公开(公告)号：CN115657263A

公开(公告)日：2023-01-31

申请号：CN202211411118.4

申请日：2022-11-11

Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所

Inventor： 黄韦斌 ,  宋志化 ,  侯佳 ,  强佳 ,  周成林 ,  张亮 ,  何志平 ,  舒嵘

IPC: G02B7/198

Abstract: 本发明公开一种精密调整45度反射镜安装角度的方法。所述方法通过电子自准值仪检测45度反射镜的角度，首先借助电子自准值仪将光路的基准转移到平面镜，再将45度反射镜和平面镜的组合光路检测45度反射镜的安装角度，以实时调节45度反射镜安装方向。此方法操作简单，具有高精度，实时性的优势，能够在装调过程中保证光学组件的安装精度。

公开(公告)号：CN116183171A

公开(公告)日：2023-05-30

申请号：CN202211415095.4

申请日：2022-11-11

Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所

Inventor： 宋志化 ,  黄韦斌 ,  侯佳 ,  强佳 ,  周成林 ,  张亮 ,  何志平 ,  舒嵘

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明公开一种用于多方向光轴检测对准的分光棱镜光校装置。光校装置通一个分光棱镜将激光束分成90度的夹角，其中一路光束再通过平行平板玻璃后一部分激光束沿原路返回，经过分光棱镜再次将激光束分成90度的夹角，实现了三个方向光轴的检测。本专利解决了三个方向光轴检测对准的问题，也可单独使用任意两个方向的检测对准，实现了被测平面的实时高精度监控。