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公开(公告)号:CN103996673B
公开(公告)日:2017-02-15
申请号:CN201410220512.9
申请日:2014-05-22
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所
IPC: H01L23/552 , G21F1/12
Abstract: 本发明涉及一种提高器件抗电离辐射总剂量效应的方法,包括以下步骤:1)制作单层结构复合材料:2)制作多层结构复合材料:3)测量电子束在复合材料中的透射系数:4)采用蒙特卡洛粒子输运方法模拟计算材料的理论透射系数:5)修正电子透射系数;6)采用屏蔽效果最好的复合材料,在器件的相应芯片处进行二次封装。本发明在保证屏蔽效果最好的同时,使封装质量最小,可提高航天器器件抗电离辐射总剂量效应。
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公开(公告)号:CN103996673A
公开(公告)日:2014-08-20
申请号:CN201410220512.9
申请日:2014-05-22
Applicant: 中国科学院新疆理化技术研究所
IPC: H01L23/552 , G21F1/12
Abstract: 本发明涉及一种提高器件抗电离辐射总剂量效应的方法,包括以下步骤:1)制作单层结构复合材料:2)制作多层结构复合材料:3)测量电子束在复合材料中的透射系数:4)采用蒙特卡洛粒子输运方法模拟计算材料的理论透射系数:5)修正电子透射系数;6)采用屏蔽效果最好的复合材料,在器件的相应芯片处进行二次封装。本发明在保证屏蔽效果最好的同时,使封装质量最小,可提高航天器器件抗电离辐射总剂量效应。
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