非挥发性存储器器件结构

    公开(公告)号:CN1851931A

    公开(公告)日:2006-10-25

    申请号:CN200610011764.6

    申请日:2006-04-21

    Abstract: 本发明提供一种非挥发性存储器器件结构,属于半导体集成电路器件设计及制造技术领域。该结构包括位于衬底之上隧穿氧化层、位于隧穿氧化层之上的衬底阻挡层、位于衬底阻挡层之上的类浮栅电荷存储层、位于类浮栅电荷存储层之上的栅阻挡层以及位于最顶层的栅电极,其中衬底阻挡层采用禁带宽度介于3eV至7eV,且体内陷阱态密度小的绝缘材料。类浮栅电荷存储层由多晶硅或金属构成。衬底阻挡层阻挡存储电荷的回迁,但是基本不阻挡衬底电子的写入,因此该存储器件的总体性能得以显著提升。

    室温铁磁半导体Co掺杂的TiO2薄膜的制备方法

    公开(公告)号:CN1851866A

    公开(公告)日:2006-10-25

    申请号:CN200610072505.4

    申请日:2006-04-11

    Abstract: 本发明提供一种室温铁磁半导体Co掺杂的TiO2薄膜的制备方法,属于新型半导体自旋电子器件制备领域。该方法首先采用溶胶—凝胶法制备Co掺杂TiO2溶胶,将溶胶旋涂在单晶硅衬底上形成CoxTi1-xO2薄膜,该CoxTi1-xO2薄膜在真空下直接退火晶化后,即具有室温铁磁性;该CoxTi1-xO2薄膜在空气中退火晶化后并不具有室温铁磁性,而经过真空或者含氢气氛下二次退火后,也可获得室温铁磁特性。采用本发明可制得具有室温铁磁性的半导体Co掺杂的TiO2薄膜。

    非挥发性存储器器件结构

    公开(公告)号:CN1851932A

    公开(公告)日:2006-10-25

    申请号:CN200610011765.0

    申请日:2006-04-21

    Abstract: 本发明提供一种非挥发性存储器器件结构,属于半导体集成电路器件设计及制造技术领域。该结构包括位于衬底之上隧穿氧化层、位于隧穿氧化层之上的衬底阻挡层、位于衬底阻挡层之上的陷阱电荷存储层、位于陷阱电荷存储层之上的栅阻挡层以及位于最顶层的栅电极,其中衬底阻挡层采用禁带宽度介于3eV至6eV,且体内陷阱态密度小的材料,衬底阻挡层阻挡存储电荷的回迁,但是基本不阻挡衬底电子的写入,增强了数据保存特性,使得该存储器件的总体性能得以显著提升。

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