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公开(公告)号：CN114947728B
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202210701794.9
申请日：2022-06-21
Applicant: 东北大学秦皇岛分校
IPC: A61B3/10 , A61B3/14 , G06T5/80 , G06T5/70 , G06T7/00 , G06T7/11 , G06T7/136 , G06T7/62 , G06T7/66 , G06T17/00
Abstract: 本发明公开了一种基于SS‑OCT测量系统的全眼三维重建方法，涉及数据仿真领域与生物医学成像技术领域，该SS‑OCT测量系统为非接触式系统，成像深度能够对全眼进行成像，采集速度快；包括阈值化、去噪、删除小面积对象、曲面拟合、法向量求取、折射修正部分；采用主元分析法进行曲面法向量的估计，此种解法对消除数据噪声有很强的鲁棒性；数据进行中心化处理，以减小偏离点的影响，为后续畸变校正的偏转矢量的正确求取奠定基础；采用分层逐层校正，在折射率改变的界面处根据光学折射定律计算光线偏转。本发明在三维立体空间上考虑光线的折射效应的影响，精确还原眼睛的真实形状，实现眼睛的生物医学参数的准确测量。
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公开(公告)号：CN116858104A
公开(公告)日：2023-10-10
申请号：CN202310834225.6
申请日：2023-07-07
Applicant: 东北大学秦皇岛分校
IPC: G01B11/02 , G01B9/02 , G01B9/02055 , G01B9/02015 , G01B9/02004 , G01B3/30
Abstract: 本发明公开了一种基于扫频白光干涉的量块测量装置及测量方法，涉及量块测量技术领域，所述装置包括扫频激光器、第三分光棱镜、第一反射镜、第一分光棱镜、第二反射镜、待测量块、第三反射镜、第二分光棱镜、光电探测器、数据处理端，本发明采用高灵敏度、高稳定性、抗干扰能力强的绝对测量方法，一次测量即可得出量块的长度，测量操作简单，无需与标准量块进行比较，不受标准量块精度的限制，可用于较高等级量块的测量。
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公开(公告)号：CN113175887B
公开(公告)日：2023-03-24
申请号：CN202110536390.4
申请日：2021-05-17
Applicant: 苏州中科行智智能科技有限公司 , 东北大学秦皇岛分校
Abstract: 本发明提供了一种测量薄膜厚度与折射率的装置和方法，属于光学测量领域。本发明装置包括低相干光源、分光组件、反射镜、样品槽、光谱仪和信号处理单元，从低相干光源发出的光进入分光组件，经分光组件将光分为参考光和样品光。参考光照射在反射镜上；样品光垂直于样品槽侧面射入样品槽。经反射镜反射的参考光，以及经样品槽和待测样品反射的样品光反射进入分光组件，并输出进入光谱仪。结合傅里叶变换的频率和相位进行解调，分别测量样品槽空置、放置样品后的光程，对于薄薄膜，还在样品槽倒入折射率已知液体进行光程测量。本发明基于相敏光学相干层析的测量方法，具有纳米级精度、操作简单、可适用于各种状态薄膜的优点。
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公开(公告)号：CN113267142B
公开(公告)日：2022-08-19
申请号：CN202110536383.4
申请日：2021-05-17
Applicant: 东北大学秦皇岛分校 , 苏州中科行智智能科技有限公司
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种表面轮廓成像装置及方法，涉及光学干涉检测技术，低相干光源发出的光束进入耦合器再进入扫描模块，经过扫描模块后的光束进入3D成像模块；3D成像模块中的分光棱镜将光束分成样品光和参考光，参考光进入参考光模块；由样品和参考光模块反射的光束经原路返回至耦合器，返回至耦合器的光束从耦合器的另一端进入光谱仪形成干涉光谱；由计算机处理形成样品表面的3D轮廓分布；2D成像模块采集样品表面2D图像并将信号传至计算机。本发明使用相对较窄的低相干光源，实现大测量范围高分辨率测量及成像，且成本低；2D成像和3D成像结果融合，实现3D结构和2D彩色双模式成像。
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公开(公告)号：CN113483679B
公开(公告)日：2022-07-22
申请号：CN202110762599.2
申请日：2021-07-06
Applicant: 东北大学秦皇岛分校
