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公开(公告)号：CN102879095A
公开(公告)日：2013-01-16
申请号：CN201210384170.5
申请日：2012-10-11
Applicant: 中国兵器工业第二〇五研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明公开了一种成像光谱仪光谱响应度测试方法，属于光学计量与测试领域。由于光栅式成像光谱仪集成了光学成像系统和光谱分光系统的特征，因此光栅式成像光谱仪光学系统的成像质量及畸变等对成像光谱仪光谱响应度的影响也至关重要，因此只测试CCD光电探测器的光谱响应度远远不能满足成像光谱仪的测试要求。本发明实现了光栅式成像光谱仪光谱响应度的准确测试。该测试方法解决了目前光栅式成像光谱仪的光谱响应度无法准确测试的难题，填补了光栅式成像光谱仪光谱响应度测量领域的空白，其主要优点是操作简单、易于实现。
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公开(公告)号：CN102384841A
公开(公告)日：2012-03-21
申请号：CN201110285772.0
申请日：2011-09-23
Applicant: 中国兵器工业第二〇五研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种面阵探测器光谱响应度测试方法，属于光学测试与计量领域。该方法在单元探测器光谱响应度测试方法的基础上，对面阵探测器中心像元的光谱响应度进行测试，结合面阵探测器空间均匀性的测量，实现了对面阵探测器在整个光敏面全波段光谱响应度的准确测试。该测试方法解决了目前面阵探测器光谱响应度测量的难题，填补了面阵探测器光谱响应度测量领域的空白，并具有资源共享，节约成本，测量效率高的特点。
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公开(公告)号：CN101915612A
公开(公告)日：2010-12-15
申请号：CN201010248150.6
申请日：2010-08-05
Applicant: 中国兵器工业第二〇五研究所
Abstract: 本发明公开了一种紫外辐射综合测试装置，属于光学测试与计量领域。该装置在现有光谱响应度测试装置的基础上，简化了输入光学系统，增加了积分球和安装在第二移动平台上的紫外辐照度标准灯，并将积分球和电子快门对应集成在装有紫外辐亮度标准灯的第一移动平台和滤光组件上；第一移动平台与装有紫外标准探测器的第三移动平台方向一致，而与第二移动平台垂直；在数据处理系统的控制下，各标准灯或标准探测器以及被测灯或被测探测器分别切入测量光路中，从而实现紫外光谱辐射亮度、光谱辐射照度及光谱响应度的测量与标定。本发明解决了紫外辐射测量中的资源共享、节约成本的问题，而且具有操作简单、测量精度高的特点。
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公开(公告)号：CN102384841B
公开(公告)日：2013-11-13
申请号：CN201110285772.0
申请日：2011-09-23
Applicant: 中国兵器工业第二〇五研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种面阵探测器光谱响应度测试方法，属于光学测试与计量领域。该方法在单元探测器光谱响应度测试方法的基础上，对面阵探测器中心像元的光谱响应度进行测试，结合面阵探测器空间均匀性的测量，实现了对面阵探测器在整个光敏面全波段光谱响应度的准确测试。该测试方法解决了目前面阵探测器光谱响应度测量的难题，填补了面阵探测器光谱响应度测量领域的空白，并具有资源共享，节约成本，测量效率高的特点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102879095B
公开(公告)日：2014-11-05
申请号：CN201210384170.5
申请日：2012-10-11
Applicant: 中国兵器工业第二〇五研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明公开了一种成像光谱仪光谱响应度测试方法，属于光学计量与测试领域。由于光栅式成像光谱仪集成了光学成像系统和光谱分光系统的特征，因此光栅式成像光谱仪光学系统的成像质量及畸变等对成像光谱仪光谱响应度的影响也至关重要，因此只测试CCD光电探测器的光谱响应度远远不能满足成像光谱仪的测试要求。本发明实现了光栅式成像光谱仪光谱响应度的准确测试。该测试方法解决了目前光栅式成像光谱仪的光谱响应度无法准确测试的难题，填补了光栅式成像光谱仪光谱响应度测量领域的空白，其主要优点是操作简单、易于实现。
