公开(公告)号：CN118133735B

公开(公告)日：2024-07-26

申请号：CN202410543745.6

申请日：2024-04-30

Applicant: 北京开源芯片研究院

Inventor： 石侃 ,  张寿林 ,  张子卿 ,  包云岗

IPC: G06F30/33 ,  G06F30/34

Abstract: 本发明实施例提供一种验证方法、装置、电子设备及可读存储介质，该方法包括：对待测设计的芯片代码进行修改，以将待测设计的各个数据接口传输的数据接入所述待测设计的顶层模块；根据修改后的芯片代码，将待测设计烧录至可编程逻辑芯片的可编程逻辑区域；在验证平台中生成动态链接库；在待测设计每执行一条指令之后，采集待测设计的第一状态值，并调用动态链接库，以控制动态链接库执行一条指令并输出第二状态值；在第一状态值与第二状态值不匹配的情况下，确定待测设计运行出错。本发明实施例增加了待测设计的细节可见性，能够在待测设计运行出错时及时报错，保证了验证的有效性，有利于对待测设计及时进行调试和检查。

公开(公告)号：CN118133735A

公开(公告)日：2024-06-04

申请号：CN202410543745.6

申请日：2024-04-30

Applicant: 北京开源芯片研究院

Inventor： 石侃 ,  张寿林 ,  张子卿 ,  包云岗

IPC: G06F30/33 ,  G06F30/34

Abstract: 本发明实施例提供一种验证方法、装置、电子设备及可读存储介质，该方法包括：对待测设计的芯片代码进行修改，以将待测设计的各个数据接口传输的数据接入所述待测设计的顶层模块；根据修改后的芯片代码，将待测设计烧录至可编程逻辑芯片的可编程逻辑区域；在验证平台中生成动态链接库；在待测设计每执行一条指令之后，采集待测设计的第一状态值，并调用动态链接库，以控制动态链接库执行一条指令并输出第二状态值；在第一状态值与第二状态值不匹配的情况下，确定待测设计运行出错。本发明实施例增加了待测设计的细节可见性，能够在待测设计运行出错时及时报错，保证了验证的有效性，有利于对待测设计及时进行调试和检查。