一种X射线偏振度测量装置及方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117518227A

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN202311444473.6

    申请日:2023-11-01

    Abstract: 本发明涉及一种X射线偏振度测量装置及方法,使偏振X射线以45度的入射角进入布拉格检偏晶体,之后进入探测器。使晶体和探测器所在电控转台转动,由于布拉格衍射强度受偏振度调制,最终探测器探测到的射线强度会随角度变化。拟合每个角度下探测器探测到的射线强度变化可以得到调制曲线,通过调制曲线的拟合参数得到偏振度。因此,使用无偏振测量能力的普通探测器,通过巧妙的设计实现偏振度的测量,可以避免康普顿散射探测器效率低和气体像素探测器数据获得困难的缺点。

    一种星载探测器的原位校准方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117805880A

    公开(公告)日:2024-04-02

    申请号:CN202311864067.5

    申请日:2023-12-29

    Abstract: 本发明涉及一种星载探测器的原位校准方法,包括以下步骤:在地面标定时,利用多个放射源产生的参考辐射场中,对次级标准探测器进行标定。对次级标准探测器进行测试,获得次级标准探测器的实验室校准因子。在星载探测器上安装相同的多个放射源,对待测探测器进行在轨标定。对待测探测器进行测试,获得待测探测器的原位校准因子。判断实验室校准因子与原位校准因子的偏差是否在预设范围内,若是,则原位校准方法有效。上述星载探测器的原位校准方法,利用在轨标定源为能量线性刻度提供修正依据,可弥补因放射源自身和环境限制的缺点,有效地排除环境本底,从而降低了对环境本底的屏蔽要求,在轨卫星在太空环境下的性能也能得到校准。

    偏振X射线源及偏振X射线的产生方法

    公开(公告)号:CN118248373A

    公开(公告)日:2024-06-25

    申请号:CN202410352701.5

    申请日:2024-03-26

    Abstract: 本发明涉及一种偏振X射线源及偏振X射线的产生方法,偏振X射线源包括机架、X射线光管、第一衍射机构、第二衍射机构及探测器,X射线光管、第一衍射机构、第二衍射机构及探测器安装于机架上。第一衍射机构用于将X射线光管产生的连续谱无偏X射线衍射后转变成线偏振X射线,并将线偏振X射线偏转,第二衍射机构用于将偏转后的线偏振X射线再次衍射偏转被探测器介绍。上述偏振X射线源及偏振X射线的产生方法,利用晶体在45度布儒斯特角下衍射后产生线偏振X射线的原理,设计了晶体二次衍射产生线偏振X射线的光源装置,X射线经过两次偏转实现平行射出,可以方便探测器对能谱进行采集,采集能谱没有造成困难。

    一种基于荧光X射线的剂量仪能量响应实验方法及系统

    公开(公告)号:CN117572485A

    公开(公告)日:2024-02-20

    申请号:CN202311550621.2

    申请日:2023-11-20

    Abstract: 本发明涉及一种基于荧光X射线的剂量仪能量响应实验方法及系统,通过获得探测器的能谱展宽公式,建立探测器响应模型,并根据能谱展宽公式获得探测器响应模型的响应矩阵。然后,测量辐射体的脉冲幅度谱,并利用解谱程序对其进行解谱得到X射线注量谱,从而计算空气比释动能到剂量的转换系数,由此得到辐射场的任何一点的剂量约定真值。通过剂量仪测量的剂量值与剂量约定真值,计算得到剂量仪的能量响应。该方法相较于传统的电离室传递,使用能谱测量方法,通过解谱获得剂量的约定真值,降低了剂量约定真值计算的不确定度,从而提高了精确度,降低剂量仪能量响应测量的不确定度。

    一种布拉格衍射效率测量方法及系统

    公开(公告)号:CN118883600A

    公开(公告)日:2024-11-01

    申请号:CN202410921546.4

    申请日:2024-07-10

    Abstract: 本发明公开了一种布拉格衍射效率测量方法及系统,方法包括:调整入射光源装置的射线能量,在晶体与入射光之间夹角为零的状态下,记录标准探测器探测到的射线强度数值;调整晶体与入射光之间的夹角,记录标准探测器探测到的最高射线强度数值;保持晶体与入射光之间的夹角不变,取走晶体,记录标准探测器探测到的数值;由标准探测器探测到的数值来计算晶体的布拉格衍射效率。本发明技术方案提高了实验的精确性和准确性,衍射效率的测量可用于验证实验结果的准确性,提供了一个检验实验条件和数据解释的工具,确保研究的可重复性和可靠性,且推动了晶体衍射效率研究的进展。

    一种X射线偏振度直接测量装置及方法

    公开(公告)号:CN117518228A

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN202311446334.7

    申请日:2023-11-01

    Abstract: 本发明涉及一种X射线偏振度直接测量装置及方法,入射的X射线在光电转换结构发生光电效应,产生携带偏振信息的光电子,光电子经过电子倍增器进行电荷放大后,像素板记录放大后的光电子的运动轨道。信号输出单元接收光电子的运动轨迹,并根据运动轨迹重建得到出射电子的方向,进而测量获得入射X射线的偏振度。上述X射线偏振度直接测量装置及方法,将气体像素探测器作为焦平面探测器,测量入射X光子发生光电效应的光电子径迹,由径迹重建得到出射电子的方向,从而直接测量获得入射X射线的偏振度,能够高效灵敏的探测来自宇宙极端环境下的X射线,通过X射线偏振测量获得X射线源的几何形状、磁场强度和起源等重要信息。

Patent Agency Ranking