基于SCA多通道高速采集系统的时频同步校准方法

    公开(公告)号:CN103762975B

    公开(公告)日:2017-01-11

    申请号:CN201410021008.6

    申请日:2014-01-17

    Abstract: 本发明公开一种基于SCA多通道高速采集系统的时频同步校准方法,它采用由波形采集和测时模块组件以及综合处理器模块组成的基于SCA多通道高速采集系统,利用SCA芯片内部高速的开关电容阵列将模拟信号存储并通过慢速时钟读出再使用高精度的低速AD进行数字量化后存储至缓存单元,可以在完成多通道的波形采集和时间测量的同时,实现在线实时校准。本时频同步校准方法校准过程简单,校准结果适用性好,系统校准误差小,测时精度优于80ps,特别适用于全波形分析技术领域。

    一种红外与激光复合探测系统

    公开(公告)号:CN103499818B

    公开(公告)日:2015-07-29

    申请号:CN201310469759.X

    申请日:2013-10-10

    Abstract: 本发明公开一种红外与激光复合探测系统,该系统可以实现对红外移动目标的稳定跟踪和激光的精确指向,并实现对目标的距离测量。该系统具有折返式共口径光学接收头部,使用分色片分离红外和激光,红外相机对移动小目标成像,根据目标质心位置控制二维转台的粗跟踪和快速偏转镜的精调整,使激光发射准确指向目标。光电倍增管接收激光回波信号,依据激光发射主波信号和回波信号解算出目标距离信息。本发明系统可以搭载在机载、弹载和卫星平台,实现对红外目标的三维测量,为总体决策提供信息保障。

    一种红外与激光复合探测系统

    公开(公告)号:CN103499818A

    公开(公告)日:2014-01-08

    申请号:CN201310469759.X

    申请日:2013-10-10

    CPC classification number: G01S17/42 G01S17/105 G01S17/66 G01S17/89

    Abstract: 本发明公开一种红外与激光复合探测系统,该系统可以实现对红外移动目标的稳定跟踪和激光的精确指向,并实现对目标的距离测量。该系统具有折返式共口径光学接收头部,使用分色片分离红外和激光,红外相机对移动小目标成像,根据目标质心位置控制二维转台的粗跟踪和快速偏转镜的精调整,使激光发射准确指向目标。光电倍增管接收激光回波信号,依据激光发射主波信号和回波信号解算出目标距离信息。本发明系统可以搭载在机载、弹载和卫星平台,实现对红外目标的三维测量,为总体决策提供信息保障。

    基于SCA多通道高速采集系统的时频同步校准方法

    公开(公告)号:CN103762975A

    公开(公告)日:2014-04-30

    申请号:CN201410021008.6

    申请日:2014-01-17

    Abstract: 本发明公开一种基于SCA多通道高速采集系统的时频同步校准方法,它采用由波形采集和测时模块组件以及综合处理器模块组成的基于SCA多通道高速采集系统,利用SCA芯片内部高速的开关电容阵列将模拟信号存储并通过慢速时钟读出再使用高精度的低速AD进行数字量化后存储至缓存单元,可以在完成多通道的波形采集和时间测量的同时,实现在线实时校准。本时频同步校准方法校准过程简单,校准结果适用性好,系统校准误差小,测时精度优于80ps,特别适用于全波形分析技术领域。

    一种用于高精度主被动探测系统的光轴监测方法及装置

    公开(公告)号:CN106443643A

    公开(公告)日:2017-02-22

    申请号:CN201610893908.9

    申请日:2016-10-13

    CPC classification number: G01S7/497

    Abstract: 本发明公开了一种用于高精度主被动探测系统的光轴监测方法及装置,装置包括激光发射系统、光轴分离组件、共用望远镜、光轴监视相机、被动成像系统和激光接收系统。本发明利用了在入射平面内棱镜入射出射光夹角仅与棱镜反射面夹角有关的特性,通过在高精度多光轴主被动复合探测系统中引入光轴分离组件和光轴监测相机等手段建立起激光发射光轴和被动成像系统光轴之间的相对关系,便于在高精度主被动探测系统工作过程中实时对各光轴变化情况进行监测,所获得的光轴变化数据也可在后续数据处理中对探测数据进行修正。本发明具有光轴监测灵敏度高、自身光轴稳定性好、加工装调工艺成熟等优点,可广泛应用于机载和星载高精度主被动复合探测光电系统中。

