公开(公告)号：CN119961663A

公开(公告)日：2025-05-09

申请号：CN202411919675.6

申请日：2024-12-25

Applicant: 中国电子科技集团公司第十研究所

Inventor： 张震宇 ,  韩毅辉 ,  贾明权 ,  潘灵 ,  张旭 ,  许虎 ,  刘红伟 ,  张昊 ,  张宇帆 ,  张成伟

IPC: G06F18/2135 ,  G06F18/241

Abstract: 本发明公开了一种基于低秩变换的残差智能检测方法及装置，其中方法包括：对训练数据和测试数据进行预处理，并通过鲁棒性主成分分析对预处理后的训练数据进行分解处理，得到低秩矩阵L和误差矩阵；对低秩矩阵L进行反解得到变换矩阵T，并针对特征向量空间，计算训练数据和测试数据在变换矩阵T之外的残差；结合训练数据在残差空间的投影，计算训练特征对应的投影误差的阈值，并根据测试数据在残差空间的投影和阈值输出识别结果。本发明通过提取数据空间的低秩特征部分，反解求出变换矩阵，在筛除通信大量数据冗余信息的同时保留了数据的主要特征，具有可靠性和有效性。