公开(公告)号：CN119881576A

公开(公告)日：2025-04-25

申请号：CN202510091355.4

申请日：2025-01-21

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 何亮 ,  胡云峰 ,  谢燊坤 ,  蒋攀攀 ,  陈兴欢 ,  施宜军 ,  刘陆川 ,  陈义强 ,  陈媛 ,  路国光

IPC: G01R31/26

Abstract: 本申请涉及一种动态应力评估及参数检测方法、系统、设备、存储介质及程序产品，应用于动态应力评估及参数检测系统，动态应力评估及参数检测系统包括上位机、测试电路板和信号采集器，其中，测试电路板上部署有被测功率器件；方法包括：在施加于被测功率器件的栅应力对应的应力施加时间耗尽的情况下，通过上位机向测试电路板发送测试回路接入指令；通过测试电路板基于测试回路接入指令，控制被测功率器件处于对应的第一应力测试回路；通过信号采集器采集第一应力测试回路下被测功率器件的栅极测试信号；通过上位机基于栅极测试信号，检测被测功率器件的电性能参数。采用本方法提升进行动态应力评估及参数检测的检测准确性。

公开(公告)号：CN118688602A

公开(公告)日：2024-09-24

申请号：CN202411174354.8

申请日：2024-08-26

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 陈媛 ,  何亮 ,  施宜军 ,  陈兴欢 ,  赵鹏 ,  蔡宗棋

IPC: G01R31/26

Abstract: 本申请涉及一种半导体器件栅氧退化机理的诊断方法，包括：提供半导体器件，测量获取所述半导体器件在初始状态下的第一动态电容数据及经老化试验后的第二动态电容数据；根据所述第一动态电容数据和所述第二动态电容数据进行分析，得到所述半导体器件的动态电容变化趋势；根据所述动态电容变化趋势分析获取所述半导体器件中栅氧化层的电荷变化情况；根据电荷变化情况诊断所述半导体器件中所述栅氧化层的退化机理。本申请实现了半导体器件中栅氧化层中不同区域退化情况的精确诊断，有助于准确分析栅氧化层中的具体退化位置和缺陷类型。

公开(公告)号：CN119827939A

公开(公告)日：2025-04-15

申请号：CN202510094757.X

申请日：2025-01-21

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 何亮 ,  李峣 ,  罗子俊 ,  张珂 ,  施宜军 ,  陈兴欢 ,  刘陆川 ,  陈义强 ,  陈媛 ,  路国光

IPC: G01R31/26 ,  G01R27/08

Abstract: 本申请涉及一种功率器件动态导通电阻检测方法、系统、设备、存储介质及程序产品，应用于功率器件动态导通电阻检测系统，功率器件动态导通电阻检测系统包括上位机、控制器、双脉冲测试电路和信号采集器，其中，双脉冲测试电路安装有被测氮化镓功率器件；方法包括：在被测氮化镓功率器件的测试温度满足预设测试条件的情况下，通过控制器向双脉冲测试电路发送多组双脉冲测试信号；通过信号采集器采集被测氮化镓功率器件在多组双脉冲测试信号下的多组电气测试参数；通过上位机基于多组电气测试参数，检测被测氮化镓功率器件的导通电阻。采用本方法提升进行功率器件动态导通电阻检测的检测准确性。

公开(公告)号：CN118688602B

公开(公告)日：2024-12-31

申请号：CN202411174354.8

申请日：2024-08-26

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 陈媛 ,  何亮 ,  施宜军 ,  陈兴欢 ,  赵鹏 ,  蔡宗棋

IPC: G01R31/26

Abstract: 本申请涉及一种半导体器件栅氧退化机理的诊断方法，包括：提供半导体器件，测量获取所述半导体器件在初始状态下的第一动态电容数据及经老化试验后的第二动态电容数据；根据所述第一动态电容数据和所述第二动态电容数据进行分析，得到所述半导体器件的动态电容变化趋势；根据所述动态电容变化趋势分析获取所述半导体器件中栅氧化层的电荷变化情况；根据电荷变化情况诊断所述半导体器件中所述栅氧化层的退化机理。本申请实现了半导体器件中栅氧化层中不同区域退化情况的精确诊断，有助于准确分析栅氧化层中的具体退化位置和缺陷类型。

公开(公告)号：CN118801572A

公开(公告)日：2024-10-18

申请号：CN202410979683.3

申请日：2024-07-22

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 王宏跃 ,  余陆斌 ,  陈媛 ,  施宜军 ,  何亮 ,  陈兴欢 ,  陈义强 ,  路国光

IPC: H02J13/00 ,  G06F30/20 ,  G06F113/04 ,  G06F119/08 ,  G06F119/04

Abstract: 本申请涉及一种上述功率模块的监测方法、装置、低压配电网和计算机设备，涉及智能电网技术领域，本申请通过获取低压配电网中各功率模块的配置信息和运行状态参数，运行状态参数包括温度参数、湿度参数和电流参数，首先根据各功率模块的配置信息确定各功率模块对应的加速寿命模型，之后即可根据各功率模块的温度参数、湿度参数和电流参数以及对应的加速寿命模型确定各功率模块的寿命预测值，从而实现对低压配电网中各功率模块的寿命的预测，有利于对各功率模块进行可靠性检测及运行管理。