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公开(公告)号:CN108110097A
公开(公告)日:2018-06-01
申请号:CN201810034773.X
申请日:2018-01-15
Applicant: 中国科学院半导体研究所
IPC: H01L33/02 , H01L21/324 , H01L33/00
Abstract: 一种GaN基LED器件,包括:一衬底;一成核层,其制作在衬底上;一非掺杂GaN层,其制作在成核层上;一n型层,其制作在非掺杂GaN层上;一发光层,其制作在n型层上;一p型层,其制作在发光层上。本发明具有制备时间短,成本低廉的优点,可大规模制备,提高了外延材料质量和器件性能。
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公开(公告)号:CN109841708B
公开(公告)日:2022-05-31
申请号:CN201711217590.3
申请日:2017-11-28
Applicant: 中国科学院半导体研究所
IPC: H01L33/00 , H01L33/12 , H01L21/02 , H01L21/324
Abstract: 本公开提供了一种半导体器件及其制备方法。其中,所述半导体器件的制备方法,包括以下步骤:在衬底上溅射沉积AlN缓冲层;以及采用MOCVD工艺在所述AlN缓冲层上形成功能层,完成所述半导体器件的制备。本公开半导体器件及其制备方法,制备时间短,成本低廉,可大规模制备,提高了外延材料质量和器件性能,实现了大型工业MOCVD批量化生产。
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公开(公告)号:CN109841708A
公开(公告)日:2019-06-04
申请号:CN201711217590.3
申请日:2017-11-28
Applicant: 中国科学院半导体研究所
IPC: H01L33/00 , H01L33/12 , H01L21/02 , H01L21/324
Abstract: 本公开提供了一种半导体器件及其制备方法。其中,所述半导体器件的制备方法,包括以下步骤:在衬底上溅射沉积AlN缓冲层;以及采用MOCVD工艺在所述AlN缓冲层上形成功能层,完成所述半导体器件的制备。本公开半导体器件及其制备方法,制备时间短,成本低廉,可大规模制备,提高了外延材料质量和器件性能,实现了大型工业MOCVD批量化生产。
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公开(公告)号:CN207765474U
公开(公告)日:2018-08-24
申请号:CN201820059394.1
申请日:2018-01-15
Applicant: 中国科学院半导体研究所
IPC: H01L33/02
Abstract: 一种GaN基LED器件,包括:一衬底;一成核层,其制作在衬底上;一非掺杂GaN层,其制作在成核层上;一n型层,其制作在非掺杂GaN层上;一发光层,其制作在n型层上;一p型层,其制作在发光层上。本实用新型具有制备时间短,成本低廉的优点,可大规模制备,提高了外延材料质量和器件性能。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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