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公开(公告)号：CN117433885A
公开(公告)日：2024-01-23
申请号：CN202311461381.9
申请日：2023-11-03
Applicant: 中国电子科技集团公司第二十四研究所
Abstract: 本发明公开了一种玻璃熔封盖板试验夹具，包括底座、调节定位器和扳手连接器，底座上内凹形成有安装腔；调节定位器包括支撑单元、设置在支撑单元上的调节单元，支撑单元上开设有操作空间，调节单元设在操作空间内，在操作空间上设有第一夹紧单元，第一夹紧单元的顶面和支撑单元平齐；扳手连接器包括第二夹紧单元和连接单元。通过各单元之间的配合，以能够限制住外壳的同时，调节整个封装盖板的高度，使得封盖的顶面高于支撑单元的顶面，形成高度差，通过调节以夹紧封盖，扭力扳手将扭矩施加在被第二夹紧单元夹紧的封盖上，直至封盖和外壳之间被扭破，同时通过外部检测装置通过扭力扳手进行检测，以轻松完成对封装盖板的扭矩检测。
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公开(公告)号：CN110673018A
公开(公告)日：2020-01-10
申请号：CN201910987205.6
申请日：2019-10-17
Applicant: 中国电子科技集团公司第二十四研究所
Abstract: 本发明属于自动化测试技术领域，特别是一种无外引出线芯片级器件测试平台；本平台包括导轨支架、探针组件、器件固定底板以及平台底座；导轨支架包括一个载物台、两根金属杆和U型框架，载物台活动设置在金属杆上，金属杆的一端与U型框架顶部连接，另一端穿过探针组件与U型框架底部连接；探针组件包括测试探针定位板和测试探针；载物台与测试探针定位板固定连接；平台底座、器件固定底板以及导轨支架三者固定连接；本发明采用探针测试方式对芯片级器件进行测试，能够有效的接触被测器件的测试点，同时不会造成器件的短路，解决了原先对无外引出线的微小器件无法进行测试的问题。
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公开(公告)号：CN107389867A
公开(公告)日：2017-11-24
申请号：CN201710630317.7
申请日：2017-07-28
Applicant: 中国电子科技集团公司第二十四研究所
IPC: G01N33/00
Abstract: 本发明公开了一种微电路内部气氛检测试验夹具，涉及电子产品可靠性与环境试验领域，它由母夹体、子夹体、盖体组成，母夹体的一端中心部位设有内凹的压腔，用于放置子夹体，压腔内设有贯穿的连接通道，用于容纳待测试器件，母夹体在与压腔口部同侧的四周外缘处设有让位部，用于安装密封圈，盖体覆盖于压腔口部且盖住密封圈。本发明夹具为其中的待测试器件放置提供了一个新思路，即设计一个直径略大于待测试器件的连接通道，可将待测试器件放置于连接通道内，极大的提高夹具的密封性和对待测试器件的保护，同时设计配套的子夹体，不仅可固定住该待测试器件，还极大的减少夹具中额外体积的产生，进一步减小夹具本身气氛对检查结果的影响。
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公开(公告)号：CN117352469A
公开(公告)日：2024-01-05
申请号：CN202311411464.7
申请日：2023-10-27
Applicant: 中国电子科技集团公司第二十四研究所
IPC: H01L23/367 , H01L23/427 , H01L29/739
Abstract: 本发明涉及一种基于相变材料的高过载能力压接式IGBT功率模块，包括相对设置的第一铜板和第二铜板，所述第一铜板和第二铜板之间设置有IGBT芯片和FRD芯片；IGBT芯片和FRD芯片的下端分别通过一第一烧结银层与第一铜板连接，上端分别通过一第二烧结银层连接有钼片，所述钼片上连接有相变铜层；所述相变铜层的上表面设置有第一凹槽，所述第一凹槽中集成有相变材料；所述相变铜层上设置有碟簧，所述碟簧的上端与第二铜板连接。本发明中，通过优化钼片结构并设计一种全新结构的相变铜层，将相变材料集成在相变铜层上，减小了芯片的热应力并提高了IGBT功率模块的热导率；有效增加了IGBT功率模块抗温度冲击能力和寿命。
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公开(公告)号：CN109581191B
公开(公告)日：2021-11-30
申请号：CN201811486422.9
申请日：2018-12-06
Applicant: 中国电子科技集团公司第二十四研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及质量与可靠性领域、检测技术研究领域，特别涉及一种用于微小腔体电路内部气氛检测结果比对的双腔结构，包括管壳和盖板，管壳使用间隔板隔断分离形成第一腔体和第二腔体，间隔板与外壁等高，且第一腔体与第二腔体共用一块盖板，所述管壳采用平行缝焊管壳，其形状为长方体，所述第一腔体的体积为0.001立方厘米～0.01立方厘米，第二腔体的体积为0.1立方厘米～4.0立方厘米；本发明方法的双腔结构可以对小于0.01立方厘米的微小腔体内部气氛检测结果进行准确比对，可以极大地提高微小腔体电路内部气氛检测结果的准确性和稳定性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109061061A
