-
公开(公告)号:CN117518227A
公开(公告)日:2024-02-06
申请号:CN202311444473.6
申请日:2023-11-01
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及一种X射线偏振度测量装置及方法,使偏振X射线以45度的入射角进入布拉格检偏晶体,之后进入探测器。使晶体和探测器所在电控转台转动,由于布拉格衍射强度受偏振度调制,最终探测器探测到的射线强度会随角度变化。拟合每个角度下探测器探测到的射线强度变化可以得到调制曲线,通过调制曲线的拟合参数得到偏振度。因此,使用无偏振测量能力的普通探测器,通过巧妙的设计实现偏振度的测量,可以避免康普顿散射探测器效率低和气体像素探测器数据获得困难的缺点。
-
公开(公告)号:CN116540292A
公开(公告)日:2023-08-04
申请号:CN202310539315.2
申请日:2023-05-12
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及一种探测器真空标定装置,包括支架、真空舱、抽真空机构及平移台。真空舱安装于支架上,真空舱设有腔体和与腔体连通的射线入口和射线出口,射线入口和射线出口构成X射线的光路径。抽真空机构与真空舱连接,用于对腔体进行抽真空。平移台设于真空舱内,平移台包括移动平台和设置于移动平台上用于承载待标定探测器的工作台,移动平台驱动工作台在垂直光路径的二维平面内运动,以使待标定探测器的探头位于射线入口和射线出口形成的光路径上。上述探测器真空标定装置,移动平台可以驱动工作台在垂直光路径的二维平面内运动,可以保证X射线束打到待标定探测器的探头上,保证探测器的标定结果准确。
-
公开(公告)号:CN115755154A
公开(公告)日:2023-03-07
申请号:CN202211268905.8
申请日:2022-10-17
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01T7/00 , G01T1/28 , G01T1/36 , G01N23/223
Abstract: 本发明涉及一种探测器探测效率的刻度方法,利用蒙特卡罗模拟,得到探测器对不同能量X射线的探测效率,并计算K荧光辐射装置中辐射体产生的Kα、Kβ特征X射线的强度比值Lmc;实验测量辐射体的Kα和Kβ特征X射线的强度,并通过探测效率修正得到强度比值Lmea;更换K荧光辐射装置中的辐射体,并根据上述步骤计算得到多组的强度比值Lmc及强度比值Lmea;判断每组的强度比值Lmc与强度比值Lmea的误差是否小于预设值;若否,则调整探测器的晶体尺寸及死区厚度;重复循环上述步骤,直至每组强度比值Lmc与强度比值Lmea的误差小于预设值。上述探测器探测效率的刻度方法,能快速精确地对探测器的探测效率进行刻度,可避免放射源自身和环境限制,以及效率刻度偏差大的缺点。
-
公开(公告)号:CN117518228A
公开(公告)日:2024-02-06
申请号:CN202311446334.7
申请日:2023-11-01
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及一种X射线偏振度直接测量装置及方法,入射的X射线在光电转换结构发生光电效应,产生携带偏振信息的光电子,光电子经过电子倍增器进行电荷放大后,像素板记录放大后的光电子的运动轨道。信号输出单元接收光电子的运动轨迹,并根据运动轨迹重建得到出射电子的方向,进而测量获得入射X射线的偏振度。上述X射线偏振度直接测量装置及方法,将气体像素探测器作为焦平面探测器,测量入射X光子发生光电效应的光电子径迹,由径迹重建得到出射电子的方向,从而直接测量获得入射X射线的偏振度,能够高效灵敏的探测来自宇宙极端环境下的X射线,通过X射线偏振测量获得X射线源的几何形状、磁场强度和起源等重要信息。
-
公开(公告)号:CN118248373A
公开(公告)日:2024-06-25
申请号:CN202410352701.5
申请日:2024-03-26
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及一种偏振X射线源及偏振X射线的产生方法,偏振X射线源包括机架、X射线光管、第一衍射机构、第二衍射机构及探测器,X射线光管、第一衍射机构、第二衍射机构及探测器安装于机架上。第一衍射机构用于将X射线光管产生的连续谱无偏X射线衍射后转变成线偏振X射线,并将线偏振X射线偏转,第二衍射机构用于将偏转后的线偏振X射线再次衍射偏转被探测器介绍。上述偏振X射线源及偏振X射线的产生方法,利用晶体在45度布儒斯特角下衍射后产生线偏振X射线的原理,设计了晶体二次衍射产生线偏振X射线的光源装置,X射线经过两次偏转实现平行射出,可以方便探测器对能谱进行采集,采集能谱没有造成困难。
-
公开(公告)号:CN117572485A
公开(公告)日:2024-02-20
申请号:CN202311550621.2
申请日:2023-11-20
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及一种基于荧光X射线的剂量仪能量响应实验方法及系统,通过获得探测器的能谱展宽公式,建立探测器响应模型,并根据能谱展宽公式获得探测器响应模型的响应矩阵。然后,测量辐射体的脉冲幅度谱,并利用解谱程序对其进行解谱得到X射线注量谱,从而计算空气比释动能到剂量的转换系数,由此得到辐射场的任何一点的剂量约定真值。通过剂量仪测量的剂量值与剂量约定真值,计算得到剂量仪的能量响应。该方法相较于传统的电离室传递,使用能谱测量方法,通过解谱获得剂量的约定真值,降低了剂量约定真值计算的不确定度,从而提高了精确度,降低剂量仪能量响应测量的不确定度。
-
-
-
-
-