公开(公告)号：CN114994483A

公开(公告)日：2022-09-02

申请号：CN202210379063.7

申请日：2022-04-12

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 何玉娟 ,  雷志锋 ,  张战刚 ,  彭超 ,  肖庆中 ,  黄云 ,  谭旭

IPC: G01R31/26

Abstract: 本申请涉及一种半导体器件总剂量辐射试验装置与方法，包括与控制模块连接的真空试验箱、辐射应力模块与温度应力模块，被试验器件设置于真空试验箱；控制模块根据被试验器件的器件类型获取被试验器件所需的预设总剂量辐射应力与预设温度应力，并根据预设总剂量辐射应力输出辐射试验指令至辐射应力模块，根据预设温度应力输出温度试验指令至温度应力模块；辐射应力模块根据辐射试验指令对被试验器件进行总剂量辐射试验；温度应力模块根据温度试验指令对被试验器件进行高低温试验，为复杂辐射环境下的半导体器件提供更准确的地面模拟评估试验环境，避免过高估计其在复杂辐射环境下的寿命而导致使用时提前进入磨损期，发生性能参数异常与失效。

公开(公告)号：CN118688596A

公开(公告)日：2024-09-24

申请号：CN202410535002.4

申请日：2024-04-30

Applicant: 南方电网科学研究院有限责任公司 ,  中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 杨柳 ,  马腾 ,  周月宾 ,  袁智勇 ,  张鸿 ,  雷志锋 ,  张战刚 ,  彭超 ,  何玉娟 ,  谭旭

IPC: G01R31/26

Abstract: 本公开提供了一种功率器件的次级粒子辐照分析方法、装置、设备及介质，涉及半导体器件辐射效应技术领域，包括获取待分析功率器件对应的第一特性参数以及入射中子对应的第二特性参数；根据所述第一特性参数和预设的蒙特卡罗模拟平台，构建所述功率器件对应的功率器件仿真模型；根据所述第二特性参数、所述功率器件仿真模型和所述蒙特卡罗模拟平台，模拟所述入射中子辐照所述功率器件的全生命周期，得到所述入射中子辐照所述功率器件产生的次级粒子的辐照数据。本公开不需要粒子探测器以实验的方式探测次级粒子特征，降低了探测难度，提高了探测效率，不需要特定的粒子探测器，降低了成本。

公开(公告)号：CN114354656B

公开(公告)日：2023-12-12

申请号：CN202111486993.4

申请日：2021-12-07

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 李键坷 ,  雷志锋 ,  张战刚 ,  何玉娟 ,  彭超 ,  黄云 ,  路国光 ,  谭旭

IPC: G01N23/00

Abstract: 本发明公开了一种系统级样品试验系统，屏蔽体用于屏蔽辐射，屏蔽体内设有试验空间，屏蔽体包括用于开启或关闭试验空间的屏蔽门体，样品位移台可移动设置，使样品位移台能够进入或离开试验空间，样品位移台包括基座、样品台及调整机构，调整机构用于调整样品台相对基座的高度。可将样品位移台置于屏蔽体外，并将样品置于样品台上固定，利用调整机构预调整样品台上样品的高度，随后可将样品位移台移动至试验空间内，样品位移台移动至试验空间内后不再调整或只需进行细微调整样品的位置，可减少操作人员及样品位移台在试验空间内的停留时间，能够减少辐射试验对人体及样品位移台的伤害，具有更好的安全性。

公开(公告)号：CN114355076A

公开(公告)日：2022-04-15

申请号：CN202111488778.8

申请日：2021-12-07

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 李键坷 ,  雷志锋 ,  张战刚 ,  何玉娟 ,  彭超 ,  黄云 ,  路国光 ,  谭旭

IPC: G01R31/00 ,  G01R1/04 ,  G01R1/18

Abstract: 本发明公开了一种板级样品试验系统及试验方法，屏蔽体用于屏蔽辐射，屏蔽体内设有试验空间，屏蔽体包括用于开启或关闭试验空间的屏蔽门体，样品放置台包括基座及样品夹具，样品夹具用于固定样品，样品夹具与基座可拆卸连接，基座设于试验空间内，基座能够带动样品夹具分别沿第一方向、第二方向移动，第一方向及第二方向呈夹角设置。可在屏蔽体外将样品固定于样品夹具上，随后将样品夹具送入试验空间内，在基座上沿第一方向或第二方向对样品的位置进行调整，操作人员可撤出试验空间外，对样品进行辐射试验，可减少操作人员在试验空间内的停留时间，能够减少辐射试验对人体的伤害，具有更好的安全性。

公开(公告)号：CN114354656A

公开(公告)日：2022-04-15

申请号：CN202111486993.4

申请日：2021-12-07

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 李键坷 ,  雷志锋 ,  张战刚 ,  何玉娟 ,  彭超 ,  黄云 ,  路国光 ,  谭旭

IPC: G01N23/00

Abstract: 本发明公开了一种系统级样品试验系统及试验方法，屏蔽体用于屏蔽辐射，屏蔽体内设有试验空间，屏蔽体包括用于开启或关闭试验空间的屏蔽门体，样品位移台可移动设置，使样品位移台能够进入或离开试验空间，样品位移台包括基座、样品台及调整机构，调整机构用于调整样品台相对基座的高度。可将样品位移台置于屏蔽体外，并将样品置于样品台上固定，利用调整机构预调整样品台上样品的高度，随后可将样品位移台移动至试验空间内，样品位移台移动至试验空间内后不再调整或只需进行细微调整样品的位置，可减少操作人员及样品位移台在试验空间内的停留时间，能够减少辐射试验对人体及样品位移台的伤害，具有更好的安全性。