行调试。本发明实施例提升了验证效率,并且保证了仿真的自由度和调试效率。

    一种电路验证方法、装置、电子设备及可读存储介质

    公开(公告)号:CN116663463A

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN202310934163.6

    申请日:2023-07-27

    Abstract: 本发明实施例提供一种电路验证方法、装置、电子设备及可读存储介质,该方法包括:获取设计文件,所述设计文件包括被测设计和断言语句;所述断言语句用于验证所述被测设计是否满足测试条件;将所述断言语句转化为断言电路,所述断言电路为寄存器转换级电路;基于所述被测设计和所述断言电路,生成目标网表;根据所述目标网表将所述被测设计和所述断言电路配置到集成电路芯片中;运行所述集成电路芯片,并监测所述被测设计的断言结果;在所述被测设计的断言覆盖率满足预设条件的情况下,确定所述被测设计通过验证。本发明实施例可以利用断言电路来揭示被测设计内部状态和潜在问题,解决了FPGA仿真缺乏设计细节的低级可见性的问题。

    断言验证方法、断言验证平台、电子设备及可读存储介质

    公开(公告)号:CN116663462A

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN202310934159.X

    申请日:2023-07-27

    Abstract: 本发明实施例提供一种断言验证方法、断言验证平台、电子设备及可读存储介质,涉及计算机技术领域。其中的断言验证方法应用于断言验证平台,所述断言验证平台包括可编程逻辑芯片,所述可编程逻辑芯片中配置有被测设计、覆盖率监视器和硬件化断言测试集;所述方法包括:利用所述硬件化断言测试集对所述被测设计进行断言验证,并通过所述覆盖率监视器确定所述被测设计的断言覆盖率;在所述被测设计的断言覆盖率满足预设条件的情况下,确定所述被测设计通过验证。在本发明实施例提供的断言验证平台中,不可综合的断言语句被转化为等效硬件化断言测试集,实现了用硬件对被测设计进行调试加速。

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