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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113319292B
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN202110592195.3
申请日：2021-05-28
Applicant: 中国工程物理研究院电子工程研究所
Abstract: 本发明公开了基于激光选区熔化成形的钽钨合金制备工艺及钽钨合金，包括成形工艺，所述成形工艺采用激光选区熔化成形获得钽钨合金构件，其中，对激光选区熔化成形的参数进行优化处理，获得不同结构如内填充、结构体、网格支撑、上表面、下表面试验件的最优成形参数。本发明通过合理设计激光成形参数，不仅能够成形获得无层间结合不良、气孔、裂纹等缺陷的钽钨合金构件，且基于增材制造TaW合金比采用传统粉末冶金的TaW合金材料效费比更高，加工成本更低，效率更高。
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公开(公告)号：CN113319292A
公开(公告)日：2021-08-31
申请号：CN202110592195.3
申请日：2021-05-28
Applicant: 中国工程物理研究院电子工程研究所
Abstract: 本发明公开了基于激光选区熔化成形的钽钨合金制备工艺及钽钨合金，包括成形工艺，所述成形工艺采用激光选区熔化成形获得钽钨合金构件，其中，对激光选区熔化成形的参数进行优化处理，获得不同结构如内填充、结构体、网格支撑、上表面、下表面试验件的最优成形参数。本发明通过合理设计激光成形参数，不仅能够成形获得无层间结合不良、气孔、裂纹等缺陷的钽钨合金构件，且基于增材制造TaW合金比采用传统粉末冶金的TaW合金材料效费比更高，加工成本更低，效率更高。
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公开(公告)号：CN112345797A
公开(公告)日：2021-02-09
申请号：CN202011215368.1
申请日：2020-11-04
Applicant: 中国工程物理研究院电子工程研究所
IPC: G01P21/00
Abstract: 本发明公开了一种MEMS加速度计敏感结构辐射效应在线测试装置及方法，包括测试电脑、电压信号检测装置、直流电源、PCB板、屏蔽体和辐射源，其中，PCB板上设置有MEMS加速度计，MEMS加速度计包括检测电路和敏感结构，通过检测电路对敏感结构进行检测，并经电压信号检测装置发送给测试电脑，以确定MEMS加速度计是否受辐射影响以及影响程度。
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公开(公告)号：CN111554426B
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202010419641.6
申请日：2020-05-18
Applicant: 中国工程物理研究院电子工程研究所
Abstract: 本发明公开了一种硬X射线和光电子屏蔽复合材料，包括X射线屏蔽层和光电子屏蔽层，所述X射线屏蔽层的双面或单面设置光电子屏蔽层，所述X射线屏蔽层采用高Z材料制成，所述光电子屏蔽层采用低Z材料制成。本发明采用高Z材料和低Z材料组成的层叠型功能复合材料，不仅能够有效屏蔽X射线，又能对光电子进行有效屏蔽，减少光电子对电子设备的影响，解决了现有硬X射线屏蔽的屏蔽性能较差的问题。
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公开(公告)号：CN111554426A
公开(公告)日：2020-08-18
申请号：CN202010419641.6
申请日：2020-05-18
Applicant: 中国工程物理研究院电子工程研究所
Abstract: 本发明公开了一种硬X射线和光电子屏蔽复合材料，包括X射线屏蔽层和光电子屏蔽层，所述X射线屏蔽层的双面或单面设置光电子屏蔽层，所述X射线屏蔽层采用高Z材料制成，所述光电子屏蔽层采用低Z材料制成。本发明采用高Z材料和低Z材料组成的层叠型功能复合材料，不仅能够有效屏蔽X射线，又能对光电子进行有效屏蔽，减少光电子对电子设备的影响，解决了现有硬X射线屏蔽的屏蔽性能较差的问题。
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