公开(公告)号：CN118883600A

公开(公告)日：2024-11-01

申请号：CN202410921546.4

申请日：2024-07-10

Applicant: 中国计量科学研究院

Inventor： 郭思明 ,  王振 ,  黄仕葵 ,  李知微 ,  舒子瑶 ,  周幸 ,  樊丽鹏

IPC: G01N23/223

Abstract: 本发明公开了一种布拉格衍射效率测量方法及系统，方法包括：调整入射光源装置的射线能量，在晶体与入射光之间夹角为零的状态下，记录标准探测器探测到的射线强度数值；调整晶体与入射光之间的夹角，记录标准探测器探测到的最高射线强度数值；保持晶体与入射光之间的夹角不变，取走晶体，记录标准探测器探测到的数值；由标准探测器探测到的数值来计算晶体的布拉格衍射效率。本发明技术方案提高了实验的精确性和准确性，衍射效率的测量可用于验证实验结果的准确性，提供了一个检验实验条件和数据解释的工具，确保研究的可重复性和可靠性，且推动了晶体衍射效率研究的进展。

公开(公告)号：CN118818589A

公开(公告)日：2024-10-22

申请号：CN202410863464.9

申请日：2024-06-29

Applicant: 中国计量科学研究院

Inventor： 郭思明 ,  李知微 ,  王振

IPC: G01T7/00 ,  G01T1/185

Abstract: 本发明公开了基于单能X射线的电离室能量响应测量方法及系统，方法将单能X射线装置对准标准探测器并设置，检测预设时间内的单能峰的计数；结合探测效率得到单能X射线装置的输出；保持设置不变，将单能X射线装置对准待测电离室设备，记录待测电离室设备初始阶段的电荷值、单能X射线装置开启预设时间后的电荷值；计算累积电荷；将待测电离室设备的累积电荷除以单能X射线装置的输出，得到当前的能量响应；调整输出值，重复前述步骤，获得预设能量范围内的能量响应曲线。方案能快速精确地对电离室的能量范围与能量响应的测试，可避免标准源因放射源自身和环境限制以及蒙特卡罗模拟因无法获取精确的探测器参数而导致偏差的缺点。