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公开(公告)号：CN118818589A
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202410863464.9
申请日：2024-06-29
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明公开了基于单能X射线的电离室能量响应测量方法及系统，方法将单能X射线装置对准标准探测器并设置，检测预设时间内的单能峰的计数；结合探测效率得到单能X射线装置的输出；保持设置不变，将单能X射线装置对准待测电离室设备，记录待测电离室设备初始阶段的电荷值、单能X射线装置开启预设时间后的电荷值；计算累积电荷；将待测电离室设备的累积电荷除以单能X射线装置的输出，得到当前的能量响应；调整输出值，重复前述步骤，获得预设能量范围内的能量响应曲线。方案能快速精确地对电离室的能量范围与能量响应的测试，可避免标准源因放射源自身和环境限制以及蒙特卡罗模拟因无法获取精确的探测器参数而导致偏差的缺点。
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公开(公告)号：CN110673661A
公开(公告)日：2020-01-10
申请号：CN201810799849.8
申请日：2018-07-20
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G05D7/06
Abstract: 本发明提供一种高精度配气方法及装置，该方法采用多个具有相同额定流程的单一流程的流量控制器实现；该方法包括：接收预设配气浓度值并据此确定用于输入样气的流量控制器的个数m以及用于输入底气的流量控制器的个数n；将m个流量控制器与样气通道连通，n个流量控制器与底气通道连通。该装置包括：多个具有相同额定流程的单一流程的流量控制器；进气控制阀，与流量控制器的进口端相连；处理器，与进气控制阀相连，用于将m个流量控制器与样气管道相连通，将n个流量控制器与底气管道相连通。本发明能避免高精度流量计的修正系数带入最终的配气浓度计算中，实现高精度配气。
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公开(公告)号：CN118883600A
公开(公告)日：2024-11-01
申请号：CN202410921546.4
申请日：2024-07-10
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明公开了一种布拉格衍射效率测量方法及系统，方法包括：调整入射光源装置的射线能量，在晶体与入射光之间夹角为零的状态下，记录标准探测器探测到的射线强度数值；调整晶体与入射光之间的夹角，记录标准探测器探测到的最高射线强度数值；保持晶体与入射光之间的夹角不变，取走晶体，记录标准探测器探测到的数值；由标准探测器探测到的数值来计算晶体的布拉格衍射效率。本发明技术方案提高了实验的精确性和准确性，衍射效率的测量可用于验证实验结果的准确性，提供了一个检验实验条件和数据解释的工具，确保研究的可重复性和可靠性，且推动了晶体衍射效率研究的进展。
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公开(公告)号：CN209254647U
公开(公告)日：2019-08-16
申请号：CN201821154827.8
申请日：2018-07-20
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本实用新型提供一种高精度配气装置，该装置包括：多个具有相同额定流程的单一流程的流量控制器；进气控制阀，与流量控制器的进口端相连，用于控制所述流量控制器是否与所述样气通道和底气通道的其中一个相连通；处理器，与进气控制阀相连，用于将m个流量控制器与样气管道相连通，将n个流量控制器与底气管道相连通。本实用新型能避免高精度流量计的修正系数带入最终的配气浓度计算中，实现高精度配气。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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