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公开(公告)号：CN101655390B
公开(公告)日：2011-07-20
申请号：CN200910023815.0
申请日：2009-09-07
Applicant: 中国兵器工业第二〇五研究所
Abstract: 本发明公开了一种激光绝对辐射传递标准装置，包括传递标准器和灵敏度线性测量装置。主要技术特点是，传递标准器增加了取样斩波器组件，被测连续激光经过取样斩波器组件后转换为脉冲波，由此大大减小了光电探测器光敏面上的热效应和饱和效应，将现有技术中的激光功率的1mW最大测量值提高到100mW；灵敏度线性测量装置增加了时序斩波器组件，由此可以对本发明中传递标准器的灵敏度线性进行标定。本发明的突出优点是，量值传递精度高，可保证对0.5mW～100mW的激光功率进行精确测量，激光功率测量或灵敏度线性标定所用的时间少。
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公开(公告)号：CN101672628B
公开(公告)日：2011-05-25
申请号：CN200910024274.3
申请日：2009-10-12
Applicant: 中国兵器工业第二〇五研究所
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种非球面光学元件面形检测装置。该装置在现有干涉法面形检测装置的基础上，通过增设两个可控光阑实现了对检测光波和参考光波的光强测量，通过增设压电陶瓷实现了对相移干涉条纹的采集；非球面面形测量软件包通过计算待检非球面光学元件的待测面形与标准球面之间的相位偏差以及待检非球面光学元件的理想面形与标准球面之间的相位偏差，可方便地获得待检非球面光学元件的面形与其理想面形间的相位偏差。因此，本发明可以有效地解决大偏离量非球面光学元件面形的检测问题，不需要实际加工计算全息图，可降低检测成本、缩短检测周期，并提高了检测精度。
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公开(公告)号：CN101650163B
公开(公告)日：2011-03-16
申请号：CN200910023813.1
申请日：2009-09-07
Applicant: 中国兵器工业第二〇五研究所
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明公开了一种数字干涉条纹分析方法及光学元件面形检测装置。其主要技术特点是，首先给原始的数字干涉条纹图像乘以窗函数，以扩展干涉条纹图像频谱的主瓣宽度并抑制其频谱的旁瓣；然后，再对数字干涉条纹图像进行傅里叶分析，其间采用质点组质心坐标计算法对数字干涉条纹的空间载频进行估计，并用于数字干涉条纹图像的移频，从而有效地抑制了栅栏效应给测量带来的误差。此外，基于本发明数字干涉条纹分析方法构建的光学元件面形检测装置能够对空间载频不是频率采样间隔整数倍时的干涉条纹进行高精度分析，而且检测装置结构组成简单，测量实时性好。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101650163A
公开(公告)日：2010-02-17
申请号：CN200910023813.1
申请日：2009-09-07
Applicant: 中国兵器工业第二〇五研究所
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明公开了一种数字干涉条纹分析方法及光学元件面形检测装置。其主要技术特点是，首先给原始的数字干涉条纹图像乘以窗函数，以扩展干涉条纹图像频谱的主瓣宽度并抑制其频谱的旁瓣；然后，再对数字干涉条纹图像进行傅里叶分析，其间采用质点组质心坐标计算法对数字干涉条纹的空间载频进行估计，并用于数字干涉条纹图像的移频，从而有效地抑制了栅栏效应给测量带来的误差。此外，基于本发明数字干涉条纹分析方法构建的光学元件面形检测装置能够对空间载频不是频率采样间隔整数倍时的干涉条纹进行高精度分析，而且检测装置结构组成简单，测量实时性好。
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公开(公告)号：CN102213615B
公开(公告)日：2013-05-08
申请号：CN201110081491.3
申请日：2011-04-01
Applicant: 中国兵器工业第二〇五研究所
Abstract: 本发明公开了一种LED光学参数综合测试装置，属于光学参数测量技术领域。其技术特点是，装有一维移动平台的水平基座一端固定带光纤探头和标准光度探头的弧形夹具，另一端固定由弧线光纤阵和线阵CCD构成的弧形集光器，放置被测LED的旋转装夹台安装在一维移动平台上；光纤探头采集的光信息通过光谱仪转换成光谱带后送入计算机，标准光度探头和线阵CCD的输出通过数据采集单元送入计算机，计算机通过测量软件对测量数据进行相应的处理和运算，最终获得被测LED的发光特性。本发明解决了在一台测量仪器上实现对LED的综合测量问题，具有操作简单、结构紧凑，测量快速、易于实现等特点。
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公开(公告)号：CN102213615A
公开(公告)日：2011-10-12
申请号：CN201110081491.3
申请日：2011-04-01
Applicant: 中国兵器工业第二〇五研究所
Abstract: 本发明公开了一种LED光学参数综合测试装置，属于光学参数测量技术领域。其技术特点是，装有一维移动平台的水平基座一端固定带光纤探头和标准光度探头的弧形夹具，另一端固定由弧线光纤阵和线阵CCD构成的弧形集光器，放置被测LED的旋转装夹台安装在一维移动平台上；光纤探头采集的光信息通过光谱仪转换成光谱带后送入计算机，标准光度探头和线阵CCD的输出通过数据采集单元送入计算机，计算机通过测量软件对测量数据进行相应的处理和运算，最终获得被测LED的发光特性。本发明解决了在一台测量仪器上实现对LED的综合测量问题，具有操作简单、结构紧凑，测量快速、易于实现等特点。
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公开(公告)号：CN101672628A
公开(公告)日：2010-03-17
申请号：CN200910024274.3
申请日：2009-10-12
Applicant: 中国兵器工业第二〇五研究所
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种非球面光学元件面形检测装置。该装置在现有干涉法面形检测装置的基础上，通过增设两个可控光阑实现了对检测光波和参考光波的光强测量，通过增设压电陶瓷实现了对相移干涉条纹的采集；非球面面形测量软件包通过计算待检非球面光学元件的待测面形与标准球面之间的相位偏差以及待检非球面光学元件的理想面形与标准球面之间的相位偏差，可方便地获得待检非球面光学元件的面形与其理想面形间的相位偏差。因此，本发明可以有效地解决大偏离量非球面光学元件面形的检测问题，不需要实际加工计算全息图，可降低检测成本、缩短检测周期，并提高了检测精度。
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公开(公告)号：CN101655390A
公开(公告)日：2010-02-24
申请号：CN200910023815.0
申请日：2009-09-07
Applicant: 中国兵器工业第二〇五研究所
Abstract: 本发明公开了一种激光绝对辐射传递标准，包括传递标准器和灵敏度线性测量装置。主要技术特点是，传递标准器增加了取样斩波器组件，被测连续激光经过取样斩波器组件后转换为脉冲波，由此大大减小了光电探测器光敏面上的热效应和饱和效应，将现有技术中的激光功率的1mW最大测量值提高到100mW；灵敏度线性测量装置增加了时序斩波器组件，由此可以对本发明中传递标准器的灵敏度线性进行标定。本发明的突出优点是，量值传递精度高，可保证对0.5mW～100mW的激光功率进行精确测量，激光功率测量或灵敏度线性标定所用的时间少。
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