    一种用于高精度主被动探测系统的光轴监测方法及装置

    公开(公告)号:CN105759254A

    公开(公告)日:2016-07-13

    申请号:CN201610236588.X

    申请日:2016-04-15

    CPC classification number: G01S7/497

    Abstract: 本发明公开了一种用于高精度主被动探测系统的光轴监测方法及装置,装置包括激光发射系统、光轴分离组件、共用望远镜、光轴监视相机、被动成像系统和激光接收系统。本发明利用了在入射平面内棱镜入射出射光夹角仅与棱镜反射面夹角有关的特性,通过在高精度多光轴主被动复合探测系统中引入光轴分离组件和光轴监测相机等手段建立起激光发射光轴和被动成像系统光轴之间的相对关系,便于在高精度主被动探测系统工作过程中实时对各光轴变化情况进行监测,所获得的光轴变化数据也可在后续数据处理中对探测数据进行修正。本发明具有光轴监测灵敏度高、自身光轴稳定性好、加工装调工艺成熟等优点,可广泛应用于机载和星载高精度主被动复合探测光电系统中。

    一种星载激光高度计外场检校方法

    公开(公告)号:CN105606128A

    公开(公告)日:2016-05-25

    申请号:CN201610019734.3

    申请日:2016-01-13

    CPC classification number: G01C25/00

    Abstract: 本发明公开了一种星载激光高度计外场检校方法,该方法的基本步骤为:(1)夜间在地面铺设发光靶标作为控制点、在光斑预测位置铺设地面探测阵列,卫星过境时在航空平台上拍摄近红外高分影像数据、使用地面探测器捕获光斑、测量大气数据;(2)通过地面探测阵列数据,获取发射波形、改正星上测时误差、对激光接收器进行标定;(3)根据航空图像获取光斑位置,检校测距误差、激光器与足印相机的安置角。本发明避免了单独依靠地面探测阵列进行检校的方法成功率低下的缺陷,能够检校星载激光高度计测距、测姿误差,且具有较高的效率。

    一种用于高精度主被动探测系统的光轴监测方法及装置

    公开(公告)号:CN106443643B

    公开(公告)日:2023-07-04

    申请号:CN201610893908.9

    申请日:2016-10-13

    Abstract: 本发明公开了一种用于高精度主被动探测系统的光轴监测方法及装置,装置包括激光发射系统、光轴分离组件、共用望远镜、光轴监视相机、被动成像系统和激光接收系统。本发明利用了在入射平面内棱镜入射出射光夹角仅与棱镜反射面夹角有关的特性,通过在高精度多光轴主被动复合探测系统中引入光轴分离组件和光轴监测相机等手段建立起激光发射光轴和被动成像系统光轴之间的相对关系,便于在高精度主被动探测系统工作过程中实时对各光轴变化情况进行监测,所获得的光轴变化数据也可在后续数据处理中对探测数据进行修正。本发明具有光轴监测灵敏度高、自身光轴稳定性好、加工装调工艺成熟等优点,可广泛应用于机载和星载高精度主被动复合探测光电系统中。

    一种用于高精度主被动探测系统的光轴监测装置

    公开(公告)号:CN206411264U

    公开(公告)日:2017-08-15

    申请号:CN201621119762.4

    申请日:2016-10-13

    Abstract: 本专利公开了一种用于高精度主被动探测系统的光轴监测装置,装置包括激光发射系统、光轴分离组件、共用望远镜、光轴监视相机、被动成像系统和激光接收系统。本实用新型利用了在入射平面内棱镜入射出射光夹角仅与棱镜反射面夹角有关的特性,通过在高精度多光轴主被动复合探测系统中引入光轴分离组件和光轴监测相机等手段建立起激光发射光轴和被动成像系统光轴之间的相对关系,便于在高精度主被动探测系统工作过程中实时对各光轴变化情况进行监测,所获得的光轴变化数据也可在后续数据处理中对探测数据进行修正。本专利具有光轴监测灵敏度高、自身光轴稳定性好、加工装调工艺成熟等优点,可广泛应用于机载和星载高精度主被动复合探测光电系统中。

    一种SCA多通道高速采集系统

    公开(公告)号:CN203775187U

    公开(公告)日:2014-08-13

    申请号:CN201420028447.5

    申请日:2014-01-17

    Abstract: 本专利公开一种SCA多通道高速采集系统,它采用由波形采集和测时模块组件以及综合处理器模块组成的基于SCA多通道高速采集系统,利用SCA芯片内部高速的开关电容阵列将模拟信号存储并通过慢速时钟读出再使用高精度的低速AD进行数字量化后存储至缓存单元,可以在完成多通道的波形采集和时间测量的同时,实现在线实时校准。本系统用于时频同步校准的校准过程简单,校准结果适用性好,系统校准误差小,测时精度优于80ps,特别适用于全波形分析技术领域。

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