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：CN201810869773.1
申请日：2018-08-02
Applicant: 中国电子科技集团公司第二十四研究所
IPC: G01N33/00
CPC classification number: G01N33/0004
Abstract: 本发明提出一种微小电路内部气氛检测校准器，属于电子产品可靠性与环境试验技术领域。本发明包括基座、活塞杆和滑盖，所述基座为长方体结构，基座的中心位置自上而下开有连通的第一活塞杆孔和储气孔，第一活塞杆孔的直径大于储气孔的直径；所述基座上还开有两个进气孔，且两个进气孔均与第一活塞孔连通；所述滑盖设置在基座的底面，用于密封储气孔的孔口；所述活塞杆活动设置在第一活塞杆孔内。使用本发明中的校准器可以对小于0.01cc的微小腔体直接进行校准，极大地提高了微小腔体(＜0.01cc)电路内部气氛检测试验中的校准精度，从而提高了微小腔体电路内部气氛检测结果的准确性和稳定性。
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公开(公告)号：CN118670891A
公开(公告)日：2024-09-20
申请号：CN202410703920.3
申请日：2024-06-03
Applicant: 中国电子科技集团公司第二十四研究所
Abstract: 本发明涉及BGA封装器件测试领域，公开了一种用于BGA焊球剪切的刀具及使用方法，包括连接于剪切测试设备的驱动机构以及安装在驱动机构上的剪切发生机构，剪切发生机构包括端部具有一第一刀刃段的第一剪切部、层叠套设在第一剪切部外的且端部具有第二刀刃段的第二剪切部以及连接于第一剪切部的第一驱动部，第一剪切部和相邻的第二剪切部之间具有使第一剪切部沿高度方向移动的第一移动空间，第一驱动部带动第一剪切部沿高度方向移动以使第一剪切部的第一刀刃段相对于第二刀刃段重叠于其内或外伸于第二刀刃段外。通过驱动机构和剪切发生机构之间的配合使用，能够在剪切测试设备上固定好样品后，对样品上的焊球进行剪切测试，以得到焊球的剪切力数据；通过剪切发生机构的第一剪切部、第二剪切部以及第一驱动部之间的配合使用，从而在不更换刀具的情况下更换刀具的宽度，提升测试效率的同时简化操作。
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公开(公告)号：CN109061061B
公开(公告)日：2021-04-20
申请号：CN201810869773.1
申请日：2018-08-02
Applicant: 中国电子科技集团公司第二十四研究所
IPC: G01N33/00
Abstract: 本发明提出一种微小电路内部气氛检测校准器，属于电子产品可靠性与环境试验技术领域。本发明包括基座、活塞杆和滑盖，所述基座为长方体结构，基座的中心位置自上而下开有连通的第一活塞杆孔和储气孔，第一活塞杆孔的直径大于储气孔的直径；所述基座上还开有两个进气孔，且两个进气孔均与第一活塞孔连通；所述滑盖设置在基座的底面，用于密封储气孔的孔口；所述活塞杆活动设置在第一活塞杆孔内。使用本发明中的校准器可以对小于0.01cc的微小腔体直接进行校准，极大地提高了微小腔体(＜0.01cc)电路内部气氛检测试验中的校准精度，从而提高了微小腔体电路内部气氛检测结果的准确性和稳定性。
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公开(公告)号：CN111351697A
公开(公告)日：2020-06-30
申请号：CN202010213589.9
申请日：2020-03-24
Applicant: 中国电子科技集团公司第二十四研究所
Abstract: 本发明公开一种键合金丝可靠性评价方法，4组样品，其中1组做键合强度试验，其余3组先温度循环加速寿命试验，再进行键合强度试验，得出3组器件的敏感参数，每组敏感参数均利用退化轨迹模型进行拟合，得出每组器件的退化轨迹模型，然后外推各个器件的伪寿命，各器件的伪寿命利用寿命分布图示法进行分析，从而得到加速应力试验下试验器件的寿命分布函数，利用寿命分布函数计算器件平均寿命，平均寿命代入温度循环应力加速模型得出模型参数，利用模型参数可计算出加速因子，再用寿命分布函数和加速因子，通过加速因子与加速应力条件下的平均寿命，可算出器件正常应力条件下的平均寿命，此数值可直观评价键合金丝的可靠性。
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公开(公告)号：CN107389867B
公开(公告)日：2019-11-12
申请号：CN201710630317.7
申请日：2017-07-28
Applicant: 中国电子科技集团公司第二十四研究所
IPC: G01N33/00
Abstract: 本发明公开了一种微电路内部气氛检测试验夹具，涉及电子产品可靠性与环境试验领域，它由母夹体、子夹体、盖体组成，母夹体的一端中心部位设有内凹的压腔，用于放置子夹体，压腔内设有贯穿的连接通道，用于容纳待测试器件，母夹体在与压腔口部同侧的四周外缘处设有让位部，用于安装密封圈，盖体覆盖于压腔口部且盖住密封圈。本发明夹具为其中的待测试器件放置提供了一个新思路，即设计一个直径略大于待测试器件的连接通道，可将待测试器件放置于连接通道内，极大的提高夹具的密封性和对待测试器件的保护，同时设计配套的子夹体，不仅可固定住该待测试器件，还极大的减少夹具中额外体积的产生，进一步减小夹具本身气氛对检查结果的影响。
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