-
公开(公告)号：CN117854577A
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202311792918.X
申请日：2023-12-22
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 在实际工程测试中，一般采用外接的直流电源分析仪来对器件的电流进行实时监测，体积笨重且价格昂贵，而且还需要外接复杂的线缆，杂乱无序，不利于实际试验的开展。为解决器件实际测试过程中遇到的工程问题，本发明提出了一种基于电流监测的3D NAND存储器辐照效应测试装置，并提供了完整的硬件实现电路，在设计硬件测试电路时新增一种电流监测模块，实时观测实验中3D NAND存储器的电学参数变化，可以省掉辐照实验中专门用于给3DNAND存储器电流监测的直流电源分析仪设备，使用简便，节约成本，提高测试效率。
-
公开(公告)号：CN116243139A
公开(公告)日：2023-06-09
申请号：CN202211678453.0
申请日：2022-12-26
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明涉及一种用于模拟集成电路应用验证测试系统的辅助控制模块，包括：供电电源，用于为被测验证器件提供供电电源和一次电源电压信号；电压转换单元，将一次电源电压信号转换为被测验证器件芯片通用电压信号；信号源，用于产生直流信号、正弦信号、方波信号；信号选择单元，根据信号源选通控制指令，控制信号源输出一种信号作为被验证器件的输入信号；信号滤波单元，将被验证器件的输入信号进行低通滤波后；负载选择单元，在负载选通控制指令控制下，从多个负载中选择其中一种连接到被验证器件中；控制计算机，向信号选择单元输出信号源选通控制指令，向负载选择单元输出负载选通控制指令；示波器，用于监测被验证器件的测试信号。
-
公开(公告)号：CN112034321A
公开(公告)日：2020-12-04
申请号：CN202010769032.3
申请日：2020-08-03
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明涉及一种快速软恢复二极管功能性能的评估方法，特别涉及一种基于安全工作区验证的快速软恢复二极管功能性能的评估方法，属于元器件应用验证技术领域。通过对快速软恢复二极管进行全面的功能性能评估来检验快速软恢复二极管是否满足应用要求，评估内容包括不同温度条件下正向电压与正向电流关联特性、不同温度条件下反向耐压与反向漏电流关联特性、不同温度条件下反向恢复特性、反向恢复时间与温度的关联特性、反向恢复电流与温度的关联特性、稳态功率安全工作区验证和浪涌功率安全工作区验证。该方法结合用户需求和器件特性给出了基于安全工作区验证的快速软恢复二极管的功能性能的全面的验证项目。
-
公开(公告)号：CN107677898B
公开(公告)日：2020-02-14
申请号：CN201710694510.7
申请日：2017-08-15
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/00
Abstract: 一种地面与在轨环境相结合的器件抗总剂量能力确定方法，该方法包括：对器件在轨电离辐射总剂量环境参数的确定，根据在轨电离辐射总剂量参数确定器件地面辐照试验的性能测试剂量点和辐照试验的剂量率，通过地面辐照试验确定器件电离辐射总剂量敏感参数，对器件进行在轨试验并实时检测器件的敏感参数的变化及器件所承受的电离辐射总剂量值，进而确定器件的抗辐射电离总剂量能力。本发明将地面辐照试验与轨道环境结合来确定器件的抗电离辐射总剂量能力，具有更准确的特点。
-
公开(公告)号：CN109831349A
公开(公告)日：2019-05-31
申请号：CN201811614590.1
申请日：2018-12-27
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 一种SpaceWire总线自由拓扑误码率测试系统及方法，基于SpaceWire误码率测试装置实现，通过在不同控制器工作模式、路由器连接模式、数据传输种类自由组合的多种复杂情况下，通过测定不同控制器的输入、输出端数据码位的误码情况来判定SpaceWire元器件的误码率，解决了现有技术缺少判定误码率容易导致传输过程出现数据损坏、丢失、变性等错误的问题，具有置信度高，测试时间短的特点。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104851467B
公开(公告)日：2017-12-22
申请号：CN201510260259.4
