锥束CT圆加直线轨迹反投影滤波重建方法

    公开(公告)号:CN106228584B

    公开(公告)日:2019-08-13

    申请号:CN201610572019.2

    申请日:2016-07-20

    Abstract: 本发明涉及一种锥束CT圆加直线轨迹反投影滤波重建方法,针对圆加直线扫描轨迹的成像几何特点,选取M‑lines,通过求解穿过M‑line上重建点的R‑line的端点坐标,确定反投影积分区间,通过Hilbert变换,实现物体重建。本发明能够有效解决单圆轨迹大锥角扫描时锥角效应问题,在圆轨迹扫描的基础上,增加直线扫描轨迹,使其能够满足精确重建条件,获得完整的重建投影数据,能够较好的应用于实际扫描,有效提高大锥角重建图像质量,对于扩展锥束CT扫描应用范围具有重要的实用意义。

    基于OpenCL-To-FPGA的CT图像重建反投影加速方法

    公开(公告)号:CN104142845B

    公开(公告)日:2018-08-17

    申请号:CN201410347123.2

    申请日:2014-07-21

    Abstract: 本发明公开了一种基于OpenCL‑To‑FPGA的CT图像重建反投影加速方法,主要利用FPGA实现了CT图像重建反投影步骤的加速,具体为:在OpenCL编程模型中,构建CPU和FPGA协作的CPU‑FPGA异构计算模式,CPU和FPGA间通过PCI‑E总线进行通信,CPU作为主机端,负责算法中的串行任务以及对FPGA的配置与控制任务;FPGA作为协处理器端,通过加载OpenCL内核程序以实现对反投影计算的并行流水加速。在编程模式中,FPGA执行程序全部采用类C/C++风格的OpenCL语言开发,开发简便,修改灵活,能大大缩短研发周期,减少产品维护和升级的研发成本;另一方面,新方法基于OpenCL框架,代码可以实现跨平台快速移植,适合扩展和应用于多处理器异构平台的协同加速之中。

    一种X射线成像系统中的变电流投影融合方法

    公开(公告)号:CN105205842A

    公开(公告)日:2015-12-30

    申请号:CN201510545646.2

    申请日:2015-08-31

    Abstract: 本发明公开了一种X射线成像系统中的变电流投影融合方法,克服了现有技术中,已有变电流投影融合技术中,人工选择融合阈值的缺陷问题。该发明具体步骤如下:(1)采集成像物体在各投影角度下不同电流的投影数据;(2)构造不同电流投影的灰度值-有效边缘梯度序列;(3)使用动态时间弯曲方法求解最佳融合阈值;(4)计算缩放因子;(5)投影图像融合;(6)CT图像重建。该发明方法能够避免人工选择融合阈值的主观性,有效扩展探测器的动态范围。探测器动态范围得到扩展后,实验对于探测器的成像需求得到降低,从而减少硬件成本。基于融合后投影的CT图像SNR优于传统人工选择固定阈值的融合方法。

    一种基于动态电流的锥束CT环状伪影校正方法

    公开(公告)号:CN105787905B

    公开(公告)日:2019-03-26

    申请号:CN201610176008.2

    申请日:2016-03-24

    Abstract: 本发明公开了一种基于动态电流的锥束CT环状伪影校正方法,克服了现有技术中,重建图像中有环状伪影残留问题。该发明含有以下步骤:步骤1、利用动态电流下探元响应与管电流是否满足线性关系,将探元分为坏点和响应不一致探元两类;步骤2、判断不同管电流下单个探元响应的增量是否为零,对第一类坏点进行检测;步骤3、计算每一个探元的输出响应与管电流的相关系数,利用相关性分析的方法对第二类坏点进行检测;步骤4、计算探元响应和管电流间的线性回归方程,以单个管电流下所有探元响应的均值为基准,计算探元的一致性校正参数矩阵。本发明解决了现有坏点检测方法阈值确定困难的问题,本发明方法对环状伪影校正效果较好,通用性较强。

    一种X射线成像系统中的变电流投影融合方法

    公开(公告)号:CN105205842B

    公开(公告)日:2017-12-15

    申请号:CN201510545646.2

    申请日:2015-08-31

    Abstract: 本发明公开了一种X射线成像系统中的变电流投影融合方法,克服了现有技术中,已有变电流投影融合技术中,人工选择融合阈值的缺陷问题。该发明具体步骤如下:(1)采集成像物体在各投影角度下不同电流的投影数据;(2)构造不同电流投影的灰度值‑有效边缘梯度序列;(3)使用动态时间弯曲方法求解最佳融合阈值;(4)计算缩放因子;(5)投影图像融合;(6)CT图像重建。该发明方法能够避免人工选择融合阈值的主观性,有效扩展探测器的动态范围。探测器动态范围得到扩展后,实验对于探测器的成像需求得到降低,从而减少硬件成本。基于融合后投影的CT图像SNR优于传统人工选择固定阈值的融合方法。

    一种基于图像复原的工业CT几何尺寸测量方法

    公开(公告)号:CN105222730B

    公开(公告)日:2017-10-24

    申请号:CN201510545714.5

    申请日:2015-08-31

    Abstract: 本发明公开了一种基于图像复原的工业CT几何尺寸测量方法,克服了现有技术中,一些工业CT几何尺寸测量方法仍需改进的问题。该发明具体步骤如下:(1)投影数据采集;(2)重建射束硬化校正后的CT图像;(3)计算二维PSF;(4)图像复原;(5)几何尺寸测量。与现有技术相比,本发明基于图像复原的工业CT几何尺寸测量方法具有以下优点:使用该发明方法复原后的CT图像,其模糊退化效应能得到有效抑制,并且能够获得更好的几何尺寸测量精度。

    基于卷积核的锥束CT散射伪影校正方法

    公开(公告)号:CN107202805A

    公开(公告)日:2017-09-26

    申请号:CN201710401166.8

    申请日:2017-05-31

    Abstract: 本发明涉及一种锥束CT散射伪影校正方法,特别是一种基于卷积核的锥束CT散射伪影校正方法,包括:对被测物进行CT扫描,得到投影数据;估算X射线的初始的光子数N0;利用初始光子数N0计算探测器上的光子数分布;计算X射线散射分布;从原始投影数据中扣除散射分布。本技术方案提出了一种新的卷积核,其中最关键的部分是散射核函数的求解,针对同材质均匀物体,分析X射线与物质相互作用的每个过程,并用数学公式加以描述,从而求得整个平面的散射分布。

    一种基于动态电流的锥束CT环状伪影校正方法

    公开(公告)号:CN105787905A

    公开(公告)日:2016-07-20

    申请号:CN201610176008.2

    申请日:2016-03-24

    CPC classification number: G06T5/006 G06T2207/10081

    Abstract: 本发明公开了一种基于动态电流的锥束CT环状伪影校正方法,克服了现有技术中,重建图像中有环状伪影残留问题。该发明含有以下步骤:步骤1、利用动态电流下探元响应与管电流是否满足线性关系,将探元分为坏点和响应不一致探元两类;步骤2、判断不同管电流下单个探元响应的增量是否为零,对第一类坏点进行检测;步骤3、计算每一个探元的输出响应与管电流的相关系数,利用相关性分析的方法对第二类坏点进行检测;步骤4、计算探元响应和管电流间的线性回归方程,以单个管电流下所有探元响应的均值为基准,计算探元的一致性校正参数矩阵。本发明解决了现有坏点检测方法阈值确定困难的问题,本发明方法对环状伪影校正效果较好,通用性较强。

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