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公开(公告)号:CN118071597A
公开(公告)日:2024-05-24
申请号:CN202311568986.8
申请日:2023-11-22
Applicant: 中国计量大学
IPC: G06T3/4053 , G06T5/50 , G06T5/00 , G06T5/70 , G06T3/4007 , G06T5/10 , G06N3/0464 , G06N3/084 , G06N3/126
Abstract: 本发明涉及白光干涉图像处理的高精度端面检测技术领域,具体涉及一种基于卷积神经网络的光纤连接器及半导体材料表面采样图像超分辨率重建技术。包括步骤:使用CCD相机拍摄并收集高分辨率端面图像数据,并对数据进行退化,对退化后的低分辨率图像提取像素点干涉曲线,之后利用傅里叶变换以及遗传算法拟合包络线,找到曲线最高点并进行处理,最终可得到该像素点相对高度值,再使用改进过后的滤波技术剔除噪声点后,最终再运用超分辨率技术,重建为高分辨率端面图像。与往常方法相比,使用超分辨率技术预处理和傅里叶变换以及遗传算法拟合包络线的方式,既可以大幅度减少系统运算的数据,还可以确保图像的重建精度。