高性能电子控制器可靠性分析方法

    公开(公告)号:CN112487638A

    公开(公告)日:2021-03-12

    申请号:CN202011359528.X

    申请日:2020-11-27

    Abstract: 本发明提供一种高性能电子控制器可靠性分析方法,包括S1:收集电子控制器的可靠性分析信息;S2:对电子控制器进行结构建模;S3:在结构建模的基础上,根据电子控制器承受的应力类型,分别建立相应的损伤模型;S4:根据电子控制器的工况,计算每种应力的量值;S5:将每种应力的量值输入对应的损伤模型,计算电子控制器的故障信息矩阵,确定电子控制器的可靠性薄弱环节;S6:通过可靠性评估算法对故障信息矩阵进行分析处理,给出电子控制器的可靠性水平。本方法提供了一种高性能电子控制器可靠性分析方法,通过仿真方法分析出电子控制器的薄弱部位,进而计算出电子控制器的可靠性指标,实现了对电子控制器的可靠性评估。

    用于PBGA封装互连焊点随机振动载荷下的可靠性分析方法

    公开(公告)号:CN109211500A

    公开(公告)日:2019-01-15

    申请号:CN201810778566.5

    申请日:2018-07-16

    Abstract: 本发明是一种用于PBGA封装互连焊点随机振动载荷下的可靠性分析方法,方法是基于完成验证的有限元仿真模型,通过随机振动分析得到器件中心下方印制电路板处的位移结果,并根据随机振动试验得到的失效时间,通过威布尔分布拟合得到焊点的疲劳寿命,最后基于有限元仿真分析的位移结果并引入位置函数,对预测焊点疲劳寿命的Steinberg模型进行修正,使得预测的焊点疲劳寿命与威布尔分布拟合得到的疲劳寿命的误差在100%内,满足工程上运用修正的Steinberg模型进行焊点疲劳寿命预测的要求。

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