公开(公告)号：CN119492903A

公开(公告)日：2025-02-21

申请号：CN202411596045.X

申请日：2024-11-11

Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所

Inventor： 叶振华 ,  李辉豪 ,  孙常鸿 ,  甘志凯 ,  赵玉 ,  王进东 ,  廖清君 ,  陈燕 ,  李媛媛 ,  吴昊

IPC: G01R19/00 ,  G01R31/28

Abstract: 本发明公开了一种红外芯片极弱暗电流的表征方法，包括：根据测试系统极限、红外芯片预期盲元率和暗电流，计算阵列像元数量的下限与上限；将红外芯片的像元阵列引出到测试管脚；利用数字源表测量像元阵列的总暗电流；暗电流根据阵列规格归一化；剔除由短路像元引入的暗电流明显偏大的异常结果；得到该器件单个像元的暗电流。本发明采用多像元并联的方法，使阵列总暗电流可以被现有测试系统准确测量，并给出了阵列像元数量的计算方法，为极弱暗电流的红外芯片提供了一种简单快捷、普适性强的表征方法。

公开(公告)号：CN119804439A

公开(公告)日：2025-04-11

申请号：CN202411898901.7

申请日：2024-12-23

Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所

Inventor： 甘志凯 ,  林春 ,  赵玉 ,  解晓辉

IPC: G01N21/84 ,  G01B11/24 ,  G01B11/28 ,  G01B11/06

Abstract: 本发明提供了一种周期性高密度柱形物体均匀性测量与评价的方法，包括步骤S1：利用显微镜获得周期性高密度柱形物体的高度与坐标的数据，并将其组织为数据矩阵；步骤S2：根据采集的数据矩阵，重建并绘制出周期性高密度柱形物体的原始形貌，计算周期性高密度柱形物体的周期性高密度柱形物体的平均高度，并设定需要计算均匀性的相对高度；步骤S3：确定数据矩阵所包含的每个周期性高密度柱形物体中心的坐标；步骤S4：针对每个周期性高密度柱形物体，在设定的相对高度下，计算其截面面积，并将结果存入截面积数据矩阵；步骤S5：对截面积数据矩阵进行统计分析；步骤S6：根据步骤S4的计算结果，绘制在设定相对高度下的周期性高密度柱形物体截面图。

公开(公告)号：CN119381268A

公开(公告)日：2025-01-28

申请号：CN202411497939.3

申请日：2024-10-25

Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所

Inventor： 赵玉 ,  周松敏 ,  甘志凯 ,  林春

IPC: H01L21/56 ,  H01L23/29

Abstract: 本发明公开了一种高密度像元红外焦平面器件充胶的优化方法，该方法步骤包括，选取流动性较好的底充胶，采用一字形或L型方式进行底充胶自然流动填充，静置，然后放入真空装置中进行抽放真空并观察，重复抽放真空直到芯片四周有底充胶溢出。本发明减少了底充胶填充缺陷，增强了芯片与读出电路的连接强度，提高了器件可靠性。尤其适用于大规模小中心距的红外焦平面。