一种电源产生电路
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108964448A

    公开(公告)日:2018-12-07

    申请号:CN201810981857.4

    申请日:2018-08-27

    Abstract: 本发明公开了一种电源产生电路,包括二极管一、五、第四调整管和误差放大器,其特征在于:误差放大器的一个输入端通过电阻二接地,同时,通过电阻一连接电源产生电路的输出端;误差放大器的另一个输入端接收基准电压信号,误差放大器的输出端通过开关电路连接第四调整管的栅极,储能电容连接在电源产生电路的输出端与地之间;第四调整管漏极通过二极管接收外部脉冲信号,外部脉冲信号通过第四调整管和二极管五为储能电容充电,当储能电容的电压达到设定值时,外部脉冲信号停止对储能电容充电,当储能电容上的电压低于设定值时,外部脉冲信号为储能电容充电;本发明可广泛应用在同步整流电路以及ACDC电路设计等当中。

    键合线S参数测试提取方法

    公开(公告)号:CN106646193B

    公开(公告)日:2019-03-22

    申请号:CN201611161822.3

    申请日:2016-12-15

    Abstract: 本发明公开了一种键合线S参数测试提取方法,其特征在于:包括如下步骤:第一、制作PCB板一和PCB板二;所述PCB板一上设置有50Ω传输线一;所述PCB板二上设置有50Ω传输线二和地线,在50Ω传输线二的右端附近放置被测器件;采用键合工艺用键合线将被测器件的射频输出端与50Ω传输线二的右端连接,分别用键合线二、三将射频输出端两旁的接地端与PCB板二的地线连接;第二、校准微波探针测试系统:利用校准基片和矢量网络分析仪对微波探针测试台进行校准;第三、测试S参数;第四、将测试点转换为面单元结构:第五、得到键合线的S参数,第六、测试验证;本发明测试结果真实可靠,消除了键合线寄生参数影响,可应用到RFIC性能测试中。

    阻抗变换单刀双掷微波开关

    公开(公告)号:CN109193079A

    公开(公告)日:2019-01-11

    申请号:CN201811375319.7

    申请日:2018-11-19

    Abstract: 本发明公开了阻抗变换单刀双掷微波开关,包括阻抗变换电路、限流偏置电路及逻辑控制电路;其特征在于:所述阻抗变换电路包含设置在公共端口和第一射频端口之间的第一串联支路,设置在公共端口和第二射频端口之间的第二串联支路,设置在第一射频端口和地之间的第一并联支路,设置在第二射频端口和地之间的第二并联支路;第一、第二串联支路均由四分之一波长微带线构成;所述第一并联支路由第一开关二极管和第一电容构成;第一开关二极管的正极接第一射频端口,负极通过第一电容接地;第二并联支路由第二开关二极管和第二电容构成,第二开关二极管的正极接第二射频端口,第二开关二极管的负极通过第二电容接地;本发明可广泛适用于各类通信系统。

    键合线寄生参数测试提取方法

    公开(公告)号:CN106646193A

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201611161822.3

    申请日:2016-12-15

    CPC classification number: G01R31/2822

    Abstract: 本发明公开了一种键合线寄生参数测试提取方法,其特征在于:包括如下步骤:第一、制作PCB板一和PCB板二;所述PCB板一上设置有50Ω传输线一;所述PCB板二上设置有50Ω传输线二和地线,在50Ω传输线二的右端附近放置被测器件;采用键合工艺用键合线将被测器件的射频输出端与50Ω传输线二的右端连接,分别用键合线二、三将射频输出端两旁的接地端与PCB板二的地线连接;第二、校准微波探针测试系统:利用校准基片和矢量网络分析仪对微波探针测试台进行校准;第三、测试S参数;第四、将测试点转换为面单元结构:第五、得到键合线的S参数,第六、测试验证;本发明测试结果真实可靠,消除了键合线寄生参数影响,可应用到RFIC性能测试中。

    12位折叠插入结构A/D转换器

    公开(公告)号:CN100365938C

    公开(公告)日:2008-01-30

    申请号:CN200410006592.4

    申请日:2004-03-11

    Abstract: 本发明涉及一种12位折叠插入结构A/D转换器,其特征在于内部的高六位A/D和低七位A/D均为折叠插入结构,采用两步转换的方法构成一个高速12位A/D转换器。内部的时序电路产生九相时钟,控制整个12位A/D正常工作;差分输入的模拟信号inP和inN分别经过采样开关和第一个跟踪保持放大器TH1,由TH1的输出同时进入高六位A/D(ADC6)和第二跟踪保持放大器TH2;模拟信号进入ADC6后,产生6位数码,进入D-触发器组和六位D/A转换器(DAC6),同时通过DAC6产生一个模拟信号与TH2出来的输入模拟信号相减,形成残差;经残差放大器放大32倍后,进入低七位A/D,并得到一个7位数码;低7位数码进入D-触发器组,与上一个进入D-触发器组的高6位数码同步,并通过校正电路进行数字校正后,经三态电路输出12位数码。

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