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公开(公告)号:CN112179291B
公开(公告)日:2022-03-29
申请号:CN202011008958.7
申请日:2020-09-23
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明公开了一种自旋转扫描式线结构光三维测量装置标定方法,属于三维测量技术领域。自旋转扫描式线结构光三维测量装置主要由线结构光轮廓测量仪和高精度转台构成,通常自旋转扫描式线结构光三维测量装置的坐标系基于高精度旋转台的旋转轴心建立,与线结构光轮廓测量仪坐标系并不重合,而二者之间的位置关系通过机械安装并不能精确确定。本发明的标定方法借助平面靶标,实现对线结构光轮廓测量仪的坐标系和自旋转扫描式线结构光三维测量装置的坐标系之间位置参数的标定,该方法简便有效,有利于提高自旋转扫描式线结构光三维测量装置的测量精度。
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公开(公告)号:CN112179291A
公开(公告)日:2021-01-05
申请号:CN202011008958.7
申请日:2020-09-23
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明公开了一种自旋转扫描式线结构光三维测量装置标定方法,属于三维测量技术领域。自旋转扫描式线结构光三维测量装置主要由线结构光轮廓测量仪和高精度转台构成,通常自旋转扫描式线结构光三维测量装置的坐标系基于高精度旋转台的旋转轴心建立,与线结构光轮廓测量仪坐标系并不重合,而二者之间的位置关系通过机械安装并不能精确确定。本发明的标定方法借助平面靶标,实现对线结构光轮廓测量仪的坐标系和自旋转扫描式线结构光三维测量装置的坐标系之间位置参数的标定,该方法简便有效,有利于提高自旋转扫描式线结构光三维测量装置的测量精度。
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