主动光电系统激光发散角的测量装置及其装调方法

    公开(公告)号:CN118347706B

    公开(公告)日:2025-02-28

    申请号:CN202410717748.7

    申请日:2024-06-04

    Abstract: 本发明提供一种主动光电系统激光发散角的测量装置及其装调方法,所述测量装置包括平面镜、分光组件和光束分析组件,其中,平面镜设置于主动光电系统的一侧;分光组件设置于主动光电系统中的扩束系统和激光发射组件之间;光束分析组件设置于分光组件的反光侧,包括镜头和光束分析仪,激光发射组件发射的激光经过扩束系统准直后,经过平面镜沿原路返回,经过扩束系统缩束后被分光组件反射并进入光束分析仪,光束分析仪根据光斑大小计算激光发散角。本发明的主动光电系统激光发散角的测量装置,基于待测光学系统自身具备的光学特性,不需要大口径长焦距的平行光管,有利于在外场环境进行发散角测量,能够降低设备需求和成本,通用性强。

    基于运动副解耦的光轴调控机构
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119024520A

    公开(公告)日:2024-11-26

    申请号:CN202411343284.4

    申请日:2024-09-25

    Abstract: 本发明提供一种基于运动副解耦的光轴调控机构,包括:轴系组件、促动器和解耦器,其中,轴系组件用于对光学镜面的转角进行控制,促动器安装在轴系组件的桁架顶部,促动器用于产生往复直线推量以驱动光学镜面,所示解耦器的一侧与轴系组件固定,所示解耦器的另一侧与促动器固定,解耦器用于解耦/释放促动器直线运动与轴系组圆周运动之间的过刚自由度。本发明采用运动副解耦的方式,可以释放驱动器直线运动与轴系转动之间的过刚自由度,减小阻力峰值与波动性,进而实现对光学镜面的大转角、高分辨率、高定位精度调控。

    一种双面快速转向反射镜结构

    公开(公告)号:CN107462880A

    公开(公告)日:2017-12-12

    申请号:CN201710760247.7

    申请日:2017-08-30

    CPC classification number: G01S7/4812

    Abstract: 本发明公开一种双面快速转向反射镜装置,它包括:双面反射镜、致动器、底座、柔性支撑、镜片安装台和位移传感器。在需要对光束进行指向跟踪且收发同轴的应用场合,接收回波时需要对发射出去的光束进行角度补偿,采用两个指向镜装置很难做到发射出去的扫描角和补偿的回波角度同步,而采用同一镜片的两面能有效保证转角的一致性,使回波能有效补偿发射的角度,实现探测器上接收的角度相对稳定。本发明的优点在于,大幅减小了用两个光束指向镜进行收发同轴的指向误差,同时可节省安装空间,又可方便操作控制。

    主动光电系统激光发散角的测量装置及其装调方法

    公开(公告)号:CN118347706A

    公开(公告)日:2024-07-16

    申请号:CN202410717748.7

    申请日:2024-06-04

    Abstract: 本发明提供一种主动光电系统激光发散角的测量装置及其装调方法,所述测量装置包括平面镜、分光组件和光束分析组件,其中,平面镜设置于主动光电系统的一侧;分光组件设置于主动光电系统中的扩束系统和激光发射组件之间;光束分析组件设置于分光组件的反光侧,包括镜头和光束分析仪,激光发射组件发射的激光经过扩束系统准直后,经过平面镜沿原路返回,经过扩束系统缩束后被分光组件反射并进入光束分析仪,光束分析仪根据光斑大小计算激光发散角。本发明的主动光电系统激光发散角的测量装置,基于待测光学系统自身具备的光学特性,不需要大口径长焦距的平行光管,有利于在外场环境进行发散角测量,能够降低设备需求和成本,通用性强。

    一种用于同位素质谱检测的激光电离方法

    公开(公告)号:CN115295393B

    公开(公告)日:2024-06-18

    申请号:CN202210811577.5

    申请日:2022-07-11

    Abstract: 本发明公开了一种用于同位素质谱检测的激光电离方法,该方法是在一种激光离子源上实现的。该方法包括LIBS初步元素分析、SLRI激光波长选择、SLRI二次电离三个步骤。本发明的有益效果是,基于LIBS激光与二次激光共振电离SLRI,在实现LIBS一次电离时,可同时进行元素的组成和含量初步分析;在二次共振电离时,可基于第一次LIBS分析的元素同位素原子能级先验知识,优先选择共振波长。四路SLRI的光路配置,实现紫外至红外的可调谐激光输出,可满足所有同位素位移和原子超精细结构的二次激光共振电离质谱测量。

    一种激光同位素质谱仪
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115901923A

    公开(公告)日:2023-04-04

    申请号:CN202210811426.X

    申请日:2022-07-11

    Abstract: 本发明公开了一种激光同位素质谱仪,该质谱仪由控制器、LIBS子系统、SLRI子系统、时序控制器、离子传输初聚焦模块、TOF质量分析器组成。本发明的有益效果是,本发明的有益效果是,LIBS激光与二次激光共振电离SLRI的结合,在实现LIBS一次电离时,可同步实现元素的组成和含量初步分析;基于第一次LIBS得出的元素对应的同位素原子能级先验知识,在二次共振电离时,可优先选择共振波长。四路SLRI的光路配置,实现紫外至红外的可调谐激光输出,离子聚焦镜和反射镜的应用可实现时空同步聚焦高分辨质量传感。

    光学设备及其对焦调节机构
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118915259A

    公开(公告)日:2024-11-08

    申请号:CN202411114605.3

    申请日:2024-08-14

    Abstract: 本发明提供一种光学设备及其对焦调节机构,所述对焦调节机构包括:导轨座;电机,通过电机座安装在导轨座上;丝杆,安装在导轨座上;球铰球面螺母,与丝杆通过螺纹牙配合由丝杆驱动做一维轴向直线运动;球铰柱面座,与球铰球面螺母通过球铰实现运动解耦;直线导轨,包括:定导轨与动导轨,定导轨安装在导轨座上,动导轨与球铰柱面座固定连接;成像系统,固定连接于球铰柱面座上。本发明采用球铰柱面与球铰球面配合,有效地释放了直线导轨与丝杆螺母两直线运动副的自由度约束,不仅降低了丝杆螺母摩擦磨损与机构堵转风险,还满足了光学设备对焦面调节高可靠性、高精度需求,且整个机构的结构形式简洁,降低了对加工、装配的要求。

    一种适用于大口径空间望远镜的二维转台

    公开(公告)号:CN118151364A

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202410437347.6

    申请日:2024-04-12

    Abstract: 本发明所述二维转台是一种应用于大口径空间望远镜的运动机构,用于完成空间激光通信的自动捕获、跟踪、瞄准等任务。二维转台采用关节式构型,包括U型架、俯仰轴系、方位轴系和光学组件。俯仰轴系安装在U型架上,其传动轴由三段拼接而成,包括俯仰传动轴固定段、俯仰传动轴承载框和俯仰传动轴游动段,三者组合加工,同轴度优于3μm,在俯仰电机驱动下可相对于U型架独立转动(即俯仰转动);方位轴系整体安装在俯仰轴系的承载框上,其方位传动轴采用一体化设计,在方位电机驱动下可相对于俯仰轴系独立转动(即方位转动),此外,方位轴内部安装有光学反射镜,用于通光,在俯仰和方位两维转动过程中,能始终保持光轴与转动轴的共线。最后,本发明所述ATP二维转台可实现‑90°~+45°俯仰转动,‑32°~+32°的方位转动,能够满足望远镜的跟踪任务要求。

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