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公开(公告)号:CN114004066A
公开(公告)日:2022-02-01
申请号:CN202111198357.1
申请日:2021-10-14
Applicant: 中国人民解放军海军工程大学
IPC: G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 本发明提供一种高分子材料核辐射损伤判断方法、装置、设备及介质。所述方法包括:获取高分子材料的组分、密度和厚度,并根据所述高分子材料的组分、密度和厚度,确定辐射场环境下高分子材料内部的光子能量沉积和中子能量沉积;将所述光子能量沉积和所述中子能量沉积输入至高分子材料辐射损伤模型中,得到高分子材料经辐射后的相对分子量;根据高分子材料经辐射后的相对分子量,判断所述高分子材料在辐射场环境下是否发生辐射损伤。本发明通过高分子材料辐射损伤模型判断高分子材料是否发生辐射损伤,提高了辐射损伤判断的准确性,具有较高的应用价值。
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公开(公告)号:CN114004066B
公开(公告)日:2024-09-03
申请号:CN202111198357.1
申请日:2021-10-14
Applicant: 中国人民解放军海军工程大学
IPC: G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 本发明提供一种高分子材料核辐射损伤判断方法、装置、设备及介质。所述方法包括:获取高分子材料的组分、密度和厚度,并根据所述高分子材料的组分、密度和厚度,确定辐射场环境下高分子材料内部的光子能量沉积和中子能量沉积;将所述光子能量沉积和所述中子能量沉积输入至高分子材料辐射损伤模型中,得到高分子材料经辐射后的相对分子量;根据高分子材料经辐射后的相对分子量,判断所述高分子材料在辐射场环境下是否发生辐射损伤。本发明通过高分子材料辐射损伤模型判断高分子材料是否发生辐射损伤,提高了辐射损伤判断的准确性,具有较高的应用价值。
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公开(公告)号:CN111141762A
公开(公告)日:2020-05-12
申请号:CN201911403952.7
申请日:2019-12-30
Applicant: 中国人民解放军海军工程大学
Abstract: 本发明实施例提供一种表面污染应急辐射探测模拟系统,系统包括上位机、模拟探测器和模拟污染源;模拟污染源,用于对真实环境下的污染源的多种测量状态进行输入模拟;模拟探测器,用于对所述模拟污染源的测量物理量进行采集,并分析处理,且将分析处理结果发送至上位机;上位机,用于存储所述分析处理结果和对所述模拟探测器的编辑控制。本发明实施例能够在实验室模拟污染源以及模拟探测器,达到对放射性材料产生的污染物辐射能力的模拟训练效果。
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公开(公告)号:CN219194340U
公开(公告)日:2023-06-16
申请号:CN202320425176.6
申请日:2023-03-08
Applicant: 中国人民解放军海军工程大学
Abstract: 本实用新型涉及一种三自由度可调节的仪器设备辅助装配装置,包括车架、升降机构、调节机构、水平支架和托板,所述车架下表面设置有多个移动轮,所述升降机构设置在车架上,所述升降机构用于带动调节机构上下移动,所述水平支架设置在调节机构上,所述调节机构用于带动水平支架在水平面上左右移动,所述水平支架能沿着调节机构前后滑动,所述水平支架前端设置有用于放置仪器设备的托板。本实用新型的托板高度、水平前后位置和水平左右位置均可调节,在封闭式壳体内部进行仪器设备安装时可以提供可靠的支持,根据需要提供灵活便捷的位置调整,从而较大提高装配安全性、缩短装配时间、提高装配效率。
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