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公开(公告)号：CN108648169A
公开(公告)日：2018-10-12
申请号：CN201810228904.8
申请日：2018-03-20
Applicant: 中国科学院自动化研究所
CPC classification number: G06T7/0008 , G06Q50/06 , G06T7/11 , G06T7/136 , G06T7/73 , G06T2207/20081 , G06T2207/20084 , G06T2207/30164
Abstract: 本发明属于高压输电技术领域，具体涉及一种高压输电塔绝缘子缺陷自动识别的方法及装置。旨在解决现有技术无法自动识别绝缘子缺陷的问题。本发明提供一种高压输电塔绝缘子缺陷自动识别的方法，包括基于获取的高压输电塔绝缘子的图像数据，利用预先构建的定位网络模型定位出绝缘子在图像数据中的区域位置；通过预先构建的区域裁剪网络模型对区域位置进行裁剪，得到优化区域位置；利用预先构建的深度残差网络对优化区域位置进行绝缘子识别，再次利用深度残差网络对绝缘子中缺陷进行识别，标记绝缘子缺陷的位置信息。本发明能够自动从图像中识别出绝缘子的位置，并且在其基础上识别出绝缘子的缺陷，提高了识别的精度和准度。
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公开(公告)号：CN117415808A
公开(公告)日：2024-01-19
申请号：CN202311376991.9
申请日：2023-10-20
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所 , 中国科学院自动化研究所
IPC: B25J9/16
Abstract: 本发明提供一种部件装配方法，包括：获取机械臂夹持的待安装部件的状态信息；所述状态信息包括三维力、三维力矩和位姿；将所述状态信息输入至装配模型，获取所述装配模型输出的预测动作；基于所述预测动作生成动作指令；所述动作指令用于控制所述机械臂移动；向所述机械臂发送所述动作指令；所述机械臂用于装配所述待安装部件；其中，所述装配模型为基于状态信息样本集合对双延迟性深度确定性策略梯度学习网络进行训练后得到的。本发明实施例提供的部件装配方法，通过基于双延迟性深度确定性策略梯度学习网络对机械臂的动作进行预测，控制机械臂夹持待安装部件进行安装，实现了部件安装自动化。
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公开(公告)号：CN110031471A
公开(公告)日：2019-07-19
申请号：CN201910414436.8
申请日：2019-05-17
Applicant: 中国科学院自动化研究所
Abstract: 本发明属于机器视觉表面缺陷检测领域，具体涉及一种大口径光学元件表面缺陷增长分析方法、系统、装置，旨在解决精密光学元件缺陷信息的追溯缺少依据的问题。本系统方法包括获取光学元件t时刻表面缺陷图像及缺陷信息Db和t+1时刻表面缺陷图像及缺陷信息Df；选取光学元件t时刻的基准点O1和角度A1，利用模板匹配获取t+1时刻O1的匹配点O2和角度A2；以匹配点O2为基准，将Db转换为转换缺陷信息Dbc；将转换缺陷信息Dbc和缺陷信息Df进行匹配，若匹配结果大于设定阈值，判定为同一缺陷，否则重新获取缺陷图像；判定为同一缺陷的，根据Dbc和Df中缺陷等效长度变化，获取光学元件缺陷增长情况。本发明准确实现大口径光学元件表面缺陷检测的增长分析，为精密光学元件缺陷信息追溯提供依据。
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公开(公告)号：CN116952127A
公开(公告)日：2023-10-27
申请号：CN202310605492.6
申请日：2023-05-26
Applicant: 中国科学院自动化研究所 , 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
Abstract: 本发明提供一种零部件的位姿测量和对准方法及装置，其中的方法包括：通过视觉系统对零部件进行图像采集，获取输入图像；将输入图像输入至预先训练的目标分割网络，获取零部件的实时位置；通过测距系统测量零部件与目标位置的距离，根据距离计算零部件的实时姿态；基于零部件的实时位置和实时姿态，将零部件与目标位置对准。在本发明中，通过将视觉系统获取的输入图像输入至训练好的分割网络，得到零部件的实时位置，结合通过测距系统获取的零部件的实时姿态，得到零部件的实时位姿，从而实现零部件与目标位置的精确对准，有效地提高了零部件在装配过程中位姿测量和对准的精度。
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公开(公告)号：CN112658643B
公开(公告)日：2022-07-01
申请号：CN202011606810.3
申请日：2020-12-30
Applicant: 中国科学院自动化研究所
Abstract: 本发明属于精密装配技术领域，旨在解决现有的插接件装配方法无法同时满足高精度、高自由度装配要求的问题，具体涉及一种插接件装配方法，包括获取待装配零件的母头图像，作为输入图像；通过训练好的网络获取包含凹槽的椭圆环区域图像，提取椭圆轮廓并进行椭圆拟合，获取椭圆中心点及N个内部点的三维坐标；同时结合母头期望中心点，进行平面拟合获取单位法向量和位移量，计算机械臂末端的期望位置、转轴和转角，进行图像采集装置与母头的对准调整；采集正对母头图像，获取凹槽特征点的位姿信息，并结合母头期望位姿信息获取位姿偏差值，以进行公头与母头的精对准调整；通过本发明可实现插接件的高精度、高自由度装配。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108648169B
