基于卷积核的锥束CT散射伪影校正方法

    公开(公告)号:CN107202805A

    公开(公告)日:2017-09-26

    申请号:CN201710401166.8

    申请日:2017-05-31

    Abstract: 本发明涉及一种锥束CT散射伪影校正方法,特别是一种基于卷积核的锥束CT散射伪影校正方法,包括:对被测物进行CT扫描,得到投影数据;估算X射线的初始的光子数N0;利用初始光子数N0计算探测器上的光子数分布;计算X射线散射分布;从原始投影数据中扣除散射分布。本技术方案提出了一种新的卷积核,其中最关键的部分是散射核函数的求解,针对同材质均匀物体,分析X射线与物质相互作用的每个过程,并用数学公式加以描述,从而求得整个平面的散射分布。

    锥束CL几何全参数迭代校正方法

    公开(公告)号:CN107016655A

    公开(公告)日:2017-08-04

    申请号:CN201710201826.8

    申请日:2017-03-30

    Abstract: 本发明公开了一种锥束CL几何全参数迭代校正方法,克服了现有技术中,CL几何校正方法仅校正部分几何参数的缺陷。该发明含有如下步骤:确定CL系统几何参数中对CT几何参数校正方法的敏感参数;将敏感参数作为待求变量,根据CL实际系统与理想系统之间几何误差重新构建包含敏感参数的目标函数;用高斯‑牛顿算法对目标函数进行迭代求解。其中敏感参数为:射线源焦点坐标S(sx,sy,sz)、射线源焦点投影坐标P(px,0,pz)、转轴旋转角η和几何放大比t。本发明提出了一种适合锥束CL的几何标定算法,能求解系统所有的几何参数。仿真实验结果表明,具有收敛速度快、计算精度高。对射线源焦点投影纵坐标,射线源焦点坐标,几何放大比的求解精度均有提高。

    基于卷积核的锥束CT散射伪影校正方法

    公开(公告)号:CN107202805B

    公开(公告)日:2020-05-05

    申请号:CN201710401166.8

    申请日:2017-05-31

    Abstract: 本发明涉及一种锥束CT散射伪影校正方法,特别是一种基于卷积核的锥束CT散射伪影校正方法,包括:对被测物进行CT扫描,得到投影数据;估算X射线的初始的光子数N0;利用初始光子数N0计算探测器上的光子数分布;计算X射线散射分布;从原始投影数据中扣除散射分布。本技术方案提出了一种新的卷积核,其中最关键的部分是散射核函数的求解,针对同材质均匀物体,分析X射线与物质相互作用的每个过程,并用数学公式加以描述,从而求得整个平面的散射分布。

    一种联合定标CT扫描系统无损检测固定夹具

    公开(公告)号:CN207036736U

    公开(公告)日:2018-02-23

    申请号:CN201720924032.X

    申请日:2017-07-27

    Abstract: 本实用新型公开了一种联合定标CT扫描系统无损检测固定夹具,克服了现有技术中,CT扫描系统无损检测样品的固定装置有待改进的问题。该实用新型含有筒形容器、柱型托盘和托盘支柱,筒形容器的底部设有柱型托盘,柱型托盘的底面设有托盘支柱,所述筒形容器底部开有和柱型托盘的外环面相匹配的定位孔,定位孔和柱型托盘的外环面之间通过螺纹连接,筒形容器的外环面上垂直筒形容器底面的方向垂直固定设有视野定位装置。本实用新型在对物体进行成像的过程中物体在机械系统中的稳定性较好。极大提高图像重建质量,为提升无损检测和内部探伤技术克服恶劣环境,提升其实用性带来更进一步的发展。

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