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公开(公告)号：CN106091903B
公开(公告)日：2018-10-26
申请号：CN201610365519.9
申请日：2016-05-27
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种基于双平面定基准的大型旋臂弯沉量检测方法及装置，其精密轴系固定在平台上，旋臂依靠法兰盘固定在精密轴系上；第一平面镜与第二平面镜分别安装在两个四维调整架上，再分别安装在旋臂的中心和边缘两个位置；自准直仪安装在二维平移台上，放置在第一平面镜正前方；对准基片套在第一平面镜的圆周处，十字与小孔标识与第一平面镜的镜面平行。精密轴系带动旋臂及两块平面镜一起做匀速圆周运动，自准直仪发出的激光经两块平面镜反射形成自准直光路，实现对旋臂弯沉量的测试。本发明装置搭建简单、检测基准有效并准确传递、稳定性好。
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公开(公告)号：CN103278109B
公开(公告)日：2015-08-26
申请号：CN201310198707.3
申请日：2013-05-24
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明一种星用扫描角监控器测角精度检测装置，其中小平面镜连接与扫描角监控器的安装基面位置处；星用扫描角监控器安装在二维倾斜台上并放置在二维平移台上；双面模拟摆镜安装在三维调整台上并放置在数显转台上；第一自准直仪、第二自准直仪放置在升降架上；二维平移台、数显转台、升降架放置在检测平台的台面上；芯轴套入数显转台的中心孔中，标准圆器放置于标准块上，并靠紧芯轴；激光器发出的激光束对准五折镜的中心棱镜，形成一检测基准光轴；千分表固定在检测平台上；量块放置于数显转台上方及星用扫描角监控器和双面模拟摆镜之间，量块的一面靠近星用扫描角监控器的安装基面，另一面靠近双面模拟摆镜的第一光学面。
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公开(公告)号：CN117516422A
公开(公告)日：2024-02-06
申请号：CN202311500538.4
申请日：2023-11-13
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种确定测量基准旋转轴的姿态的装置及其测量方法，能够组合使用自准直仪、旋转台和基准棱镜，建立起一个测量系统，测量并量化出基准旋转轴的姿态，以利于后续加工、检测、装配等使用。该装置包括自准直仪，旋转台，基准棱镜，支撑台，隔振台，显示控制器，利用基准棱镜的两个相互平行的平面，使用自准直法，转动旋转台分别测量并确定这两个平面与自准直仪光轴在俯仰方向的夹角，则由基准棱镜相邻面之间垂直的关系，通过基准转化可以计算出自准直仪光轴与旋转台旋转轴之间的夹角，从而建立起一个测量系统，测量并量化出基准旋转轴的姿态。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103278109A
公开(公告)日：2013-09-04
申请号：CN201310198707.3
申请日：2013-05-24
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明一种星用扫描角监控器测角精度检测装置，其中小平面镜连接与扫描角监控器的安装基面位置处；星用扫描角监控器安装在二维倾斜台上并放置在二维平移台上；双面模拟摆镜安装在三维调整台上并放置在数显转台上；第一自准直仪、第二自准直仪放置在升降架上；二维平移台、数显转台、升降架放置在检测平台的台面上；芯轴套入数显转台的中心孔中，标准圆器放置于标准块上，并靠紧芯轴；激光器发出的激光束对准五折镜的中心棱镜，形成一检测基准光轴；千分表固定在检测平台上；量块放置于数显转台上方及星用扫描角监控器和双面模拟摆镜之间，量块的一面靠近星用扫描角监控器的安装基面，另一面靠近双面模拟摆镜的第一光学面。
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公开(公告)号：CN117419664A
公开(公告)日：2024-01-19
申请号：CN202311508714.9
申请日：2023-11-13
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种大范围高精度空间角度测量装置及测量方法，测量装置包括自准直仪、二维转台、自准直仪调整基座、电子水平仪、升降倾斜调整系统、及数据采集处理系统。本发明利用高精度测量微小角度的自准直仪，开发出可用于大范围高精度空间姿态角度测量的设备。在高精度测角中，可增大自准直仪测量角度范围，满足大件或不能移动件的测角需求，同时本套测角系统也可对异型件进行高精度角度测量。本发明可以广泛应用于大范围高精度姿态角度测量，提高测量结果的准确度，全面满足各种角度测量需求。
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公开(公告)号：CN106091903A
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：CN201610365519.9
申请日：2016-05-27
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
CPC classification number: G01B5/30 , G01B5/0004
Abstract: 本发明涉及一种基于双平面定基准的大型旋臂弯沉量检测方法及装置，其精密轴系固定在平台上，旋臂依靠法兰盘固定在精密轴系上；第一平面镜与第二平面镜分别安装在两个四维调整架上，再分别安装在旋臂的中心和边缘两个位置；自准直仪安装在二维平移台上，放置在第一平面镜正前方；对准基片套在第一平面镜的圆周处，十字与小孔标识与第一平面镜的镜面平行。精密轴系带动旋臂及两块平面镜一起做匀速圆周运动，自准直仪发出的激光经两块平面镜反射形成自准直光路，实现对旋臂弯沉量的测试。本发明装置搭建简单、检测基准有效并准确传递、稳定性好。
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公开(公告)号：CN110082073B
公开(公告)日：2022-08-23
申请号：CN201910428976.1
申请日：2019-05-22
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种在子孔径拼接检测光学系统透射波前中调整平面反射镜倾斜的装置和方法，组合使用干涉仪与光电自准直仪，以调整透射波前检测中平面镜倾斜角度。该系统包括干涉仪，标准镜头，被测光学系统，双面平面反射镜，光电自准直仪，隔振台，五维调整台，支撑台，平移台，升降架，倾斜调整装置，显示控制器，利用干涉仪条纹在中间子孔径位置处调整平面镜，建立干涉仪、被测系统和平面镜平行的基准点，光电自准直仪角度清零，然后再在其它子孔径位置处，以自准直仪为基准调整平面镜的倾斜量，从而减小子孔径面形中的倾斜误差，提高子孔径拼接检测光学系统透射波前的精度。
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公开(公告)号：CN110082073A
公开(公告)日：2019-08-02
申请号：CN201910428976.1
申请日：2019-05-22
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种在子孔径拼接检测光学系统透射波前中调整平面反射镜倾斜的装置和方法，组合使用干涉仪与光电自准直仪，以调整透射波前检测中平面镜倾斜角度。该系统包括干涉仪，标准镜头，被测光学系统，双面平面反射镜，光电自准直仪，隔振台，五维调整台，支撑台，平移台，升降架，倾斜调整装置，显示控制器，利用干涉仪条纹在中间子孔径位置处调整平面镜，建立干涉仪、被测系统和平面镜平行的基准点，光电自准直仪角度清零，然后再在其它子孔径位置处，以自准直仪为基准调整平面镜的倾斜量，从而减小子孔径面形中的倾斜误差，提高子孔径拼接检测光学系统透射波前的精度。
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