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公开(公告)号：CN101915612B
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN201010248150.6
申请日：2010-08-05
Applicant: 中国兵器工业第二〇五研究所
Abstract: 本发明公开了一种紫外辐射综合测试装置，属于光学测试与计量领域。该装置在现有光谱响应度测试装置的基础上，简化了输入光学系统，增加了积分球和安装在第二移动平台上的紫外辐照度标准灯，并将积分球和电子快门对应集成在装有紫外辐亮度标准灯的第一移动平台和滤光组件上；第一移动平台与装有紫外标准探测器的第三移动平台方向一致，而与第二移动平台垂直；在数据处理系统的控制下，各标准灯或标准探测器以及被测灯或被测探测器分别切入测量光路中，从而实现紫外光谱辐射亮度、光谱辐射照度及光谱响应度的测量与标定。本发明解决了紫外辐射测量中的资源共享、节约成本的问题，而且具有操作简单、测量精度高的特点。
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公开(公告)号：CN103105286A
公开(公告)日：2013-05-15
申请号：CN201310026239.1
申请日：2013-01-24
Applicant: 中国兵器工业第二〇五研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种成像光电系统光谱响应非均匀性测量方法，属于光学计量测试领域。该方法利用可调谐激光光源、激光稳功率控制器结合积分球形成比较稳定的均匀的激光束，均匀的激光束经过准直透镜准直后由均匀性补偿器对准直的激光束进行均匀性修正，再由带有二维扫描机构的类针孔辐射计对修正后的均匀激光束进行均匀性测量，然后根据被测成像光电系统的像元数通过算法对激光束的均匀性数组进行匀滑处理，得到被测成像光电系统每个像元对应的修正系数，从而实现成像光电系统不同波长处的光谱响应非均匀性测量。该方法解决了目前成像光电系统光谱响应非均匀性的测量难题，具有测量准确度高，应用前景广的特点。
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公开(公告)号：CN102213615B
公开(公告)日：2013-05-08
申请号：CN201110081491.3
申请日：2011-04-01
Applicant: 中国兵器工业第二〇五研究所
Abstract: 本发明公开了一种LED光学参数综合测试装置，属于光学参数测量技术领域。其技术特点是，装有一维移动平台的水平基座一端固定带光纤探头和标准光度探头的弧形夹具，另一端固定由弧线光纤阵和线阵CCD构成的弧形集光器，放置被测LED的旋转装夹台安装在一维移动平台上；光纤探头采集的光信息通过光谱仪转换成光谱带后送入计算机，标准光度探头和线阵CCD的输出通过数据采集单元送入计算机，计算机通过测量软件对测量数据进行相应的处理和运算，最终获得被测LED的发光特性。本发明解决了在一台测量仪器上实现对LED的综合测量问题，具有操作简单、结构紧凑，测量快速、易于实现等特点。
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公开(公告)号：CN102213615A
公开(公告)日：2011-10-12
申请号：CN201110081491.3
申请日：2011-04-01
Applicant: 中国兵器工业第二〇五研究所
Abstract: 本发明公开了一种LED光学参数综合测试装置，属于光学参数测量技术领域。其技术特点是，装有一维移动平台的水平基座一端固定带光纤探头和标准光度探头的弧形夹具，另一端固定由弧线光纤阵和线阵CCD构成的弧形集光器，放置被测LED的旋转装夹台安装在一维移动平台上；光纤探头采集的光信息通过光谱仪转换成光谱带后送入计算机，标准光度探头和线阵CCD的输出通过数据采集单元送入计算机，计算机通过测量软件对测量数据进行相应的处理和运算，最终获得被测LED的发光特性。本发明解决了在一台测量仪器上实现对LED的综合测量问题，具有操作简单、结构紧凑，测量快速、易于实现等特点。
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