公开(公告)号：CN107545098B

公开(公告)日：2020-09-18

申请号：CN201710631110.1

申请日：2017-07-28

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 于庆奎 ,  孙毅 ,  罗磊 ,  张洪伟 ,  唐民 ,  陈佳怡

IPC: G06F30/20 ,  G01N17/00

Abstract: 本发明涉及化合物器件空间连续谱质子位移损伤地面等效评估方法，该方法能够用于指导评估宇航用化合物器件在空间辐射环境中因位移损伤效应造成的性能退化情况，获得器件抗位移损伤能力的准确数据，为器件抗辐射加固设计提供依据，也为宇航型号选择抗辐射能力满足要求的器件和进行应用加固设计提供参考数据，属于化合物器件的宇航应用技术领域。

公开(公告)号：CN107545098A

公开(公告)日：2018-01-05

申请号：CN201710631110.1

申请日：2017-07-28

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 于庆奎 ,  孙毅 ,  罗磊 ,  张洪伟 ,  唐民 ,  陈佳怡

IPC: G06F17/50 ,  G01N17/00

Abstract: 本发明涉及化合物器件空间连续谱质子位移损伤地面等效评估方法，该方法能够用于指导评估宇航用化合物器件在空间辐射环境中因位移损伤效应造成的性能退化情况，获得器件抗位移损伤能力的准确数据，为器件抗辐射加固设计提供依据，也为宇航型号选择抗辐射能力满足要求的器件和进行应用加固设计提供参考数据，属于化合物器件的宇航应用技术领域。