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公开(公告)号：CN114070433B
公开(公告)日：2023-05-09
申请号：CN202111501554.6
申请日：2021-12-09
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
Abstract: 本发明公开了一种多通道收发组件移相转换时间测试系统，属于收发组件幅相控制技术领域，包括N通道收发组件，第一N路功分/合成器D、第二N路功分/合成器、信号源、检波器、示波器、控制装置，其中，N≥2。本发明相对于传统的测试方法，对于多通道组件的移相转换时间的测试更为便利，完成组件的固定连接后，即可依次完成各个通道的移相转换时间的测试，无需再更换通道；只要改变控制码值亦可用来直接测量收发组件的衰减转换时间，不需要增加开关矩阵的切换开关和鉴相器，更有利于收发组件测试系统的集成，值得被推广使用。
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公开(公告)号：CN114070433A
公开(公告)日：2022-02-18
申请号：CN202111501554.6
申请日：2021-12-09
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
Abstract: 本发明公开了一种多通道收发组件移相转换时间测试系统，属于收发组件幅相控制技术领域，包括N通道收发组件，第一N路功分/合成器D、第二N路功分/合成器、信号源、检波器、示波器、控制装置，其中，N≥2。本发明相对于传统的测试方法，对于多通道组件的移相转换时间的测试更为便利，完成组件的固定连接后，即可依次完成各个通道的移相转换时间的测试，无需再更换通道；只要改变控制码值亦可用来直接测量收发组件的衰减转换时间，不需要增加开关矩阵的切换开关和鉴相器，更有利于收发组件测试系统的集成，值得被推广使用。
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公开(公告)号：CN116859834A
公开(公告)日：2023-10-10
申请号：CN202310675749.5
申请日：2023-06-07
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
IPC: G05B19/418 , G06Q50/04
Abstract: 本发明提供一种微波组件全流程工艺数字化管控系统以及车间数据网络，涉及雷达电子产品技术领域。本发明所提供的微波组件全流程工艺数字化管控系统，包括基础数据管理模块，产品管理模块，工单管理模块，物料管理模块，现场作业模块，问题审核模块、追溯看板模块；通过搭建车间数据网络，实现应用服务器、存储服务器、一体机、高拍仪、扫描枪、大屏显示器及检验设备的互联互通，保障了各角色人员可随时随地的借助于终端设备登录系统并进行相关操作，实现微波组件生产全过程跟踪和信息化、痕迹化管理，可实时查看和追溯组件生产过程信息，随时掌握项目生产进度和识别瓶颈工序，确保相控阵微波组件高质量、高标准如期交付。
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公开(公告)号：CN113866731B
公开(公告)日：2024-11-26
申请号：CN202111127955.X
申请日：2021-09-26
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
Abstract: 本发明公开了一种T/R组件的热电一体测试装置，包括底座、液冷组件、压紧组件、总口测试组件和分口测试组件，所述底座上固定所述液冷组件，所述液冷组件顶部固定有用于压紧T/R组件的压紧组件，所述压紧组件两侧的底座上分别固定所述总口测试组件和分口测试组件。本发明的优点在于，该装置可以方便快速的实现T/R组件和测试仪表之间的微波适配转接，实现一次装夹即可将所有通道所有指标一次性测试完，极大提高T/R组件测试效率和准确度；同时又能将T/R组件产生的热迅速带走以避免因结温过高而被烧毁，满足高热流密度T/R组件稳定可靠工作的需求，以及高功率连续波T/R组件大批量调试和测试的场景。
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公开(公告)号：CN117498100A
公开(公告)日：2024-02-02
申请号：CN202311524227.1
申请日：2023-11-13
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
IPC: H01R24/40 , H01R4/58 , H01R43/00 , H01L23/498
Abstract: 一种射频同轴连接器与芯片互连结构及T/R组件，涉及微波收发组件技术领域，解决如何减小T/R组件的尺寸问题；包括组件壳体、射频同轴连接器、MMIC芯片和金丝，所述组件壳体上设有三节空气同轴匹配结构和地键合面，所述射频连接器内导体键合端加粗并水平切削一个台阶平面用于键合，所述射频连接器的内导体和所述地键合面与MMIC芯片通过金丝以GSG的三线式传输形式进行射频互连；本发明省去了传统的在射频同轴连接器和MMIC芯片之间的过渡微带板，有效降低了T/R组件的长度尺寸，同时提高了键合点的可靠性，并使得互连结构的射频传输性能最优、可靠性高，更加适用于宽带T/R组件的应用场景。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113866731A
公开(公告)日：2021-12-31
