一种面向分布式系统的存储测试方法

    公开(公告)号:CN118672852A

    公开(公告)日:2024-09-20

    申请号:CN202410775264.8

    申请日:2024-06-17

    Abstract: 本发明公开了一种面向分布式系统的存储测试方法,涉及分布式系统技术领域,包括S1、监控磁盘I/O活动;S2、测试SSD的实时性能参数;S3、测试存储部件进行监控和命令流参数;S4、测试I/O栈情况和平均服务时间。该面向分布式系统的存储测试方法,能够反映当前分布式系统存储设备在工作负载时的性能,而在具体测试过程中,本发明提出了系统性的测试方案,通过对平均等待时间存储部件监控和命令流;SSD的性能参数;平均服务时间;四种存储系统性能指标,全方位的测试存储系统时延以及时延产生的原因,可以快速判断分布式系统存储高时延的原因,帮助数据中心服务商找到更优的存储机制。

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