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公开(公告)号:CN112781479A
公开(公告)日:2021-05-11
申请号:CN202110308122.7
申请日:2021-03-23
Applicant: 中交基础设施养护集团有限公司
IPC: G01B7/02
Abstract: 本发明公开了一种自动校准的电阻式直线位移传感器,包括拉杆、保护壳、电压检测模块以及可变电阻模块;电压检测模块与可变电阻模块的电阻片两端以及滑动触头电性连接;工作方法包括电压检测模块同时测量可变电阻模块的电阻片两端电压以及滑动触头至电阻片一端电压,输出电压比为传感器校准系数,实现位移传感器的长期精确测量。本发明通过电阻值对应滑动触头所在位置进而确定被测位移的大小,通过同时测量滑动触头至电阻片一端电压和电阻片两端电压,用两者之比计算传感器校准系数,实时调整校准系数,保证直线位移传感器经过长时间使用后的测量精度,消除环境因素和杂质的影响,延长传感器的使用寿命和稳定性。
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公开(公告)号:CN116449365A
公开(公告)日:2023-07-18
申请号:CN202211456837.8
申请日:2022-11-21
Applicant: 中交基础设施养护集团有限公司
Abstract: 本发明涉及一种基于时序InSAR技术的地铁沿线地表二维形变场的监测方法,所述方法包括:获取覆盖监测范围的SAR影像数据;影像配对连接网优化;影像配准与相干性计算;生成差分干涉图;影像滤波和相位解缠;GCP点的选取;剔除大气相位误差;提取卫星视线方向形变场;联合不同轨道的监测结果解算地表真实二维形变场;基于地铁网缓冲区提取地铁沿线区域形变结果,针对InSAR技术往往只能监测到卫星视线方向地表形变的情况,利用覆盖同一区域的不同卫星、不同轨道的SAR影像开展了基于时序雷达干涉测量技术的城市地表形变监测,使用地铁网生成缓冲区,准确提取出地铁沿线区域的形变,为城市地表形变监测、地质灾害的预警提供数据和理论支撑。
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公开(公告)号:CN116381680A
公开(公告)日:2023-07-04
申请号:CN202211456840.X
申请日:2022-11-21
Applicant: 中交基础设施养护集团有限公司
Abstract: 本发明公开了一种基于时序雷达干涉测量技术的城市地表形变监测方法,方法包括:获取覆盖区域的SAR影像;公共主影像优化选取;影像配准;生成差分干涉图;SAR影像辐射校正;PS点的选择;剔除误差;提取时序形变,本发明针对InSAR技术往往只能针对同一颗卫星接收到的同一地区的影像进行干涉的问题以及所获取卫星影像覆盖时间范围不够长的情况,利用覆盖同一区域的不同卫星、不同时间段的SAR影像开展了基于时序雷达干涉测量技术的城市地表形变监测,建立模型利用矩阵将不同的SAR数据相重叠的时间段内的形变速率进行统一,得到研究区域在单个SAR卫星监测时间段内无法获取的长时间序列形变,提高了InSAR技术的时间分辨率。
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公开(公告)号:CN117633466A
公开(公告)日:2024-03-01
申请号:CN202311649569.6
申请日:2023-12-04
Applicant: 中交基础设施养护集团有限公司
IPC: G06F18/20 , G06F18/213 , G01D21/02 , G06F123/02
Abstract: 本发明提供一种结构局部缺陷诊断和增长率预测方法,涉及结构数字化监测技术领域,包括:在结构面布设监测线,所述监测线包含多个测点;获取所述测点的应变时程数据;根据所述应变时程数据,得到所述测点的高频应变特征值;根据各所述测点的所述高频应变特征值,得到所述监测线的高频应变特征线;监测所述高频应变特征线上各点随时间的变化量。本发明还提供一种结构局部缺陷诊断和增长率预测装置、计算设备及存储介质。采用本发明的结构局部缺陷诊断和增长率预测方法、装置、计算设备及存储介质,能够解决现有技术中在随机荷载作用下结构局部缺陷的监测和诊断精度差、实用性不强的技术问题。
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公开(公告)号:CN214250860U
公开(公告)日:2021-09-21
申请号:CN202120588029.1
申请日:2021-03-23
Applicant: 中交基础设施养护集团有限公司
IPC: G01B7/02
Abstract: 本实用新型公开了一种自动校准的电阻式直线位移传感器,包括拉杆、保护壳、电压检测模块以及可变电阻模块;电压检测模块与可变电阻模块的电阻片两端以及滑动触头电性连接;电压检测模块同时测量可变电阻模块的电阻片两端电压以及滑动触头至电阻片一端电压,输出电压比为传感器校准系数,实现位移传感器的长期精确测量。本实用新型通过电阻值对应滑动触头所在位置进而确定被测位移的大小,通过同时测量滑动触头至电阻片一端电压和电阻片两端电压,用两者之比计算传感器校准系数,实时调整校准系数,保证直线位移传感器经过长时间使用后的测量精度,消除环境因素和杂质的影响,延长传感器的使用寿命和稳定性。
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