申请号：CN202111127955.X
申请日：2021-09-26
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
Abstract: 本发明公开了一种T/R组件的热电一体测试装置，包括底座、液冷组件、压紧组件、总口测试组件和分口测试组件，所述底座上固定所述液冷组件，所述液冷组件顶部固定有用于压紧T/R组件的压紧组件，所述压紧组件两侧的底座上分别固定所述总口测试组件和分口测试组件。本发明的优点在于，该装置可以方便快速的实现T/R组件和测试仪表之间的微波适配转接，实现一次装夹即可将所有通道所有指标一次性测试完，极大提高T/R组件测试效率和准确度；同时又能将T/R组件产生的热迅速带走以避免因结温过高而被烧毁，满足高热流密度T/R组件稳定可靠工作的需求，以及高功率连续波T/R组件大批量调试和测试的场景。
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公开(公告)号：CN119208273A
公开(公告)日：2024-12-27
申请号：CN202411325951.6
申请日：2024-09-23
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
IPC: H01L23/373 , H01L23/367 , H01L23/29 , H01L23/31 , H01Q3/34 , H01Q23/00
Abstract: 本发明公开了一种高集成微波收发组件，属于有源相控阵天线收发组件技术领域。本发明采用AlN HTCC基板、钼铜或无氧铜围框和盖板构成了一体化封装，收发组件的热量除了通过基板底部焊球散热外，还可以通过围框向侧壁、通过盖板向顶部的散热部件进行多路径导热，从容能够大大降低封装热阻，降低芯片结温，提高芯片可靠性；收发组件内部芯片种类由前面的6种可以减少到2种，有效的减少了内部器件的排布面积，提高了收发组件的集成度；另外，同样封装尺寸下减少的器件排布面积可以用来增加侧边封装厚度，提高散热能力；通过优化电路形式，减少了内部器件的种类和数量，不仅降低了元器件成本，而且易于装配，也有利于降低生产成本。
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公开(公告)号：CN117519040A
公开(公告)日：2024-02-06
申请号：CN202311598864.3
申请日：2023-11-27
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
IPC: G05B19/418
Abstract: 本发明提供一种TR组件故障智能诊断系统及其管理方法，涉及智能制造技术领域。本发明通过数据采集系统、流程管控系统和智能故障诊断系统之间相互协作，实现自动获取组件测试指标数据，进行实时检测与故障诊断，提高排故工作效率；并可根据故障诊断结果，通过流程管控系统实时管理组件生产状态，避免问题组件流入一道工序，提高产品质量管控水平品，满足高度雷达电子制造行业高度自动化、数字化生产要求。此外，还借助于组件历史故障数据不断训练诊断模型，进一步提高故障诊断结果的准确性。
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公开(公告)号：CN110308328B
公开(公告)日：2021-03-23
申请号：CN201910663764.1
申请日：2019-07-22
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
IPC: G01R27/06
Abstract: 本发明提供一种工艺级误差对微波系统驻波比影响的测量及评估方法及系统，包括以下步骤：S100，构建样件；S200，测量样件在制造过程中产生的工艺级误差，包括钎透率β1、连接器安装偏差β2、金丝拱高偏差α1和金丝键合距离偏差α2；S300，更换样件，重复上述步骤，得出该样件4个误差源对驻波比的影响。S400，测量评估，首先对误差源进行高斯加权，然后对四个权重归一化，即可得各个误差对驻波比影响的权重分配。与现有技术相比，本发明提供一种测量并评估钎透率偏差、连接器安装偏差和金丝压焊工艺对驻波比影响的方法；对样件的检测快速方便，非侵入式，对样件没有破坏性；对各个误差源进行了高斯加权分配，使这些误差对样件驻波比的影响更加科学客观。
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公开(公告)号：CN110308328A
公开(公告)日：2019-10-08
申请号：CN201910663764.1
申请日：2019-07-22
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
IPC: G01R27/06
Abstract: 本发明提供一种工艺级误差对微波系统驻波比影响的测量及评估方法及系统，包括以下步骤：S100，构建样件；S200，测量样件在制造过程中产生的工艺级误差，包括钎透率β1、连接器安装偏差β2、金丝拱高偏差α1和金丝键合距离偏差α2；S300，更换样件，重复上述步骤，得出该样件4个误差源对驻波比的影响。S400，测量评估，首先对误差源进行高斯加权，然后对四个权重归一化，即可得各个误差对驻波比影响的权重分配。与现有技术相比，本发明提供一种测量并评估钎透率偏差、连接器安装偏差和金丝压焊工艺对驻波比影响的方法；对样件的检测快速方便，非侵入式，对样件没有破坏性；对各个误差源进行了高斯加权分配，使这些误差对样件驻波比的影响更加科学客观。
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