申请日：2015-05-20
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G11C29/56
Abstract: 一种宇航用带EDAC功能SRAM存储器功能验证方法，通过对带EDAC功能SRAM存储器进行全面的功能性能验证来检验带EDAC功能SRAM存储器是否满足于宇航应用要求，验证内容包括带EDAC功能SRAM存储器在EDAC开启和关闭情况下的March C算法验证、1bit注错验证和2bit注错验证。该方法将March C算法的数据背景扩展为32位字定向的算法，同时增加数据保持故障的验证；结合故障注入的EDAC测试程序作为宇航用带EDAC功能SRAM存储器的验证方法。
-
公开(公告)号：CN104297586B
公开(公告)日：2017-03-15
申请号：CN201410484710.6
申请日：2014-09-22
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/00
Abstract: 一种功率器件的地面与在轨寿命结合性试验评估方法，其特征在于包括如下步骤，进行地面加速寿命试验,确定功率器件的加速试验的加速因子,选取GaAs微波功率器件，确定结温，搭建加速寿命试验平台，设定测试时间、测试参数和测试条件,在不同加速因子条件下同时地面加速寿命试验,采用威布尔图估法进行数据处理,外推寿命,进行在轨试验,在轨试验样品选定,装机飞行,在轨监测，实时监测上述在轨试验样品的直流参数和微波参数变化，在时间轴上观察GaAs微波功率器件参数变化趋势和变化量；根据参数改变来预测GaAs微波功率器件的参数退化，外推寿命，预计器件寿命水平。
-
公开(公告)号：CN102937698A
公开(公告)日：2013-02-20
申请号：CN201210390638.1
申请日：2012-10-15
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/3167
Abstract: 一种DC/DC转换器单粒子效应检测系统及检测方法，系统包括输出电压调整电路、输入保护电路、电源及其监测电路、多路采集电路以及控制与数据处理系统；检测时，控制与数据处理系统给电源及其监测电路发出控制信号令电源及其监测电路给被测DC/DC器件提供工作电压，输入保护电路对被测DC/DC的输入端进行保护；被测DC/DC转换器的输出端连接有负载电阻，输出端的输出电压通过输出电压调整电路后由多路采集电路进行采集，再送入控制与数据处理系统，通过对开冒后的被测DC/DC转换器的辐照敏感区域进行高能粒子照射，对比照射前后控制与数据处理系统接收到的电压信号，从而得出是否发生单粒子效应的结论。
-
公开(公告)号：CN108492846A
公开(公告)日：2018-09-04
申请号：CN201810129656.1
申请日：2018-02-08
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种基于宇航应用的PROM评价方法，所述方法包括如下步骤：步骤一：对元器件级进行评价；其中，元器件级评价包括存储单元评价、存储单元-存储关联特性评价和元器件级功能性能分析；步骤二：对板级进行评价；其中，板级评价包括基本功能验证、端口时序验证、电源拉偏测试、上下电测试和与CPU匹配测试；步骤三：对编程器进行评价；其中，编程器评价包括编程器输出稳定性分析和编程后电阻一致性分析。本发明能够全面的对PROM器件进行评价，对于PROM的评价具有重要意义。
-
公开(公告)号：CN104866400A
公开(公告)日：2015-08-26
申请号：CN201510260206.2
申请日：2015-05-20
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 一种1553B总线控制器协议控制功能的验证方法，分别将待验证的1553B总线控制器配置为BC模式、RT模式及MT模式，使BC模式的1553B总线控制器朝RT模式的1553B总线控制器发送符合1553B通信协议的总线信号并开始通信，在总线信号传输过程中，将故障注入到总线信号中并输出到1553B总线上，最后通过判断待验证的1553B总线控制器的响应是否符合设计标准完成验证。本发明方法与现有的基于正向激励的测试方法相比，能够更好的覆盖1553B总线控制器协议控制功能验证测试中异常状态下的工作环境，提高了验证试验的有效性，并可以移植到其它型号的总线控制器协议控制功能验证试验中。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
41
records
(took 0.024 seconds)
