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公开(公告)号：CN101063748A
公开(公告)日：2007-10-31
申请号：CN200710051951.1
申请日：2007-04-24
Applicant: 中国地质大学(武汉)
IPC: G02B26/06
Abstract: 本发明涉及一种自适应光学系统的变形镜。一种激光驱动的可变形反射镜，其特征在于：它由感光底层(5)、支撑柱(6)、镜面组成；感光底层(5)由光敏材料砷化镓半导体晶片构成，光敏材料砷化镓半导体晶片的下表面为ZnO层；镜面由聚酯薄膜(7)、铝膜(8)构成，聚酯薄膜(7)的上表面镀有一层铝膜(8)；感光底层(5)的上表面沉淀有栅格状的支撑柱(6)，支撑柱(6)的上端面与镜面的聚酯薄膜下表面相胶粘；镜面的铝膜(8)、感光底层(5)的ZnO层分别由导线与电压源(9)相连。本发明具有形变量大的特点(其最大形变量可以达到0.85μm)。
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公开(公告)号：CN105548281B
公开(公告)日：2018-04-17
申请号：CN201610017512.8
申请日：2016-01-12
Applicant: 中国地质大学(武汉)
IPC: G01N27/20
Abstract: 本发明涉及一种基于趋肤效应电阻过剩噪声的无损检测系统及方法，包括激励信号源、电流馈电点、过剩噪声采样点和过剩噪声测量模块；电流馈电点，分别设置在待测样品和比对样品的测试部位的两端；过剩噪声采样点，设置在测试部分的两个电流馈电点内侧，每个过剩噪声采样点与之同侧的电流馈电点之间间隔预设距离；激励信号源，用于与电流馈电点电连接，分别为待测样品和比对样品提供交流电；过剩噪声测量模块，用于与过剩噪声采样点电连接，分别测量待测样品和比对样品的低频过剩噪声。本发明可获知待测样品的裂纹损伤程度及裂纹统计平均深度情况，且检测时不需进行样品处理，操作快捷、方便；从整体全局实现样品的无损检测，节约时间和成本。
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公开(公告)号：CN102243197A
公开(公告)日：2011-11-16
申请号：CN201110105101.1
申请日：2011-04-25
Applicant: 中国地质大学(武汉)
IPC: G01N27/20
Abstract: 本发明提供一种基于测量趋肤效应作用下样品电阻变化的无损检测方法，采用一定频率、一定强度的交流电作用于待测材料，在趋肤效应作用下，在裂纹等缺陷集中的导体材料表面的电流密度会强制加大，凸显了表面缺陷对样品电阻的影响。实验结果表明完好材料(即无损样品)与疲劳后的材料(即有损样品)在高频时电阻变化比低频时明显得多。因而检测高频时的有损样品的电阻或对应电压，并与无损样品比较，可以高灵敏度的检测样品表面缺陷。该方法可以从整体全局上检测样品的疲劳程度，不需要逐点逐区检测，节约了时间和成本；由于趋肤效应，高频时对材料出现的表面缺陷更敏感，通过改变激发频率还可以获取有损样品表面缺陷深度信息。
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公开(公告)号：CN1837756A
公开(公告)日：2006-09-27
申请号：CN200610018871.1
申请日：2006-04-25
Applicant: 中国地质大学(武汉)
Abstract: 本发明涉及一种干涉法测量目标的装置。一种激光干涉测量装置，它包括激光器、半反镜(2)、光程调整装置、光电探测器(7)、频移分析系统(8)和计算机，其特征在于：光程调整装置包括第一反光镜(12)、第二反光镜(13)、第三反光镜(14)、旋转台(15)，第一反光镜(12)与第二反光镜(13)的反光面相对，第一反光镜(12)的反光面一端位于参考光路(3)的入射线上，第三反光镜(14)的反光面一端位于反射光线(19)的CB段上，第三反光镜(14)的反光面与反射光线(19)的CB段垂直；第一反光镜架、第二反光镜架、第三反光镜架分别与旋转台(15)固定连接。本发明具有结构简单、测量距离远的特点。
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公开(公告)号：CN106092401A
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：CN201610371436.0
申请日：2016-05-30
Applicant: 中国地质大学(武汉)
CPC classification number: G01L5/0047 , G01N27/00 , G01N27/72
Abstract: 本发明涉及一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法及系统，其系统包括恒流信号模块、应力施加模块、电参数检测模块和主控制模块。恒流信号模块提供电流有效值恒定的高频或低频恒流信号；电参数检测模块检测在不同预设应力εi作用下的高频电压值VHi和在任意未知的应力ε'时的高频电压值VH'；应力施加模块在待测样品上施加可调的应力；主控制模块绘制待测样品的高频电压值VHi随应力εi的变化曲线VHi～εi；并在变化曲线VHi～εi中读取高频电压值VH'对应的应力值ε'。本发明实现了对铁磁性导体材料应力的无损检测，检测方便、简单，对外界环境要求比较低，灵敏度较高。适于对钢缆、钢梁、钢轨等钢铁构件的应力及分布测量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102243197B
