公开(公告)号：CN117195416A

公开(公告)日：2023-12-08

申请号：CN202310948606.7

申请日：2023-07-27

Applicant: 中国人民解放军海军工程大学

Inventor： 朱敏 ,  卢潇寒 ,  李海燕 ,  伍德金 ,  王盛凹 ,  徐子剑 ,  刘一龙

IPC: G06F30/17 ,  G06F30/20 ,  G06N3/006 ,  G06F119/14

Abstract: 本发明实施例提供了一种基于灰狼算法确定螺栓连接结构布局的方法和装置，该方法包括：基于目标螺栓在平板的分布位置，对所述平板施加的外力，确定目标螺栓的最大受力、最大剪应力及临界弯曲应力，作为待优化受力；基于螺栓的直径和单价的价格表，确定目标螺栓的造价函数；基于待优化受力和造价函数，确定目标螺栓对应的目标函数；基于灰狼算法对目标函数进行最小化优化求解，得到所述目标螺栓的间距和所述目标螺栓的直径。本发明通过灰狼算法，确定构建以目标最大受力、最大剪应力、临界弯曲应力以及目标螺栓的造价函数构成的目标函数的最小优化解，从而优化目标螺栓在平板的布局，有助于提高大型复杂装备中的承力连接结构的安全性与可靠性。

公开(公告)号：CN114004066B

公开(公告)日：2024-09-03

申请号：CN202111198357.1

申请日：2021-10-14

Applicant: 中国人民解放军海军工程大学

Inventor： 吴飞 ,  马敬伟 ,  孙少华 ,  朱敏 ,  黄璜 ,  王浩宇 ,  李木易 ,  伍德金 ,  王艳军

IPC: G06F30/20 ,  G06F119/02

Abstract: 本发明提供一种高分子材料核辐射损伤判断方法、装置、设备及介质。所述方法包括：获取高分子材料的组分、密度和厚度，并根据所述高分子材料的组分、密度和厚度，确定辐射场环境下高分子材料内部的光子能量沉积和中子能量沉积；将所述光子能量沉积和所述中子能量沉积输入至高分子材料辐射损伤模型中，得到高分子材料经辐射后的相对分子量；根据高分子材料经辐射后的相对分子量，判断所述高分子材料在辐射场环境下是否发生辐射损伤。本发明通过高分子材料辐射损伤模型判断高分子材料是否发生辐射损伤，提高了辐射损伤判断的准确性，具有较高的应用价值。

公开(公告)号：CN114021306B

公开(公告)日：2024-10-25

申请号：CN202111200020.X

申请日：2021-10-14

Applicant: 中国人民解放军海军工程大学

Inventor： 李彪 ,  黄桂 ,  朱敏 ,  郑桂凯 ,  徐子剑 ,  刘颂宾 ,  伍德金 ,  田杰 ,  马德胜

IPC: G06F30/20 ,  G16C20/20 ,  G16C60/00 ,  G06F119/02

Abstract: 本发明提供一种金属材料核辐射损伤判断方法、装置、设备及介质。所述方法包括：获取金属材料的组分、密度和厚度，并根据金属材料的组分、密度和厚度，确定辐射场环境下金属材料内部的光子能谱和中子能谱；将所述光子能谱和所述中子能谱输入至金属材料辐射损伤模型中，得到金属材料经辐射后的位错原子密度；根据金属材料经辐射后的位错原子密度，判断所述金属材料在辐射场环境下是否发生辐射损伤。本发明通过金属材料辐射损伤模型判断金属材料是否发生辐射损伤，提高了辐射损伤判断的准确性，具有较高的应用价值。

公开(公告)号：CN114021306A

公开(公告)日：2022-02-08

申请号：CN202111200020.X

申请日：2021-10-14

Applicant: 中国人民解放军海军工程大学

Inventor： 李彪 ,  黄桂 ,  朱敏 ,  郑桂凯 ,  徐子剑 ,  刘颂宾 ,  伍德金 ,  田杰 ,  马德胜

IPC: G06F30/20 ,  G16C20/20 ,  G16C60/00 ,  G06F119/02

Abstract: 本发明提供一种金属材料核辐射损伤判断方法、装置、设备及介质。所述方法包括：获取金属材料的组分、密度和厚度，并根据金属材料的组分、密度和厚度，确定辐射场环境下金属材料内部的光子能谱和中子能谱；将所述光子能谱和所述中子能谱输入至金属材料辐射损伤模型中，得到金属材料经辐射后的位错原子密度；根据金属材料经辐射后的位错原子密度，判断所述金属材料在辐射场环境下是否发生辐射损伤。本发明通过金属材料辐射损伤模型判断金属材料是否发生辐射损伤，提高了辐射损伤判断的准确性，具有较高的应用价值。

公开(公告)号：CN114004066A

公开(公告)日：2022-02-01

申请号：CN202111198357.1

申请日：2021-10-14

Applicant: 中国人民解放军海军工程大学

Inventor： 吴飞 ,  马敬伟 ,  孙少华 ,  朱敏 ,  黄璜 ,  王浩宇 ,  李木易 ,  伍德金 ,  王艳军

IPC: G06F30/20 ,  G06F119/02

Abstract: 本发明提供一种高分子材料核辐射损伤判断方法、装置、设备及介质。所述方法包括：获取高分子材料的组分、密度和厚度，并根据所述高分子材料的组分、密度和厚度，确定辐射场环境下高分子材料内部的光子能量沉积和中子能量沉积；将所述光子能量沉积和所述中子能量沉积输入至高分子材料辐射损伤模型中，得到高分子材料经辐射后的相对分子量；根据高分子材料经辐射后的相对分子量，判断所述高分子材料在辐射场环境下是否发生辐射损伤。本发明通过高分子材料辐射损伤模型判断高分子材料是否发生辐射损伤，提高了辐射损伤判断的准确性，具有较高的应用价值。