公开(公告)日：2020-11-10
申请号：CN201810228904.8
申请日：2018-03-20
Applicant: 中国科学院自动化研究所
Abstract: 本发明属于高压输电技术领域，具体涉及一种高压输电塔绝缘子缺陷自动识别的方法及装置。旨在解决现有技术无法自动识别绝缘子缺陷的问题。本发明提供一种高压输电塔绝缘子缺陷自动识别的方法，包括基于获取的高压输电塔绝缘子的图像数据，利用预先构建的定位网络模型定位出绝缘子在图像数据中的区域位置；通过预先构建的区域裁剪网络模型对区域位置进行裁剪，得到优化区域位置；利用预先构建的深度残差网络对优化区域位置进行绝缘子识别，再次利用深度残差网络对绝缘子中缺陷进行识别，标记绝缘子缺陷的位置信息。本发明能够自动从图像中识别出绝缘子的位置，并且在其基础上识别出绝缘子的缺陷，提高了识别的精度和准度。
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公开(公告)号：CN108827969A
公开(公告)日：2018-11-16
申请号：CN201810228901.4
申请日：2018-03-20
Applicant: 中国科学院自动化研究所
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明属于机器视觉技术领域，具体涉及一种金属表面缺陷检测与识别方法及装置。旨在解决现有技术在不同的环境下检测和识别精度低的问题。本发明提供一种金属表面缺陷检测与识别方法，包括基于获取的金属零件表面的原始图像，通过预先构建的表面缺陷检测模型对原始图像进行缺陷检测，得到缺陷区域位置；对缺陷区域位置进行轮廓检测，分别得到第一缺陷轮廓和第二缺陷轮廓；将第一缺陷轮廓与第二缺陷轮廓输入预先构建的表面缺陷分类模型，识别出金属零件表面的缺陷类别。本发明的方法具有全自动和检测精度高的优点。
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公开(公告)号：CN112658643A
公开(公告)日：2021-04-16
申请号：CN202011606810.3
申请日：2020-12-30
Applicant: 中国科学院自动化研究所
Abstract: 本发明属于精密装配技术领域，旨在解决现有的插接件装配方法无法同时满足高精度、高自由度装配要求的问题，具体涉及一种插接件装配方法，包括获取待装配零件的母头图像，作为输入图像；通过训练好的网络获取包含凹槽的椭圆环区域图像，提取椭圆轮廓并进行椭圆拟合，获取椭圆中心点及N个内部点的三维坐标；同时结合母头期望中心点，进行平面拟合获取单位法向量和位移量，计算机械臂末端的期望位置、转轴和转角，进行图像采集装置与母头的对准调整；采集正对母头图像，获取凹槽特征点的位姿信息，并结合母头期望位姿信息获取位姿偏差值，以进行公头与母头的精对准调整；通过本发明可实现插接件的高精度、高自由度装配。
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公开(公告)号：CN108827969B
公开(公告)日：2020-07-24
申请号：CN201810228901.4
申请日：2018-03-20
Applicant: 中国科学院自动化研究所
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明属于机器视觉技术领域，具体涉及一种金属表面缺陷检测与识别方法及装置。旨在解决现有技术在不同的环境下检测和识别精度低的问题。本发明提供一种金属表面缺陷检测与识别方法，包括基于获取的金属零件表面的原始图像，通过预先构建的表面缺陷检测模型对原始图像进行缺陷检测，得到缺陷区域位置；对缺陷区域位置进行轮廓检测，分别得到第一缺陷轮廓和第二缺陷轮廓；将第一缺陷轮廓与第二缺陷轮廓输入预先构建的表面缺陷分类模型，识别出金属零件表面的缺陷类别。本发明的方法具有全自动和检测精度高的优点。
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公开(公告)号：CN110031471B
公开(公告)日：2020-06-16
申请号：CN201910414436.8
申请日：2019-05-17
Applicant: 中国科学院自动化研究所
Abstract: 本发明属于机器视觉表面缺陷检测领域，具体涉及一种大口径光学元件表面缺陷增长分析方法、系统、装置，旨在解决精密光学元件缺陷信息的追溯缺少依据的问题。本系统方法包括获取光学元件t时刻表面缺陷图像及缺陷信息Db和t+1时刻表面缺陷图像及缺陷信息Df；选取光学元件t时刻的基准点O1和角度A1，利用模板匹配获取t+1时刻O1的匹配点O2和角度A2；以匹配点O2为基准，将Db转换为转换缺陷信息Dbc；将转换缺陷信息Dbc和缺陷信息Df进行匹配，若匹配结果大于设定阈值，判定为同一缺陷，否则重新获取缺陷图像；判定为同一缺陷的，根据Dbc和Df中缺陷等效长度变化，获取光学元件缺陷增长情况。本发明准确实现大口径光学元件表面缺陷检测的增长分析，为精密光学元件缺陷信息追溯提供依据。
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