公开(公告)日：2012-12-19
申请号：CN201110105101.1
申请日：2011-04-25
Applicant: 中国地质大学(武汉)
IPC: G01N27/20
Abstract: 本发明提供一种基于测量趋肤效应作用下样品电阻变化的无损检测方法，采用一定频率、一定强度的交流电作用于待测材料，在趋肤效应作用下，在裂纹等缺陷集中的导体材料表面的电流密度会强制加大，凸显了表面缺陷对样品电阻的影响。实验结果表明完好材料(即无损样品)与疲劳后的材料(即有损样品)在高频时电阻变化比低频时明显得多。因而检测高频时的有损样品的电阻或对应电压，并与无损样品比较，可以高灵敏度的检测样品表面缺陷。该方法可以从整体全局上检测样品的疲劳程度，不需要逐点逐区检测，节约了时间和成本；由于趋肤效应，高频时对材料出现的表面缺陷更敏感，通过改变激发频率还可以获取有损样品表面缺陷深度信息。
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公开(公告)号：CN100410628C
公开(公告)日：2008-08-13
申请号：CN200610018871.1
申请日：2006-04-25
Applicant: 中国地质大学(武汉)
Abstract: 本发明涉及一种干涉法测量目标的装置。一种激光干涉测量装置，它包括激光器、半反镜(2)、光程调整装置、光电探测器(7)、频移分析系统(8)和计算机，其特征在于；光程调整装置包括第一反光镜(12)、第二反光镜(13)、第三反光镜(14)、旋转台(15)，第一反光镜(12)与第二反光镜(13)的反光面相对，第一反光镜(12)的反光面一端位于参考光路(3)的入射线上，第三反光镜(14)的反光面一端位于反射光线(19)的CB段上，第三反光镜(14)的反光面与反射光线(19)的CB段垂直；第一反光镜架、第二反光镜架、第三反光镜架分别与旋转台(15)固定连接。本发明具有结构简单、测量距离远的特点。
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公开(公告)号：CN105891746B
公开(公告)日：2018-01-30
申请号：CN201610227687.1
申请日：2016-04-13
Applicant: 中国地质大学(武汉)
IPC: G01R33/12
Abstract: 本发明涉及一种基于趋肤效应的铁磁导体相对磁导率检测方法及系统，所述方法包括检测半径为r的圆柱形待测样品上任意相距L的两个检测点之间的低频电阻值R0；根据待测样品上任意两个检测点之间的低频电阻值R0、两个检测点间距L和待测样品半径r计算待测样品的电阻率ρ，检测待测样品上所述两个检测点之间的高频电阻值R；根据待测样品上所述两个检测点之间的低频电阻值R0、高频电阻值R、半径r和电阻率ρ计算待测样品的相对磁导率μr。本发明有效避免了常规方法需要将样品加工成环状、并需要绕制线圈的麻烦，也避免了磁路漏磁等缺陷，简单巧妙，检测结果准确，实现了快捷无损精确测量，具有较好的应用前景。
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公开(公告)号：CN106092401B
公开(公告)日：2018-01-05
申请号：CN201610371436.0
申请日：2016-05-30
Applicant: 中国地质大学(武汉)
Abstract: 本发明涉及一种基于趋肤效应的铁磁质导体材料应力测量方法及系统，其系统包括恒流信号模块、应力施加模块、电参数检测模块和主控制模块。恒流信号模块提供电流有效值恒定的高频或低频恒流信号；电参数检测模块检测在不同预设应力εi作用下的高频电压值VHi和在任意未知的应力ε'时的高频电压值VH'；应力施加模块在待测样品上施加可调的应力；主控制模块绘制待测样品的高频电压值VHi随应力εi的变化曲线VHi～εi,并在变化曲线VHi～εi中读取高频电压值VH'对应的应力值ε'。本发明实现了对铁磁性导体材料应力的无损检测，检测方便、简单，对外界环境要求比较低，灵敏度较高。适于对钢缆、钢梁、钢轨等钢铁构件的应力及分布测量。
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公开(公告)号：CN105891746A
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201610227687.1
申请日：2016-04-13
Applicant: 中国地质大学(武汉)
IPC: G01R33/12
CPC classification number: G01R33/1223
Abstract: 本发明涉及一种基于趋肤效应的铁磁导体相对磁导率检测方法及系统，所述方法包括检测半径为r的圆柱形待测样品上任意相距L的两个检测点之间的低频电阻值R0；根据待测样品上任意两个检测点之间的低频电阻值R0、两个检测点间距L和待测样品半径r计算待测样品的电阻率ρ，检测待测样品上所述两个检测点之间的高频电阻值R；根据待测样品上所述两个检测点之间的低频电阻值R0、高频电阻值R、半径r和电阻率ρ计算待测样品的相对磁导率μr。本发明有效避免了常规方法需要将样品加工成环状、并需要绕制线圈的麻烦，也避免了磁路漏磁等缺陷，简单巧妙，检测结果准确，实现了快捷无损精确测量，具有较好的应用前景。
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