一种光纤环式残余应力测试系统及残余应力测试方法

    公开(公告)号:CN110940445A

    公开(公告)日:2020-03-31

    申请号:CN201911294201.6

    申请日:2019-12-16

    Abstract: 本发明公开了一种光纤环式残余应力测试系统,包括若干光纤传感器、传输光纤、解调装置及数据处理装置;若干光纤传感器通过传输光纤串联并绕制成圆形构成光纤传感器环,光纤传感器环固定于待测材料表面并通过传输光纤接入解调装置,解调装置与数据处理装置电连接;光纤传感器用于测试钻孔前后其所在测点的波长信号,并将测得的波长信号通过传输光纤传输至解调装置,解调装置用于解调并记录光纤传感器环上所有光纤传感器测得的波长信号并输出至数据处理装置,数据处理装置用于对解调装置输出的数据进行数据处理及分析。本发明的系统可有效降低钻孔法测试时应变传感器的安装难度,减少操作带来的误差影响,提高了测试精度。

    基于电容层析成像的高聚物粘结炸药密度分布检测方法

    公开(公告)号:CN110441354A

    公开(公告)日:2019-11-12

    申请号:CN201910745164.X

    申请日:2019-08-13

    Abstract: 本发明公开了一种基于电容层析成像的高聚物粘结炸药密度分布检测方法,利用平行板电容法测得平行板间的电容值,计算得到不同密度下PBX材料的相对介电常数,建立PBX材料密度值与介电常数模型;搭建电容层析成像系统,依次测定待测PBX试件阵列电极对之间的电容值,根据测定的所有电极对之间的电容值以及灵敏度矩阵对PBX材料相对介电常数分布进行三维重构;根据PBX材料相对介电常数-PBX材料密度模型得到PBX试件密度分布,实现PBX试件密度分布的检测;本发明方法能够对PBX试件的密度分布进行定量检测,具有无损、高效、检测范围大/便携的优点,可广泛应用于PBX试件密度分布测定与密度均匀性的检测中。

    一种适用于X射线CT系统的原位微米力学加载装置

    公开(公告)号:CN110220788A

    公开(公告)日:2019-09-10

    申请号:CN201910611033.2

    申请日:2019-07-08

    Abstract: 本发明公开了适用于X射线CT系统的原位微米力学加载装置,包括主体外壳、上压头组件和下压头组件,所述主体外壳由上至下依次包括第一空腔、细长管、第二空腔;所述上压头组件由盛沙筒和第一圆柱杆通过螺钉固定连接,所述盛沙筒由薄壳空心圆柱与底部加强座胶粘组成,用于盛放沙粒,所述第一圆柱杆与被压样品直接接触;所述下压头组件由圆盘底座和第二圆柱杆组成,所述第二圆柱杆与圆盘底座中心圆形凹槽配合,并通过胶粘固定,所述下压头组件用于支撑被压样品。该装置可以对被测样品提供约0.245N至4N的单轴压缩载荷。

    用于扫描声学显微镜原位检测的力热同步加载装置

    公开(公告)号:CN104049035A

    公开(公告)日:2014-09-17

    申请号:CN201410315343.7

    申请日:2014-07-03

    Abstract: 本发明公开了一种用于扫描声学显微镜原位检测的力热同步加载装置,它包括底座以及设置在底座上的介质槽(1),其特征在于它还包括力载装置与热载装置,所述力载装置包括固定弯梁(7)、活动弯梁(2)、驱动活动弯梁(2)左右移动的驱动机构,所述固定弯梁(7)固定在底座上,所述活动弯梁(2)与驱动机构连接并能在驱动机构的驱动作用下沿介质槽(1)左右移动,在所述固定弯梁(7)与活动弯梁(2)上分别设有相互对应的夹具头(3);所述热载装置包括均设置在介质槽(1)上的电加热器(10)与半导体制冷器(11)。本发明不仅结构简单,而且成本低廉,还能实现对试件力、热的同步加载,因此适合推广使用。

    透过平行平板的摄影测量方法、系统、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN116642467A

    公开(公告)日:2023-08-25

    申请号:CN202310578092.0

    申请日:2023-05-22

    Abstract: 本发明公开了一种透过平行平板的摄影测量方法、系统、设备及存储介质,该方法包括:视觉传感器、平行平板均架设固定于被测物一侧,平行平板在视觉传感器和被测物之间并靠近视觉传感器;视觉传感器在摄影测量系统标定过程中用于采集标定板图像,在测量过程中用于采集被测物图像;平行平板用于隔离测量系统以及被测物;标定板架设固定于平移台上,使标定板靶面法向量与平移台平移方向平行;平移台用于在标定过程平移标定板,为世界坐标系建立提供一维的尺度;数据处理系统用于完成图像处理以及相应数学运算。本发明采用采用成像光线追踪标定方法对测量系统进行标定,并对该方法的系统误差进行校正,实现了透过平行平板的高精度视觉测量。

    一种适用于X射线CT系统的原位微米力学加载装置

    公开(公告)号:CN110220788B

    公开(公告)日:2022-07-26

    申请号:CN201910611033.2

    申请日:2019-07-08

    Abstract: 本发明公开了适用于X射线CT系统的原位微米力学加载装置,包括主体外壳、上压头组件和下压头组件,所述主体外壳由上至下依次包括第一空腔、细长管、第二空腔;所述上压头组件由盛沙筒和第一圆柱杆通过螺钉固定连接,所述盛沙筒由薄壳空心圆柱与底部加强座胶粘组成,用于盛放沙粒,所述第一圆柱杆与被压样品直接接触;所述下压头组件由圆盘底座和第二圆柱杆组成,所述第二圆柱杆与圆盘底座中心圆形凹槽配合,并通过胶粘固定,所述下压头组件用于支撑被压样品。该装置可以对被测样品提供约0.245N至4N的单轴压缩载荷。

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