Abstract: 本发明涉及一种隐形眼镜参数测量装置及方法，包括低相干光源，通过光纤依次连接第一分光元件和准直器，准直器另一侧依次放置第二分光元件、第二透镜、反射镜；第一分光元件的另一个输出端通过光纤与光谱仪连接，光谱仪与计算机电连接；第二分光元件另一个输出端一侧设置有X‑Y振镜，X‑Y振镜另一侧依次设置第一透镜、样品台；低相干光源发出的光进入第一分光元件，从第一分光元件的一端输出的光经准直器变成平行光，第二分光元件将平行光分为参考光和样品光，样品台的表面与样品光垂直。本发明实现了在一台装置上进行隐形眼镜的中心厚度、含水量和曲率半径参数的测量，避免对样品损伤、节省检测时间、减少主观误差。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113483679A
公开(公告)日：2021-10-08
申请号：CN202110762599.2
申请日：2021-07-06
Applicant: 东北大学秦皇岛分校
Abstract: 本发明涉及一种隐形眼镜参数测量装置及方法，包括低相干光源，通过光纤依次连接第一分光元件和准直器，准直器另一侧依次放置第二分光元件、第二透镜、反射镜；第一分光元件的另一个输出端通过光纤与光谱仪连接，光谱仪与计算机电连接；第二分光元件另一个输出端一侧设置有X‑Y振镜，X‑Y振镜另一侧依次设置第一透镜、样品台；低相干光源发出的光进入第一分光元件，从第一分光元件的一端输出的光经准直器变成平行光，第二分光元件将平行光分为参考光和样品光，样品台的表面与样品光垂直。本发明实现了在一台装置上进行隐形眼镜的中心厚度、含水量和曲率半径参数的测量，避免对样品损伤、节省检测时间、减少主观误差。
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公开(公告)号：CN110186873B
公开(公告)日：2021-09-24
申请号：CN201910553244.5
申请日：2019-06-25
Applicant: 东北大学秦皇岛分校
Abstract: 本发明公开了一种磁动式光学相干层析成像的降噪装置，该装置包括顶盖、圆筒和角度调节底座，顶盖的上端面镶嵌有光学平晶，顶盖与圆筒通过内螺纹与外螺纹的配合实现螺纹传动连接；角度调节底座包括面板和底板，面板与底板的一端通过合页结构连接，另一端通过启盖螺钉连接，圆筒固定连接在面板上，拧动启盖螺钉，面板带动圆筒绕合页结构的转轴转动；圆筒内设置有可移动的样品放置台。本发明提供的磁动式光学相干层析成像的降噪装置，结构简单，调节方便，参考光与样品光共用一个光学路径，减小了扫描振镜对样品光与参考光之间光程差的影响，有效抑制磁场调制噪声，在确保高扫描速度条件下，提高了成像质量。
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公开(公告)号：CN113251945A
公开(公告)日：2021-08-13
申请号：CN202110535064.1
申请日：2021-05-17
Applicant: 东北大学秦皇岛分校 , 苏州中科行智智能科技有限公司
Abstract: 本发明提供了一种线轮廓成像装置的解调方法，通过获取被测物品上的干涉光谱并计算幅度谱获取极大值点的横坐标序数，计算干涉光谱的分光谱的相位，进而计算线轮廓分布并进行修正，非卷绕范围较大，抗噪能力较强，容易判断去卷绕是否出错。本发明还提供了一种线轮廓成像装置，能够防止被测物品对成像造成遮挡，使用相对较窄的低相干光源产生线形光，实现毫米数量级的大范围、纳米级的高分辨率测量及成像，实施成本较低。
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公开(公告)号：CN113175887A
公开(公告)日：2021-07-27
申请号：CN202110536390.4
申请日：2021-05-17
Applicant: 苏州中科行智智能科技有限公司 , 东北大学秦皇岛分校
Abstract: 本发明提供了一种测量薄膜厚度与折射率的装置和方法，属于光学测量领域。本发明装置包括低相干光源、分光组件、反射镜、样品槽、光谱仪和信号处理单元，从低相干光源发出的光进入分光组件，经分光组件将光分为参考光和样品光。参考光照射在反射镜上；样品光垂直于样品槽侧面射入样品槽。经反射镜反射的参考光，以及经样品槽和待测样品反射的样品光反射进入分光组件，并输出进入光谱仪。结合傅里叶变换的频率和相位进行解调，分别测量样品槽空置、放置样品后的光程，对于薄薄膜，还在样品槽倒入折射率已知液体进行光程测量。本发明基于相敏光学相干层析的测量方法，具有纳米级精度、操作简单、可适用于各种状态薄膜的优点。
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公开(公告)号：CN108634928B
公开(公告)日：2020-08-11
申请号：CN201810367783.5
申请日：2018-04-23
Applicant: 东北大学秦皇岛分校
Abstract: 本发明公开了一种角膜测量方法及系统，所述方法包括：首先，采用光学相干层析法测量获得角膜前表面到后表面的光程L0；移动聚焦透镜，当探测光的焦点位于角膜前后表面时，信号强度为极大值，获得当探测光的焦点位于角膜前后表面时，聚焦透镜所处的对应的两个位置的间距L1；其次，利用光线追迹技术获得角膜的折射率和角膜厚度。本发明实现了非接触的在体角膜折射率及角膜厚度的准确测量，可以作为人眼进行屈光手术的参考，为眼睛参数计算提供可靠依据，从而使得人眼在术后获得更为理想的屈光效果。
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