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公开(公告)号:CN113409245B
公开(公告)日:2024-04-02
申请号:CN202110365561.1
申请日:2021-04-06
Applicant: 中国电子技术标准化研究院 , 北京工业大学
IPC: G06T7/00 , G06T7/11 , G06T7/62 , G06V10/764 , G06V10/82 , G06N3/0464 , G06N3/09 , G06T5/70 , G06T5/90 , G06T5/40
Abstract: 本发明公开了一种电子元器件X射线检查缺陷自动识别方法,该方法对X射线图像进行预处理;人工半自动或自动对样本进行标注,根据电子元器件的封装和缺陷形式,将待检测的电子元器件的缺陷类型分为空洞类缺陷、一致性缺陷和角度缺陷三大类。利用基于卷积神经网络的语义分割方法实现对四类空洞缺陷的检测。通过大量的样本对卷积神经网络进行训练,实现对各类空洞缺陷的精确分割,极大提高了缺陷自动识别效率。同时,通过灰度投影法对芯片焊接区及密封区等进行检测,根据相应的判别准则对其合格性进行判别。解决了以往无法进行自动计算和单纯靠人工进行判别的问题,以及混合集成电路中的基板与管壳焊接界面空洞的干扰问题。
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公开(公告)号:CN114061495A
公开(公告)日:2022-02-18
申请号:CN202111386223.2
申请日:2021-11-22
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
IPC: G01B15/02
Abstract: 一种毛纽扣接触件镀金层厚度测量方法,其特征在于包括如下步骤:毛纽扣接触件电镀金属镍,在铍铜丝镀金层表面形成镀镍层;采用环氧树脂对毛纽扣接触件样品进行真空灌封形成测试样块;待测试样块凝固后,使用自动研磨机沿毛纽扣接触件纵轴方向对测试样块的进行剖切研磨制样;剖面研磨制样后,采用扫描电子显微镜(SEM)检查毛纽扣接触件的截面,选择需要测量镀金层厚度的镀金铍铜丝截面;采用扫描电子显微镜(SEM)对镀金铍铜丝截面进行高倍率放大,并测量镀金层厚度。本发明通过在毛纽扣接触件镀金层外再加镀一层硬金属镍,遏制了研磨过程中金镀层的延展,解决了镀金层截面变形失真的问题,有效规避了镀金层延展导致测量不准的问题。
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公开(公告)号:CN113409245A
公开(公告)日:2021-09-17
申请号:CN202110365561.1
申请日:2021-04-06
Applicant: 中国电子技术标准化研究院 , 北京工业大学
Abstract: 本发明公开了一种电子元器件X射线检查缺陷自动识别方法,该方法对X射线图像进行预处理;人工半自动或自动对样本进行标注,根据电子元器件的封装和缺陷形式,将待检测的电子元器件的缺陷类型分为空洞类缺陷、一致性缺陷和角度缺陷三大类。利用基于卷积神经网络的语义分割方法实现对四类空洞缺陷的检测。通过大量的样本对卷积神经网络进行训练,实现对各类空洞缺陷的精确分割,极大提高了缺陷自动识别效率。同时,通过灰度投影法对芯片焊接区及密封区等进行检测,根据相应的判别准则对其合格性进行判别。解决了以往无法进行自动计算和单纯靠人工进行判别的问题,以及混合集成电路中的基板与管壳焊接界面空洞的干扰问题。
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